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Rice衰落信道的统计特性分析与仿真 总被引：2，自引：0，他引：2
建立了Rice衰落信道的仿真模型,讨论了Rice衰落信道的统计特性,推导了电平交叉率(LCR)和平均衰落延时(ADF)的理论表达式,然后利用仿真模型对各种统计特性进行仿真和分析,并与理论分析结果进行比较。 相似文献
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针对文献[1]第166-177页例4.25系统根轨迹的复数部分(不包括实轴上的部分)是一个圆周,通过严格的数学推导和证明,不仅发现二阶系统的根轨迹形状与圆周有重要联系,而且还精确绘制了所有二阶系统的根轨迹（非概略绘制）,并通过一些仿真实例进行了验证。 相似文献