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电子工业中八氟丙烷(C3F8)的存在会影响六氟化硫(SF6)气体的灭弧和绝缘性能，需要对C3F8进行分离，而目前深冷分离法无法将低浓度C3F8除尽，运用吸附分离法进行C3F8吸附的研究报道也还较少。文中采用已经商用的13X分子筛对低浓度C3F8进行吸附，模拟工业上的固定床吸附实验，测量电气行业中的C3F8在13X分子筛上的动态吸附性能，并研究了商用13X分子筛对低浓度C3F8(ppm级)的吸附透过曲线随进气流量、进气C3F8质量浓度和吸附温度的变化规律，分析各因素的影响程度。绘制C3F8吸附透过曲线，通过吸附透过曲线进行吸附平衡模型预测和动力学模型的拟合，分析了13X分子筛对... 相似文献