还原富钙CaGe:YIG薄膜铁磁共振谱中的分层体模

一、前言 磁性薄膜的铁磁共振谱测量是探测薄膜磁性物理的一个重要手段,由铁磁共振谱随外磁场与膜法线所成角度的变化及其温度特性,可提供丰富的有关薄膜各向异性、表面状况和体不均匀性等多方面的信息。     

富钙CaGe:YIG薄膜铁磁共振线宽随外场角度的变化

铁磁共振线宽关系到材料的微波损耗。富钙CaGe:YIG薄膜具有磁矩的异常补偿点和电导率的光效应等有趣特性。因此研究其共振线宽随外磁场方向的变化是很有必要的。曾有人对Ca:YIG薄膜的线宽与外场方向的关系用涡流机制进行过解释。这一损耗机制在Ca:YIG薄膜中也为线宽随面积而增加的观测结果所证实。通常认为,Fe~(4+)快弛豫离子(与Ca~(2+)或电价平衡)是Ca:YIG薄膜线宽的一个主要来源。有人以过腐蚀减薄的方法,研究了Ca:YIG薄膜的线宽与厚度的关系,提出了在样品中存在有沿厚度方向的Ca浓度梯度的问     

等磁化强度单晶LaYIG/GGG/LaYIG/GGG多层磁性薄膜的铁磁共振研究

自从我们首先制备了LaYIG/GGG/LaYIG/GGG等磁化强度单晶多层磁性薄膜以来,这种多层薄膜已经在线性色散微波延迟线及其它器件中得到了应用.近年来已有许多作者进行了与其相似的多层膜的铁磁共振和静磁波传播特性的研究.这些研究,对于单晶多层磁性薄膜在微波领域里的应用无疑是非常重要的.但是,迄今为止对于这种单晶多层磁性薄膜