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11.
关于非平稳随机过程的谱分析.至今尚未有统一而完整的方法、对于非平稳随机过程的频域特性还存在许多问题有待进一步认识和讨沦。本文的目的在于对几种定义下的非平稳随机过程谱密度函数的含义和特点作一较为系统的讨论。  相似文献   
12.
本文给出一种自相关函数估值的快速算法,与直接计算的方法相比,该算法的乘法运算次数减少将近一半,而且该算法所依据的数学原理浅显,易于编程,是一种简单而十分有效的算法。  相似文献   
13.
图像采集系统的线性CCD驱动电路设计   总被引:6,自引:1,他引:5  
文章介绍基于高速线性CCD器件的图像采集系统的构成及其应用。通过对CCD图像传感器TCD1209D驱动时序及数模转换芯片AD9224的转换时序的分析,结合图像采集系统硬件功能要求,设计用于图像采集的高速线性CCD驱动电路,并采用单片复杂可编程逻辑器件(CPLD)进行了实现;测试表明驱动时序产生电路满足目标图像采集系统的应用需要。  相似文献   
14.
为解决现有门替换技术应用中存在的时延仿真不精确和关键门选取冗余问题,对时序分析方法进行改进,通过引入电路内部节点信息,准确预测电路NBTI老化.然后,提出了一种门替换技术应用下的关键门识别算法,定义了表征门电路抗NBTI老化能力的度量公式,将其作为电路老化关键门的识别依据,用于提高关键门识别精度和效率.基于45 nm PTM工艺库和ISCAS85基准电路的仿真结果表明,应用改进门替换技术进行电路抗NBTI老化设计得到的电路时延退化改善率平均值为25.11%,较现有方案提高13.24%,而反映硬件开销的平均门替换率仅为5.82%,明显低于现有方案的11.95%.因此,所提方案仅以较低的硬件开销便可获得较好的门替换技术抗老化效果.  相似文献   
15.
通过求解弹性力学中线性板壳弯折的挠度微分方程,对实验观察到的类金刚石碳膜裂纹图形结构进行理论研究,就裂纹图形的形成及扩展给出了机理分析。  相似文献   
16.
由于软错误已经成为影响芯片可靠性的主导原因,文章提出一种容忍软错误的高可靠BIST结构——TMR-CBILBO。通过构建三模冗余的容错扫描链电路结构,在触发器输出端插入表决器,可有效地防护单事件翻转,容忍瞬态故障引发的软错误。以多输入特征寄存器的功能复用为切入点,有效地降低容错设计的面积开销。在UMC 0.18μm工艺下针对ISCAS 89基准电路的实验结果表明,TMR-CBILBO的软错误率下降95.56%~98.21%,面积开销为71.68%~84.21%,性能开销为1.75%~4.39%。  相似文献   
17.
文章设计了一种基于建筑电气监控系统的网络空调控制器,实现对空调设备的实时监控与管理。该网络空调控制器以STC89C58RD+单片机为微控制器,外设有各类执行器和传感器,采用L-N(local-monitoring-net)现场总线技术,以电力线进行底层组网,通过网关模块跨接本地服务器;设计不仅实现了对网络空调运行状态的有效模拟,而且用户可以通过本地或远程终端对控制器进行实时监控与管理,同时,针对属性和功能的重配置性设计丰富了网络空调的使用方式,提高了用户操作体验度。测试结果表明,该网络空调控制器工作稳定可靠,模拟监控与管理实时性强,可应用于智能家居环境下家电设备的网络化监控和管理。  相似文献   
18.
引入扩展的模式游程(x PRL)编码技术,通过无关位的动态传播策略以提高测试数据压缩效率.在此基础上,将系统芯片的多个芯核测试集联合为单一的测试数据流,用x PRL编码技术实施压缩,提出一种可重配置的串行扫描链结构,实现多核测试模式的联合应用.对嵌入6个大的ISCAS’89基准电路的样本系统芯片(SoC)应用建议的联合测试方案.结果表明,与传统芯核测试集独立压缩与应用技术相比,该方案不仅提高了测试数据的压缩性能,而且减少了扫描测试中的冗余移位和捕获周期,从而有效降低了SoC的测试应用时间.  相似文献   
19.
提出了一种低功耗的测试模式生成方法,采用段固定折叠计数器将确定的测试立方集嵌入片上生成的测试模式序列中. 该测试模式生成器需要依赖随机访问扫描体系结构,测试时新的测试模式可直接载入扫描单元而不需要经过扫描移位. 基于ISCAS-89基准电路的实验表明,该文提出的方案可以有效降低测试数据量、测试应用时间和测试功耗.  相似文献   
20.
文章提出了一种应用于DC-DC开关变换器的改进型补偿算法,以提高电路瞬态响应。输出电压能自适应改变锯齿波的相对值,使锯齿波上下平移,从而使占空比可以在0~100%之间迅速变化,基于该原理将改变锯齿波的方法转化为补偿函数的改变,无需改变斜坡震荡器即可实现简化电路结构、降低功耗。Matlab仿真结果表明,该算法能使瞬态响应速度提高近10倍。  相似文献   
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