一种基于模型检验的类测试用例生成方法

提出一种新的自动生成类测试用例的方法.使用符号执行从类源代码抽取对象的状态和行为,以一个四元组抽象描述类,并转化成等价的Kripke结构.使用CTL公式描述测试覆盖标准,然后把这组CTL公式和描述类状态行为的Kripke结构输入模型检验工具,并利用模型检验工具自动生成相应的证据路径,最后将路径转化成满足相应覆盖标准的类测试用例.该方法直接从源代码生成测试用例,并使用贪心法约减冗余用例以降低测试成本.实验表明该方法生成的测试用例具有较高的覆盖率.     

一种基于CPN的协议测试序列生成方法

针对状态空间规模较大的协议,提出了一种基于着色Petri网CPN(ｃolored ｐetri ｎet)、面向属性的协议一致性测试序列生成方法。 首先, 构建被测协议规范的CPN模型, 即协议模型, 并将被测协议的若干功能属性采用CPN进行形式描述, 形成属性模型。 提出了属性模型到协议模型的状态投影算法、模型状态空间的路径匹配算法和搜索算法, 基于这些算法给出了一种完整的基于属性的测试序列生成方法。 该方法不但可以有效避免协议规模庞大所导致的状态爆炸问题, 而且还对测试中的PCO库所进行了特殊标识, 完成测试序列中可观察元素的自动提取处理, 使得处理后的测试序列可直接用于协议实际测试过程。 为有效验证所提测试序列生成方法的可行性, 开发了一套实现该方法的软件, 并应用于HMIPv6协议的实际测试过程中。实践表明, 这套软件可以对较为复杂的协议一致性测试过程提供强有力的支持。     

一种综合数据流和控制流的协议测试集自动生成法

为了更高效地产生协议测试集 ,论文提出了一种基于外部行为描述模型、综合数据流和控制流测试的协议测试集自动生成方法及其实现。外部行为描述模型只对协议的外部行为进行描述 ,强调变迁之间的数据依赖性。该方法引入唯一输入 /输出序列算法和描述协议不确定性的适应性输入/输出树的概念 ,运用协议约束集控制协议空间搜索的复杂度。并采用测试集的验证技术分析测试集的覆盖能力。该方法已运用于 OSI协议和 TCP/ IP RFC协议的测试生成 ,大大提高了软件开发和协议实现的质量及进度。     

FPGA逻辑资源测试图形自动生成方法

提出一种通用FPGA逻辑资源测试图形自动生成方法.建立了可编程逻辑单元CLB的测试模型,提出了FPGA的测试配置集的自动生成算法,在测试配置集的基础上得到了具有通用性的,高故障覆盖率且测试时间短的测试图形.     

改进的基于唯一输入输出序列的测试序列自动生成算法

协议一致性测试中,测试序列一般只能做到半自动生成,其全自动生成问题一直没有得到完全解决.针对此,提出一种改进的基于UIO序列(Unique input/output sequences)的测试序列自动生成算法,并且用C语言程序实现了该算法,从而实现了测试序列的全自动生成.将该算法自动生成的测试序列与测试数据相结合,生成了SM-RL(short message relay layer)协议优化的一致性测试套.与优化前相比,新测试套有了明显的改进,提高了测试工作的效率.     

基于属性的协议互操作性测试的TTCN-3实现

目前对路由协议的测试主要集中在一致性测试,对于像OSPF这样的复杂协议,对其进行互操作测试非常必要.传统的协议互操作性测试是基于被测系统的形式化模型生成测试序列,对测试序列进行测试例抽象,最终得出测试判定.传统方法简单易行,但当测试序列较长时相应问题随之而来.采用TTCN-3语言对基于属性生成的测试序列进行测试用例的实现,结果说明采用基于属性作为模型选择的方法并结合使用TTCN-3实现测试用例可以有效提高测试效率.     

生成确定性测试图形的内建自测试方法

为了以低的硬件开销自动生成高效率的确定型测试图形,提出一种新型的内建自测试(BIST)方法.先对原型设计用自动测试图形工具生成长度短、故障覆盖率高的确定性测试图形,然后对生成的图形排序以取得低功耗测试序列,再选择状态机优化和综合方案,最后自动生成BIST电路描述.由于结合了确定性测试和伪随机测试的优点,该方法具有低功耗、长度短、故障覆盖率高、测试图形自动生成等特色,特别适于CMOS组合逻辑电路的测试.基于ISCAS85Benchmark的实验结果表明,所设计的BIST电路在硬件开销、速度、测试功耗等方面均优于传统的伪随机测试电路,测试时间显著减少.     

基于最小集合覆盖求解方法的测试向量集约简

TetraMAX ATPG作为业界性能较优的自动测试向量生成工具，能够使用较短时间产生高故障覆盖率的测试向量集.本文通过对TetraMAX ATPG产生的初始测试向量集进行建模，提出了基于最小集合覆盖求解方法的最小完备测试集生成方法，利用这一算法可以在保证测试向量集故障覆盖率不变的基础上有效地缩减测试集规模，从而降低电路测试成本.实验结果表明该方法对于固定故障类型和静态电路故障类型均具有良好的约简效果.     

基于AI规划的测试用例自动生成

随着软件在关键性系统中的大量应用,为避免造成灾难性的后果,必须对软件进行测试.但是,当前使用的测试方法常常需要测试人员手工开发测试用例,非常费时费力.本文介绍了基于AI规划的测试用例生成方法,通过初始状态和目标状态描述软件的典型使用情况,以此作为输入,能够自动地生成测试用例.     

基于事件-状态关联关系的GUI测试评判信息生成

GUI研究中关于测试评判信息的生成均依靠测试人员手工完成,这将严重影响整个测试效率和开销.通过详细分析GUI系统中事件与系统状态的关联关系,定义了事件-状态关联关系的形式化描述,提出了根据该关联关系自动生成与测试用例相匹配的测试评判信息的算法.实验表明,基于事件-状态关联关系的GUI测试评判信息生成方法具有可用性,并能有效解决GUI测试评判信息生成过程中开销过大的问题.