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991.
青霉菌引起的猕猴桃果实腐烂是猕猴桃果实成熟和采后贮藏中的最主要病害之一,为了研究中华猕猴桃对青霉病抗性的差异,文章以中华猕猴桃中的红阳、翠玉和16A 3个品种为材料,研究了各品种在受到青霉菌侵染后菌斑大小以及抗性相关生理指标的变化,包括丙二醛(MDA)、过氧化物酶(POD)、过氧化氢酶(CAT)、苯丙氨酸解氨酶(PAL)4种酶在青霉菌侵染后不同时期酶活力的变化。结果表明,POD、CAT及PAL的量变化趋势从大到小依次为翠玉、16A、红阳,而MDA的量从小到大依次为翠玉、16A、红阳。综合菌斑大小的变化,该研究表明翠玉对青霉病抗性最大,其次为16A,红阳的抗病性最低。POD、CAT及PAL量的升高可以提高果实对青霉菌的抗病性。该研究结果为深入研究猕猴桃青霉病和提高青霉病抗性的研究提供了理论基础。 相似文献
992.
译名:侏罗纪公园[1-2]片名:Jurassic Park年代:1993国家:美国制片商:环球影片公司(Universal Picture Co.)类别:冒险/动作/剧情色彩:彩色IMDB评分:7.5/10(67,415 votes)片长:126 Min剧情介绍:阿兰·葛兰特与艾丽·塞特勒都是研究上古动植物的科学家,他们将全部精力投入到挖掘恐龙骨骼化石上。 相似文献
993.
在丹麦,乐高公司总部。天空蓝的墙板,玫红色的高背沙发,高低各异的展示柜上摆满了积木拼出的变形金刚、坦克;“嗖”的一声,一个员工顺着铁皮滑梯从二楼冲到一楼,站起来拍拍屁股,若无其事地走向资料室。在诺和诺德公司,喜欢骑自行车上下班的CEO索睿森先生跟秘书及十几个工作人员共用一个开放式的大办公室。在硅谷。 相似文献
994.
995.
996.
谈谈高频电子线路教学 总被引:3,自引:0,他引:3
高频电子线路是一门理论性与实践性都很强的课程,既要求学生做好预习、听课、复习环节,又要求学生理论联系实际,做好实验、课程设计等实战环节.本文主要论述了在高频电子线路教学中的几点体会. 相似文献
997.
采用高温固相法合成了Na5.52Mg1.74(PO4)3∶Re3+(Re=Dy,Tm,Tb或Eu)荧光粉并研究了材料的光谱特性。在近紫外光的激发下,Dy3+掺杂材料存在4F9/2→6 H15/2和4F9/2→6 H13/2跃迁产生的485、578nm 2个发射峰。Tm3+掺杂材料出现了由1 D2→3F4跃迁产生的453nm发射峰。Tb3+掺杂材料存在4个发射峰,峰值为490、547、584、624nm,分别对应Tb3+的5 D4→7F6、5 D4→7F5、5 D4→7F4、5 D4→7F3能级跃迁,其中的547nm发射峰为主发射峰。Eu3+掺杂材料存在2个主发射峰,分别为5 D0→7F1、5 D0→7F2跃迁产生的593、615nm的发射峰。进一步研究了Na5.52Mg1.74(PO4)3∶Eu3+中,Eu3+掺杂浓度对材料发射强度的影响,结果显示,随Eu3+掺杂浓度的增大,材料的发射强度增强,在1%~15%掺杂浓度范围内未出现浓度猝灭效应。 相似文献
998.
为保护野生资源并达到人工栽培目的,以具有生长点的线叶旋覆花嫩茎段为材料,采用试管苗培养的方法,进行了嫩茎段试管苗培养、试管苗生根继代增殖培养,以及试管苗的移栽、微型扦插和定植的研究.结果证明:1/2 MS+ABT2号2.0 mg/L+蔗糖15 mg/L+NAA 0.6 mg/L是具有生长点的嫩茎段试管苗培养和试管苗生根继代增殖培养的适宜培养基.试管苗移栽成活率98.2%,微型扦插成活率91.5%,定植成活率98.7%;定植的试管苗完全保持了野生线叶旋覆花的植物学性状. 相似文献
999.
IntroductionHighperformancepara aramidfiberisakindofhighstrengthhighmodulusfiber,whichismadefromthelyotropicsolutionofPPTA(poly(p phenyleneterephthalamide) )inhighconcentratedH2 SO4 (99%)solventbydry jetwet spinning[1] .Para aramidfiberswerefirstcommeralizedbyAm… 相似文献
1000.
采用Gleeble-1500热/力模拟系统,研究热轧的AZ31镁合金板材在应变速率0.01,0.1,1,5和10 s-1,变形温度473~723 K,预设最大变形量80%条件下的高温塑性变形行为。采用实验得到的真应力-真应变曲线,分析合金流变应力与应变速率、变形温度之间的关系,计算合金高温变形的材料参数和激活能;用Zener-Hollomon参数法建立合金高温变形的本构关系,并比较实测应力与计算得到的应力。研究结果表明:AZ31镁合金高温变形时受应变速率的影响较大,应变速率小于1 s-1时(573~723 K),合金的真应变接近100%,但当应变速率大于5 s-1时,实验温度范围内合金的真应变都小于60%。AZ31镁合金高温变形的流变应力-应变速率-变形温度的关系可用双曲正弦函数描述,激活能随应变速率和变形温度的提高,从110.4 kJ/mol升高到163.2 kJ/mol。实验获得的AZ31镁合金应力-应变本构方程的计算结果与实验结果较吻合。 相似文献