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本文研究了氧化锌压敏电阻的装钵方式和装钵量提高后,对其梯度、泄漏电流、压比等性能的影响,并对结果进行了分析,结果表明,S5试样的装钵量最适合所试验的型号的电阻片需要,不仅提高了电阻片性能,而且还节能降耗,具有较强的推广价值。 相似文献
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运用传统工艺制备不同质量分数Co2O3掺杂的ZnO压敏电阻阀片.采用扫描电镜和X射线衍射仪对样品的显微结构进行分析,研究了Co2O3掺杂质量分数对ZnO压敏电阻显微结构的影响,讨论了其电学性能与Co2O3掺杂摩尔分数的关系.结果表明,随着Co2O3摩尔分数的增大,晶粒尺寸越来越小,衍射角变大,晶面间距减小;压敏电压升高... 相似文献
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以镓钛共掺杂氧化锌(GTZO)陶瓷靶作为溅射源材料,采用射频磁控溅射技术在玻璃基片上制备了GTZO透明导电薄膜,通过X射线衍射仪(XRD)、可见-紫外光分光光度计和四探针仪等测试表征,研究了基片温度对GTZO薄膜晶体结构、电学性质和光学性能的影响.结果表明:所制备的GTZO薄膜均为六角纤锌矿结构,并具有(002)择优取向,其结晶质量、晶粒尺寸、方块电阻、透过率、光学能隙以及品质因数都与基片温度密切相关,当基片温度为350℃时,GTZO薄膜的品质因数最大,具有最佳的光电综合性能. 相似文献
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《中南民族大学学报(自然科学版)》2017,(2):66-72
采用掺氧化钼(MoO_3)的氧化锌(ZnO)陶瓷靶作为溅射源材料,利用磁控溅射工艺制备了钼掺杂氧化锌(MZO)透明导电氧化物(TCO)薄膜,通过X-射线衍射仪(XRD)、光分光光度计和四探针仪进行了测试表征,研究了溅射功率对MZO薄膜结构、光学和电学性能的影响.结果表明:所沉积的MZO薄膜样品均为六角纤锌矿结构,并具有(002)择优取向生长特性,溅射功率对薄膜结构和光电性能具有不同程度的影响.当溅射功率为120 W时,MZO薄膜的可见光区平均透过率最高、电阻率最低、性能指数最大,具有最好的光电综合性能. 相似文献
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采用化学溶液沉积法制备了镁、铕共掺杂氧化锌纳米材料,通过X射线衍射仪(XRD)、扫描电镜(SEM)和光致发光谱(PL)等测试,选取了5个退火温度,研究了退火温度对镁、铕共掺杂氧化锌纳米材料结构和光学性能的影响.结果表明:所制备的镁、铕共掺杂氧化锌纳米材料均为六角纤锌矿结构,其光学性能与退火温度关系密切,当退火温度为400℃时,发光性能最好. 相似文献
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铝掺杂氧化锌薄膜的光学性能及其微结构研究 总被引:1,自引:0,他引:1
以氧化铝(Al2O3)掺杂的氧化锌(Zn O)陶瓷靶作为溅射靶材,采用射频磁控溅射工艺在玻璃基片上制备了具有c轴择优取向的铝掺杂氧化锌(Zn O:Al)薄膜样品.通过可见-紫外光分光光度计和X射线衍射仪的测试表征,研究了生长温度对薄膜光学性能及其微结构的影响.实验结果表明:薄膜性能和微观结构与生长温度密切相关.随着生长温度的升高,样品的可见光平均透过率、(002)择优取向程度和晶粒尺寸均呈非单调变化,生长温度为640 K的样品具有最好的透光性能和晶体质量.同时薄膜样品的折射率均表现为正常色散特性,其光学能隙随生长温度升高而单调增大.与未掺杂Zn O块材的能隙相比,所有Zn O:Al薄膜样品的直接光学能隙均变宽. 相似文献
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《中南民族大学学报(自然科学版)》2019,(4):566-571
以石英玻璃作为衬底,采用射频磁控溅射技术沉积钛镁掺杂氧化锌(TMZO)薄膜样品.基于分光光度计测量的透射光谱数据,利用光学表征方法确定了薄膜样品的折射率、消光系数和光学能隙等光学参数,研究了衬底温度对TMZO样品光学性能的影响.结果表明,可见光区域所有薄膜的折射率均随波长增加而单调减小,表现为正常的色散关系,衬底温度对薄膜样品的透光性和光学参数具有明显的影响.衬底温度升高时,TMZO样品的可见光区平均透过率和光学能隙均呈现出先增后减的变化趋势,当衬底温度为300°C时,它们都具有最大值. 相似文献
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采用控溅射工艺制备了镓镁掺杂氧化锌(Zn O:Ga-Mg)透明导电薄膜,通过多种表征技术研究了沉积功率对薄膜结构、形貌、光学和电学性能的影响.实验结果表明,所有薄膜均为六角纤锌矿结构并且具有c轴择优取向生长特点,并且沉积功率明显影响薄膜的性能.沉积功率为150 W时所制备的Zn O:Ga-Mg薄膜具有最好的结晶质量和光电性能,对应的平均可见光透过率为92.2%、电阻率为1.18×10-3Ω·cm、品质因数为1.04×104Ω-1·cm-1、晶格应变为1.95×10-3、位错密度为1.17×1015 m-2.另外,利用光学表征方法获得了Zn O:Ga-Mg薄膜的光学常数,同时根据单振子WDD模型研究了薄膜的光学色散性质,得到了薄膜的振子参数、非线性光学常数和光学能隙.研究结果表明沉积功率是影响Zn O:Ga-Mg薄膜结构和光电性能的最重要的工艺参数之一. 相似文献
