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1.
微小变动量法是X射线荧光分析中计算理论修正系数的一种成功的方法。用这种方法计算出基础理论修正系数后,可根据需要选择适当的消去项。本文应用作者编写的计算机程序,计算了熔融玻璃片试样的基础理论修正系数δi i后,消去分析元素i及基元素氧两个修正项,得到熔融玻璃片试样中元素间的理论修正系数α_(i-j)以及氧化物间的理论修正系数Aij。最后用所求得的理论修正系数,采用JIS(日本工业标准)模式,用比较标准法分析了6个铁矿石试样,获得较好的结果。  相似文献   
2.
钢铁试样的X射线荧光分析中,常应用莱琴斯(Lachance),德扬(De-jongh)及JIS(日本工业标准)3个修正模式修正基体效应。3个修正模式所用的修正系数存在一定的关系。本文认为莱琴斯模式及德扬模式的α系数可以相互转换,并由莱琴斯及德扬模式的α可以换算得到JIS模的d系数。 由莱斯琴模式中使用的理论修正系数计算得的E_1值与由校准曲线求得的值相同,而且,由莱琴斯模式的α系数换算得到的德扬模式、JIS模式的系数d与用个别三元法直接求得的系数也是相同的。  相似文献   
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