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11.
讨论了用于不同光传输结构光耦的各种内外封装胶的特性,对几种不同的封装胶进行了光谱测试实验,并通过实验数据对胶进行成分分析和特性分析,从而确定它们是否满足光耦设计中对封装胶特性的要求。  相似文献   
12.
用卤素钨灯作辐射热源 ,对超薄 (1 0nm )SiO2 膜进行快速热氮化 (RTN) ,制备了SiOxNy 超薄栅介质膜 ,并制作了Al/n Si/SiOxNy/Al结构电容样品 .研究了不同样品中n型Si到快速热氮化超薄SiO2 膜的电流传输特性及其随氮化时间的变化 .结果表明 :低场时的漏电流很小 ;进入隧穿电场时 ,I E曲线遵循Fowler Nordheim (F N)规律 ;在更高的电场时 ,主要出现两种情形 ,其一是I E曲线一直遵循F N规律直至介质膜发生击穿 ,其二是I E曲线下移 ,偏离F N关系 ,直至介质膜发生击穿 .研究表明 ,I E曲线随氮化时间增加而上移 .文中对这些实验结果进行了解释  相似文献   
13.
通过施加直流电压于P型SiOxNy薄膜,使热电子注入到薄膜而引起薄膜电学参数的改变。测试了薄膜在电子注入前后电学参数的变化,以研究薄膜的电子注入特性,探求薄膜的抗电子注入能力与制备工艺之间的关系。结合俄歇电子能谱和红外光谱分析膜的微机结构,对薄膜的电子注入特性进行了理论分析与讨论。  相似文献   
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