六阶微分系统带权第二特征值的上界

考虑六阶微分系统带权第二特征值的上界估计。利用试验函数,Rayleigh定理,分部积分和Schwartz不等式等估计方法与技巧,获得了用第一特征值来估计第二特征值的上界的不等式,其估计系数与区间的度量无关。其结果在物理学和力学中有着广泛的应用,在常微分方程的研究中起着重要的作用。     

某类四阶微分系统特征值的带权估计

考虑四阶微分系统特征值的带权估计,利用矩阵运算、分部积分、Rayleigh定理和不等式估计等方法,获得了用前n个特征值来估计第n 1个特征值的上界的不等式,其估计系数与区间的几何度量无关,其结果是文献[1]的进一步推广.     

任意阶微分系统带权第二特征值的上界

考虑任意阶微分系统带权第二特征值的上界估计。利用试验函数,Rayleigh定理,分部积分和Schwartz不等式等估计方法与技巧,获得了用第一特征值来估计第二特征值的上界的不等式,其估计系数与区间的度量无关。其结果在物理学和力学中有着广泛的应用,在常微分方程的研究中起着重要的作用。     

高阶微分系统特征值的上界估计(英文)

考虑高阶微分系统特征值的上界估计。利用正定矩阵、分部积分、Rayleigh定理和不等式估计等方法,首先将问题化为矩阵形式,建立了Rayleigh不等式,其次证明了三个引理,最后获得了用前n个特征值来估计第n+1个特征值的上界的不等式,其估计系数与区间的几何度量无关,其结果是文献[1-4]的进一步拓展。     

混合微分系统带权第二特征值的上界

考虑混合微分系统带权第二特征值的上界估计.利用试验函数,Rayleigh定理,分部积分和Schwartz不等式等估计方法与技巧,获得了用第一特征值来估计第二特征值的上界的不等式,其估计系数与区间的度量无关。其结果在物理学和力学中有着广泛的应用,在常微分方程的研究中起着重要的作用。     

一类偏微分系统谱的上界估计

考虑一类偏微分系统谱的上界估计,利用微分系统谱的基本理论、分部积分、测试函数、Rayleigh定理和Schwartz不等式等方法,获得了用前n个谱来估计第n＋1个谱的上界的不等式,其估计值与所论区域的几何度量无关,其结果在物理学和力学等领域内有一定的应用价值。     

六阶某类微分方程第二特征值的上界

本文建立了问题（１．２）的用第一特征值来估计第二特征值的不等式,其估计系数与区间的几何度量无关,其结果在物理和力学中有着广泛的应用．     

正则任意阶微分系统带一般权第二特征值的上界

考虑正则任意阶微分系统带一般权第二特征值的上界估计。利用试验函数,Rayleigh定理,分部积分和Schwarz不等式等估计方法与技巧,获得了用第一特征值来估计第二特征值的上界的不等式,其估计系数与区间的度量无关。其结果在物理学和力学中有着广泛的应用,在常微分方程的研究中起着重要的作用。     

四阶微分方程广义第二特征值的上界估计

考虑四阶微分方程广义第二特征值的上界估计，利用试验函数、Rayleigh定理、分部积分、Schwartz不等式和Young不等式等估计方法与技巧，获得了用第一特征值来估计第二特征值上界的不等式，其估计系数与区间的度量无关．     

六阶常微分方程广义第二特征值的上界估计

考虑六阶常微分方程广义第二特征值的上界估计。利用试验函数,Rayleigh定理,分部积分和Schwartz不等式等估计方法与技巧,获得了用第一特征值来估计第二特征值的上界的不等式,其估计系数与区间的度量无关。其结果在物理学和力学中有着广泛的应用,在常微分方程的研究中起着重要的作用。     

一类高阶常微分方程特征值的上界估计

运用常微分方程特征值的基本理论，考虑一类高阶方程特征值的上界估计，此类方程包含了常见的梁横向震动方程，有着重要的实际背景，利用分部积分、Rayleigh定理和不等式估计等方法，获得了用前n个特征值来估计第n＋1个特征值的上界的不等式，其估计系数与区间的几何度量无关。其结果在物理学和力学等领域中应用广泛。     

高阶常微分方程特征值的上界估计

考虑高阶常微分方程特征值的上界估计,利用试验函数、Rayleigh定理和不等式估计等方法,获得了用前n个特征值来估计第n+1个特征值的上界的不等式,其估计系数与区间的几何度量无关,其结果在物理学和力学等领域中应用广泛.     

多项式微分算子带一般权第二特征值的上界估计

考虑多项式微分算子带一般权第二特征值的上界估计的问题.利用试验函数、分部积分、Rayleigh定理和Schwarz不等式等方法与技巧,得到了用多项式微分算子的第一个特征值来估计第二个特征值的不等式,其估计系数与区间的几何度量无关。其不等式在物理学和力学中应用广泛,在微分方程的理论研究中起着重要的作用。     

某类微分方程组的特征值估计

本文考虑某类微分方程组的特征值估计,获得了用前n个特征值来估计第n＋1个特征值的上界的不等式,其估计系数与区间的几何度量无关,其结果在物理学和力学等领域中应用广泛。     

高阶线性微分方程第二离散谱的上界（英文）

考虑高阶线性微分方程在有限区间上广义离散谱的上界估计,此问题由钱椿林教授提出,是六阶微分方程离散谱问题的自然延伸,所用方法是Hile和Yen方法的改进和推广。笔者首先选择合适的试验函数,利用广义Rayleigh定理得到一基本不等式,其次利用算子谱理论、分部积分和Cauchy-Schwarz不等式等方法,证明了四个引理,最后获得了用第一个谱来估计第二个谱的显式上界不等式,其估计系数与区间的几何量无关,其结论是相关文献结论的进一步推广,在微分方程的谱理论研究中有一定的使用价值。