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测量了经18年自然老化后的TGS单晶的微分电滞回线,发现回线的形状与未老化的样品类似,故称其为隐性老化.老化的样品经热处理后,回线峰位,峰高出现显著变化,甚至出现双峰,表现出明显的老化特性,隐性老化被显性化了.老化的原因可归结为环境空气中的水分子吸附在晶片四周表面上,使晶体有些微区水解形成缺陷;以及这些缺陷向晶体内的扩散. 相似文献
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聚对苯二甲酸乙二醇酯的冷冻介电谱 总被引:1,自引:1,他引:0
用冷冻介电谱方法将聚对苯二甲酸乙二醇酯在液氮温度下冷冻下来的驻极体效应的不同微观机构分开,得到1个快极化和3个偶极取向慢极化成份. 相似文献
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铌酸锂单晶的内旋转和电子态 总被引:1,自引:0,他引:1
将铌酸锂单晶在各种温度下出现的结构参数和物性参数异常现象同氧八面体内旋转理论进行了对比,单纯从晶格动力学角度不足以解释实验现象.用正电子湮灭寿命谱技术在20—85℃范围对晶体中的电子态探测的结果表明,存在着自由态和捕获态两种湮灭机构.捕获态的长寿命和相对成份在75℃附近出现异常,可以解释为价电子态在转变过程中的弛豫效应. 相似文献
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铁电-驻极体复合膜的性质和测量方法 总被引:5,自引:2,他引:3
近年来兴起了研究复合材料在热释电材料中以硫酸三甘氨酸(TGS)单晶粉末和聚偏氟乙烯(PVDF)复合薄膜最为引人注意。因复合材料具有新的物理和化学性质,在测量物性参数时若只简单地采用传统的方法,很可能引起错误。下面介绍TGS-PVDF复合热释电薄膜的热释电系数、热激电流(TSC)和介电谱的测量方法和结果。 相似文献
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测量了纯LiNbO_3单畴单晶(Z切)11℃至300℃的直流体电阻率及18℃至88℃的热释电系数。体电阻R的对数与温度T的倒数之间关系为四段直线,按R正比于exp(E/2KT)的公式,激活能E分别为1.53×10~(-1)ev,1.07ev,2.26ev,3.38ev。四段直线的三个交点温度为78.9℃,135.O℃,276.3℃,热释电系数P与T关系为二段直线,交点温度为79.60℃。由P与T的关系s发现在转变温度二相的自发极化强度P_s相等,Ps对T的一阶导数连续,但二阶导数不连续。还发现相变中存在热滞现象,并测量了30℃至95℃的介电常数,发现75℃附近无异常变化,但在66.O℃有异常变化。 相似文献
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测量了LiNbo_3单畴晶体(Z切)72k至310k的热释电系数P~T,以及15k至273k的介电常数~T,发现热释电系数在226k、170k及137k有异常变化,170k至310k的p~T与T关系为二段直线,交点温度为226k,72k至130k的P~T正比于爱因斯坦比热函数,介电常数在230k及100k出现明显的异常变化,在137k及170k也有变化,还测量了一种ZBN陶瓷新材料11k至470k的介电常数及11k至290k的损耗,发现介电常数从11k开始随温度较快地上升,从100k开始缓慢上升,125k达到极大值后缓慢下降,损耗从11k开始随温度较快地上升,在65k呈现峰值后迅速下降,从125k开始缓慢下降,属扩散型相变。 相似文献