奥氏体不锈钢254SMo的焊接

254SMo是Avesta公司研制的一种新型高含金纯奥氏体不锈钢，因其在酸性有腐蚀的介质和含Cl离子中具有优良的耐晶间腐蚀性能，同时具有优良的抗点蚀；缝隙腐蚀和应力腐蚀开裂的性能。在生产可发性聚苯乙烯工厂中，应用于脱盐水的生成（含Cl离子）及膨胀罐、空压罐等压力容器中。     

基于频陷理论的地震谱反演技术分析

我国陆相盆地广泛发育薄层砂体,但受地震分辨率限制,从地震剖面上难以直接识别薄层反射特征,为寻找岩性圈闭带来困难。谱反演技术的出现,为薄层砂体识别方法带来新的方向。该技术避开调谐振幅进行薄层识别的方法,采用在频率域中分析薄层频谱中出现的频陷特征,并且把地震信号分解为奇偶分量,进一步提高薄层的识别能力。通过模型分析,发现薄层厚度越小,对应信号频谱中频陷周期越大。地震信号奇偶分解后,其中偶分量能够提高地震资料的视分辨率。通过对谱反演目标函数的剖析,给出了具体实现过程。     

混合灰色预测模型HGM(1,1)

研究了现有的传统GM(1,1)(简称GM(1,1))、基于缓冲算子和时间响应函数优化的GM(1,1)、首输入GM(1,1)(简称FGM(1,1))、变权缓冲GM(1,1)(简称VWGM),针对它们存在的问题,提出了一种新的预测模型——混合GM(1,1)(Hybrid GM(1,1),简称HGM(1,1)).该模型引入了...     

水色遥感理论模型探讨

由于目前技术条件的限制 ,黑箱模型在水体组份反演的研究中占据了主导地位 ,但其理论基础不足 ,针对具体成像条件推得的黑箱模型难以推广 ,故需从水色遥感成像机理出发来研究理论模型的识别和求解。意识到辐射传输方程难以实用 ,提出基于辐射传输方程求解结论的水色遥感理论模型架构。并讨论了模型的若干影响因素。特别指出 ,应该使用传感器灵敏度积分的方法来关联传感器接收到的辐射率和灰度值数据 ,而不是简单地使用传感器在波段中心波长处接收的辐射率。     

砷污染土壤对人体健康的风险评估应用

采用体外模拟法检测污染点和对照点土壤As对人体生物有效性,通过计算其生物有效量对污染土壤的手-口无意接触途径进行健康风险评价.结果表明,多处采样点土壤的As污染程度相当严重,对儿童健康的绝对风险系数Ka值和相对风险系数Kr值分别是2.6～19.0,1.9～16.4,明显超过世界卫生组织人体健康风险警戒线,个别点甚至达到或超过了成人标准的警戒线,其他样点也接近了警戒线.研究区域的As污染土壤对区域内的人群,特别是儿童构成了严重的人体健康风险,需要采取有效措施进行环境整治.     

土压平衡盾构土仓压力对地表沉降的影响

以广州地铁4号线盾构施工为工程背景,采用三维数值分析方法和现场测试等手段,对土压平衡盾构土仓压力变化引起的地表沉降变形规律进行了系统研究。结果表明:随着土仓压力的增加,掌子面后方地表沉降在减小,而掌子面前方地表隆起却不断增加,隆起一般出现在掌子面前方10 m范围内;当土仓压力处于超平衡状态时,地表隆起值增大,地表沉降值减小,且沉降减小量远大于隆起增加量;就地表沉降量而言,超土压平衡引起的地表沉降量最小。在满足盾构前方土体不被破坏的前提下,增加土仓压力是减小地表沉降的有效手段。     

无约束最优化的共轭梯度路非单调信赖域算法

提供了无约束最优化问题的共轭梯度路径非单调信赖域算法。进而获得了共轭梯度路的一些重要性质。基于这些性质和一些合理的假设，证明了算法具有整体收敛性和保持局部超线性收敛速率。     

塑性梁受冲击作用时的动力剪切与弯曲效应分析

本文讨论了受非对称集中冲击作用下的两端固定刚塑性梁的动力响应分析。文中给出了当特征长度 l=6M_0/Q_0小于冲击力作用点到梁端距离时,计入剪切滑移时的解只需对塑性弯曲动力响应问题的解略加修正便可得到,并给出了具体论证和数据结果。     

成核剂Na_2CO_3对PET结晶行为的影响

本文对Na_2CO_3在PET中的成核作用及机理、对结晶体结构变化、结晶动力学进行了讨论,比较了不同条件下结晶的PET晶体结构的差异。Na_2CO_3使PET结晶完善性,结晶度,晶体有序度增大,结晶速度加快,晶核尺寸变小,其成核作用是以化学反应机理进行的,成核中心是COO~-Na~+。     

基于潜供电流计算的输电线路单相永久性故障判断方法

自适应重合闸是保证电力系统安全稳定运行的重要措施之一.分析对比了线路发生永久性及瞬时性单相接地故障时故障点潜供电流的不同,研究了利用线路一侧健全相电压和两侧健全相电流及故障测距结果来计算故障点潜供电流的方法.提出了根据潜供电流有无来识别永久性故障和瞬时性故障的新型自适应重合闸判据,解决了某些输电线路因电压互感器安装于母线侧而在单相故障后无法获得跳开相端电压,以致不能实现自适应重合闸的问题.该方法运算简单,准确可靠,判据不受线路参数误差和测距误差及过渡电阻的影响.