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通过改进传统的长时间烧结工艺,制备出了具有好的压敏特性的多元ZnO压敏材料,获得了非线性系数α=13的结果,系统研究了材料的I-V特性,利用X射线衍射(XRD),扫描电子显微镜微区形貌分析(SEM)研究了材料的微结构及对压敏特性的影响,对该类材料的压敏机理作了进一步的讨论。 相似文献
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牟国栋 《兰州大学学报(自然科学版)》2007,43(3):106-109
建立了压敏陶瓷实际Bi元素含量检测品质的控制方法,讨论了烧结方式、温度及保温时间对Bi元素挥发量的影响,研究了实际Bi元素含量对压敏陶瓷显微结构、电性能的影响.实验表明,采用电感耦合等离子体光学发射光谱仪检测样品Bi元素含量,实际检测极限为1.0×10-6.通过优化烧结,有效控制了Bi元素挥发,从而获得均匀的显微结构和预定晶界,得到电学性能优良的ZnO压敏陶瓷. 相似文献
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李莉 《山西大学学报(自然科学版)》2005,28(1):37-39
利用传统陶瓷制备工艺制备具有一定压敏特性的ZnO陶瓷材料,详细分析了Bi2O3掺杂对材料性能的影响及导致这一影响的具体原因,用MY3C-2型压敏电阻器三参数测试仪测试了样品的压敏电压,压比和漏流,并用BD-86型X射线衍射仪进行了物相分析,测试结果表明:在适合掺杂范围内,Bi2O3的增加有利于样品的非线性系数α及压敏电压的提高,且漏流IL随掺杂量的增加减小,超出这一范围后,样品的电学性能将会恶化,物相分析表明在添加Bi2O3,Sb2O3和BaCO3的ZnO陶瓷中,存在ZnO相,Bi2O3相,Zn223Sb0.67O4(尖晶石)相和BaSb2O6(偏锑酸钡)相。 相似文献
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按照国外低压ZnO压敏陶瓷中所含添加剂的种类,利用制备ZnO压敏陶瓷的常规工艺,对基本添加剂进行单因子实验;研究每种添加剂对ZnO压敏陶瓷性能和微观结构的影响规律;从理论上分析各类添加剂的作用机理;优选出低压ZnO压敏陶瓷的最佳配方。 相似文献
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以自制SiO_2和分析纯Zn_2SiO_4为研究对象,NaOH为反应介质,考察了反应温度、物料配比和反应时间对硅提取率的影响.碱熔融焙烧SiO_2的合适反应条件:反应温度450℃,NaOH与SiO_2物质的量比2.4∶1,反应时间60 min.二氧化硅与NaOH反应先生成Na_2SiO_3,随温度升高逐步转化为Na_4SiO_4.碱熔融焙烧Zn_2SiO_4的合适反应条件为反应温度500℃,NaOH与Zn_2SiO_4物质的量比20∶1,反应时间150 min.Zn_2SiO_4与NaOH反应生成Na_2ZnSiO_4和Na_2ZnO_2,在350℃硅氧四面体反应得到Na_2SiO_3,随升温转化为Na_4SiO_4. 相似文献
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采用传统固相法制备掺杂Nd2O3和Sm2O3氧化锌压敏陶瓷.采用X线衍射、扫描电镜和压敏电阻直流参数仪对其相组成、显微组织和电性能进行研究.研究结果表明:复合稀土掺杂有利于提高压敏陶瓷的综合电性能.掺杂Nd2O3和Sm2O3氧化锌压敏陶瓷,在固定Nd2O3含量时,随Sm2O3掺杂量增加,样品的平均晶粒尺寸从5.32μm减小到2.91 μm,电位梯度从389.3 V/mm增加到959 V/mm,非线性系数呈先降后升的变化,漏电流密度在0.44~8.66 μA/cm2之间变化.掺杂(摩尔分数)0.25% Nd2O3和0.50%Sm2O3氧化锌压敏陶瓷的电性能最优,电位梯度为959 V/mm,非线性系数为36.7,漏电流为2.25μA/cm2.制备的压敏陶瓷有望用于高电位梯度避雷器. 相似文献
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研究了不同种类的玻璃料对ZnO-玻璃系压敏电阻电性能的影响.实验表明加入G3 玻璃料制得的样品具有较好的电性能,并有很高的工作稳定性.还研究了ZnO-玻璃系压敏电阻的微观结构和介电性能 相似文献
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热镀锌渣电解精炼中添加剂的研究 总被引:2,自引:0,他引:2
ZnCl2—NH4C1—H20溶液体系中进行热镀锌渣的电解精炼是处理热镀锌渣的全新工艺。该文通过电化学方法从18种添加剂中选出4种较合适的添加剂并确定其最佳添加量,重点研究其对热镀锌渣电解精炼指标诸如槽电压、直流电耗、阴极锌品位等的影响。同时考察了复合添加剂的作用,温度对添加剂作用效果的影响。 相似文献
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利用溶液法制备Nd掺杂ZnO,并通过X射线衍射(XRD)、紫外-可见吸收光谱(UV-Vis)和光电流密度-光电压曲线研究Nd掺杂对ZnO带隙及染料敏化太阳能电池光电性能的影响.结果表明:Nd原子取代Zn原子掺杂到ZnO晶格中;Nd掺杂使ZnO带隙窄化,导致其UV-Vis谱吸收带边红移,且随着掺杂摩尔分数的增加,红移和窄化程度增大;掺杂Nd可提高电池的光电流及光电转换效率,当掺杂Nd的摩尔分数分别为0.5%,1.0%,1.5%时,其光电流密度分别为9.51,13.01,10.79mA/cm2,光电转换效率分别为2.28%,2.84%,2.48%. 相似文献