苏铁与蓝细菌的共生

蓝细菌能与不同进化阶段的植物代表种共生，苏铁是能与蓝细菌共生的唯一的裸子植物。本文从蓝细菌与苏铁超显微结构、共生蓝细菌的多态性、蓝细菌对苏铁珊瑚状根的侵染和研究展望等几个方面阐述了苏铁与蓝细菌的共生关系，认为从分子水平上揭示蓝细菌与苏铁形成共生固氮体系的系统性和共生双方的遗传多样性，不仅具有重要的意义，而且也具有广阔的应用前景。     

42CrMo钢激光冲击诱导残余应力的数值模拟

42Cr Mo钢具有较高的强度和韧性,被广泛应用于装备制造行业。本文以42Cr Mo钢为研究对象,在理论分析的基础上,运用ABAQUS数值模拟的方法,探讨了在相同激光能量(4J)和脉冲宽度(8ns)情况下,不同光斑直径(1mm、2mm、3mm、4mm)对激光冲击强化后残余应力分布的影响。结果表明:光斑直径越小,激光诱导冲击波的峰值压力越大,塑性强化层深度越深,表面的最大Von Mises应力值越大;光斑直径过大或者激光诱导冲击波的峰值压力过大,均会影响残余应力的分布;本文的数值模拟条件下,2mm直径的光斑,激光冲击效果最好,与理论分析结果一致。     

共振条件下的二阶多点边值问题解的存在性和多解性

在共振条件m∑k=1a_k=1下,运用紧向量场方程的解集连通理论对二阶多点边值问题u″(t)=f(t,u(t))+e(t),t∈[0,1],u'(0)=0,u(1)=m∑k=1a_ku(η_k)建立了解的存在性和多解性结果。其中,f:[0,1]×R→R连续,e∈C([0,1],R),0η_1η_2…η_m1,a_k0(k=1,2,…,m)。     

负偏压对电弧离子镀CrAlN涂层组织和性能的影响

采用电弧离子镀技术在高速钢基底上沉积CrAlN涂层.对CrAlN涂层的表面形貌、微观组织、显微硬度、结合强度、摩擦学性能进行了分析,研究了负偏压对CrAlN涂层组织和性能的影响.结果表明:在一定范围内随着负偏压的增加,涂层表面大颗粒数量逐渐减少,涂层变得更加致密;但过大的负偏压导致离子轰击作用过强,使涂层表面再次出现缺陷.当负偏压为 -200V时,涂层的晶粒尺寸最小,并具有良好的结晶度.涂层的显微硬度和结合强度均随负偏压的增加呈现出先增加后减小的趋势. 当负偏压为 -200V时,显微硬度达到最大值,为28.6GPa,同时具有最好的摩擦学性能.     

同伴互评在团队任务型大学英语口语教学中的实证研究

同伴互评是二语习得领域的一个重要理论,它是建立在社会建构主义理论基础上的一种学习活动。本文主要对同伴互评在团队任务型英语口语教学中的可行性和有效性进行研究。研究结果表明:同伴互评能够有效提高学生互评的能力,改进英语口语教学策略,提高学生的自主学习能力,从而进一步提高学生的口语表达能力。     

基于BFGS的中俄茶叶进出口量数学预测模型

基于BFGS算法,建立了中国茶叶出口量与俄罗斯茶叶进口量之间关系的数学预测模型,将模型预测数据与真实数据进行对比,发现该算法收敛速度快、稳定性强,预测结果准确.     

基于ANSYS与灰关联度理论的转子系统启动时稳定性分析

转子系统启动时的稳定性对设备的寿命和精度有着重要影响。针对现有研究方法求解过程复杂、结果不准确,采用ANSYS软件综合考虑陀螺效应分析了支撑刚度、支撑阻尼和启动时间对转子系统启动时稳定性的影响;并在数据有限的情况下,利用灰关联度分析方法对三者影响程度进行了研究。结果表明,在考虑陀螺效应影响下,随着支撑刚度、支撑阻尼和启动时间的增加,转子系统启动时的稳定性越来越好;三者的灰关联度系数均大于0.5,且数值相差不大,对转子系统的影响程度相当。     

电磁跟踪系统磁传感器三轴非理想正交的快速校正算法

六自由度电磁跟踪系统由于磁传感器三轴非理想正交,系统引入误差导致参数定位精度降低。为了克服传统的基于共轭次梯度算法和神经网络模型校正方法存在的算法复杂、计算耗时较长、精度较低的缺点,提出了以误差校正矩阵〖WTHX〗P〖WTBX〗为基础的快速校正算法,同时实现了非正交参数的提取和系统误差的校正。通过系统特定参数的跟踪模型,构造了包含非正交参数的线性方程组,求解出误差校正矩阵。数值模拟结果表明,该方法具有算法简单、计算量小、快速准确的优点,可以有效校正电磁跟踪系统由于磁传感器三轴非理想正交而引入的参数误差,提高了系统定位精度。     

六自由度电磁跟踪系统位置参数求解算法的改进

为了获得精度较高、稳定性较好的六自由度电磁跟踪系统目标参数求解算法,在分析原参数求解算法误差产生原理的基础上,引入特征值和特征向量的概念,提出了一种结合特征向量法和单位指向矢最大分量跟踪法的改进算法来求解目标的位置参数,并对改进算法的稳定性进行了分析。通过数值模拟和实验验证,算法很好地解决了原跟踪算法在位置参数α、β角度较小区域将误差放大的问题,提高了算法的稳定性和系统定位计算的精度。