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1.
等厚干涉的条纹宽度与薄膜厚度及入射光的波长宽度有关,因此可以通过测量等厚干涉的条纹宽度来测量入射光的波长宽度,以及通过测量条纹宽度变化率来测量曲面的变形率.
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2.
采用密度泛函理论(DFT)的第一性原理方法,在广义梯度近似(GGA)下,对小尺寸(MgO)n(n≤8)团簇的基态结构、最高占据轨道(HOMO)和最低未占据轨道(LUMO)的能隙、结合能和二阶能量差分进行了计算,结果表明,n=3和6是团簇的幻数,即(MgO)3和(MgO)6是团簇的稳定结构.
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