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用于微区阻抗测量的STM探针的制备 总被引：1，自引：0，他引：1
基于扫描隧道显微镜(scanning tunneling microscope, STM)的新型扫描阻抗显微镜(scanning impedance microscope, SIM)可以对绝缘电介质表面的阻抗性质进行测量,但由于传统STM针尖不适用于这种模式,需要制备新型的探针.介绍了利用电化学腐蚀法制备SIM针尖的工艺,研究了制备过程中各种条件的控制对针尖质量的影响.根据实验结果,对切断时间的控制效果提出了与以往经验不同的看法.最后通过实验分析了适用于阻抗性质扫描的针尖特点,认为适用于阻抗扫描的针尖其曲率半径应在100～200 nm之间,且具有小的纵横比和一级新月结构. 相似文献
12.
固体内耗仪测控系统的改进设计 总被引：4，自引：1，他引：3
对传统的固体内耗仪进行了改进.主要通过对测控系统的重新设计,使测量频率范围达到1×10-4～5×102Hz,变频精度达到0.05%;内耗测量精度提高到3×10-5,同时消除了原测量方法所带来的系统误差;实现了主控计算机系统的升级.为扩展内耗的研究范围,以及为固体振动能吸收谱的研究提供了工具. 相似文献