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吸收电流法确定高分子涂层的耐蚀性能——直流电阻法的改进 总被引:1,自引:1,他引:0
为消除高分子涂层在外电场下的极化效应对实验结果的影响(像在直流电阻法测量中遇到的那样),本文提出使用吸收电流法测量涂层的体电阻率,并用此法计算了介质在涂层中的扩散系数;评价了由不同的固化剂、稀释剂以及不同的制备工艺制得的环氧树脂涂层的耐蚀性能,得到了一些有实用价值的结论:在相同的条件下,对于固化剂,以T_(31)制备的涂层的耐蚀性能最好;对于稀释剂,以活性稀释剂性能最佳;对于制备工艺,多次涂刷较一次浇铸为好;NaCl溶液在涂层中的扩散系数比在纯水中小。 相似文献
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中子诱发中子单粒子效应进而影响电子设备或系统的稳定性和可靠性,本文基于中国散裂中子源BL06测试束线,在20 kW、50 kW、70 kW、80 kW和100 kW束流条件下,对800 nm、500 nm、350 nm和130 nm工艺静态随机存储器开展了不同注量率下白光中子单粒子翻转研究.实验发现:在误差允许范围内,中子注量率为1.34×10~7~6.68×10~7 n/(cm~2·s)时,白光中子诱发的中子单粒子翻转平均位翻转截面无明显变化,即当前注量率范围内,中子单粒子翻转基本不考虑注量率效应. 相似文献
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针对电机故障早期预报和诊断问题,利用电机振动值可表征故障的特性,通过借助位移、速度和加速度三类传感器实现较宽范围振动频率的采集,并通过以太网模块EIP-341经由Ethemet网络远传上位机系统或符合CIP协议标准的PLC进行在线故障检测.该系统具有远传功能和数据存储功能,把采集数据存储到U盘内部,通过查询和分析历史数据,可更好地分析电机故障特性,有效预防电机故障的发生. 相似文献
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制备了Na_2O含量较高的Na_2O-Al_2O_3-B_2O_3-SiO_2四元系玻璃,测定了它们的电导率及电导率与组分的关系。用NMR和IR谱对该玻璃作了结构基团研究。所制备样品在300℃下的电导率可达10~(-3)Ω~(-1)cm~(-1)以上。当用Al_2O_3代B_2O_3时,样品电导率升高,并对此从结构上作了解释。 相似文献
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研究分散第二相Al2O3的含量及颗粒大小对PEO-NaSCN络合物电导的影响,结果表明:当颗粒度为0.7μm时,电导率比纯PEO-NaSCN提高了一个半数量级。颗粒度较大时,电导率均比纯PEO-NaSCN低,并在wAl2O3=0.25时,存在电导率最大的峰值。 相似文献
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李光远 《华东理工大学学报(自然科学版)》1986,(3)
用电子探针显微分析法,研究了AgI-Ag_4P_2O_7非晶态快离子导体中的银沉积问题。给出了在电子束轰击下银计数率随时间变化曲线。开始时银沉积率随时间而增加较快,然后变得缓慢,最后趋于一个极限值。对于晶化后的样品,由于晶界的阻碍作用,向轰击区迁移的Ag~ 离子减少,离子源枯竭快,银计数率达到极限值比未晶化前快。文中同时给出了电子束轰击区的二次电子像、背射电子像。AgLαX-射线扫描像。在银沉积过程中,发现在电子束轰击区周围伴生有枝叶状的脉纹似的析出物,是由于电子束轰击样品产生温升而导致玻璃中银和银的化合物析晶所致。 相似文献
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李光远 《华东理工大学学报(自然科学版)》1986,(4)
借助电子探针显微分析法,研究了非晶铜快离子导体CuI-Cu_2OP_2O_5-PbI_2系中的铜沉积,给出了铜计数率随时间的变化曲线,开始时铜沉积随着时间而增加,然后增加变得缓慢,最后趋于一极限值。实验发现,非晶铜快离子导体中的铜沉积规律与非晶银快离子导体中的银沉积规律相类似。文中同时给出了铜沉积区的显微成分像,X-射线面扫描像。样品中的铜离子可能以两种形式存在,一是与碘离子相结合,另一是以强的部分共价键与[PO_4]基团相结合,仅有前者对电导有贡献。 相似文献
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李光远 《华东理工大学学报(自然科学版)》1986,(5)
运用电子探针显微分析(EPMA)技术,能有效地研究快离子导体中的金属沉积问题。电子探针是一束聚焦很细的电子束,用以轰击试样,由于探针的电子注入到试样表面,形成负电位,使得快离子试样中的阳离子在电场作用下向电子束注入轰击点迁移、集中,与电子中和后转变为金属原子。当这些析出的原子在传输过程中受到阻碍时,可能在材料表面积累或 相似文献
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在我国节能减排的大环境下,企业的电能耗预测问题一直都备受关注.准确预测电能耗对企业决策有重要的意义.本文以鞍山某矿山公司电能耗历史数据为研究对象,通过Grubbs检验进行数据的离群检测,以剔除某些失真数据,并用主成分分析法对电能耗的影响因素进行降维处理,建立了BP神经网络的电能耗预测模型.利用Matlab对数据分析,给出了该公司未来一年内各月份的电能耗情况. 相似文献