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在逻辑函数ReedMuller模式的电路可测性设计方面,文章采用AND门阵列和XOR门树结构来设计电路,提出了一种设计方案,可实现任意逻辑函数的功能,而且所得电路具有通用测试集和完全可故障定位的特点。给出了进行故障定位的方法,并可把它应用于其他相关电路的可测性设计。 相似文献
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一种基于最优化模型的数字电路测试生成方法 总被引:1,自引:0,他引:1
基于基本门电路的特征函数及被测电路的约束网络结构模型,首先提出了一种用于数字电路的模拟退火(SA)测试生成算法,然后在SA算法中采用梯度长法的退火梯度法,该方法的特点是具有全局收敛性和较高的计算效率,它不仅加速了数字电路的测试生成过程,而且也可应用于其他类型的优化问题。 相似文献
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本文提出一种主颜色提取算法用于服装图像的颜色特征提取。该算法的基本思想是:首先根据服装的主颜色占比情况判断该服装是花色还是非花色,将花色服装用特征值进行标记。接着,将颜色直方图中的特征值按占比大小降序排列,去除占比较小的部分特征值,保留主颜色特征值。在进行服装检索时,先对数据库中的图像进行第一轮筛选,将花色与非花色服装进行分类;然后再对分类后的服装根据主颜色特征值进行第二轮筛选,得到最后的检索结果。实验结果表明,无论对于简单背景还是复杂背景的服装,无论是花色还是非花色服装,本文提出的算法相比于现有的其他算法,服装检索的查全率和查准率都得到了显著提高。 相似文献
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一种用二元判决图求网络可靠度的方法 总被引:1,自引:0,他引:1
在已有结果的基础上,提出了一种利用二元判决图计算网络可靠度的方法.该方法将网络的最小路集用二元判决图来表示,并得到最小路集的不交和,最后获得网络的可靠度.与其他方法比较,该方法所用的二元判决图的规模较小,并且可以计算出在不同故障率条件下、不同时间长度下的网络可靠度. 相似文献
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数字电路故障模块诊断的神经网络方法研究 总被引:3,自引:0,他引:3
对数字电路系统的测试,提出一种基于神经网络的电路故障模块诊断方法,对方法的诊断系统模型、故障特征的获取、网络结构的确定与调整、诊断的流程等进行了详细论述。由于传统的电路故障诊断方法是通过对故障字典的搜索来确定发生的故障,这对庞大的故障字典来说既复杂又费时,因此文中的方法可显著提高传统故障字典法的效率。 相似文献
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边缘扫描测试是对大规模集成电路(VLSI)进行测试的一种新的基于可测性设计的测试技术,能极大地降低VLSI测试生成的复杂性,在电路设计与测试领域,近年来得到广泛关注。本文讨论了这种测试技术的产生背景,实现方法,及与常规方法相比存在的优势,并就其今后的发展将解决的问题作了研究。 相似文献
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数字电路的神经网络模型研究 总被引:1,自引:0,他引:1
研究数字电路的Ho0pfield神经网络模型,说明了这种模型的原理及建立方法,并指出这种模型存在的不足,然后研究电路手最优神经网络模型,给出了模型的相关定义,讨论了任意数字电路对应的最优神经网络的存在性,这些建模方法可应用于电路的测试、逻辑验证等领域,能提高相关的计算效率。 相似文献