数字电路测试的故障诊断和测试码生成

随着数字电路的广泛应用,电路的测试与故障诊断已成为设计与生产过程中重要的组成部分.本文讨论了电路的测试方法、故障模型和利用通路敏化法导出测试码等问题,需要在数字电路安装之前对元件进行逻辑功能测试,从而避免因器件功能不正常而增加测试的困难.     

计算机在语言测试中的应用

本文综合讨论计算机在语言测试中应用的三个主要方面 :题库建设 ,计算机辅助语言测试以及计算机自适应语言测试 ,同时分析了这三方面在应用中的优势 ,应注意的问题以及语言测试今后的发展趋势。     

计算机在语言测试中的应用

本文综合讨论计算机在语言测试中应用的三个主要方面:题库建设,计算机辅助语言测试以及计算机自适应语言测试,同时分析了这三方面在应用中的优势,应注意的问题以及语言测试今后的发展趋势.     

基于粒子群算法的数字电路测试生成

在已有的数字电路测试生成算法基础上，通过对一种结构简单且容易实现的算法——粒子群算法的研究，提出了一种基于模拟的测试矢量生成的新方法，即应用粒子群算法来进行数字电路的测试生成．对一些组合电路进行了仿真，并将其与基于遗传算法的测试生成方法进行比较，实验结果表明该方法比基于遗传算法的测试生成更为有效．     

具有CHDL模块的电路测试生成

本文讨论了用于逻辑电路故障测试的一个扩充D算法。该算法是面向由CHDL(计算机硬件描述语言)说明功能的,包含功能模块的电路。本文着重分析不同CHDL结构中的D传播。由于提高了硬件级别和采用功能故障模型,该算法可用于规模较大的电路的测试生成。     

数字电路测试生成的二元判定图方法

测试是保证电路系统可靠性的重要手段,已成为集成电路设计与生产的一个组成部分,研究了基于二元判定图的数字电路测试生成方法,对布尔函数的表示和操作的二元判定图进行研究,详细讨论了其中的ite算符;给出了基于二元判定图的电路测试生成方法的实现步骤,并用实例进行了说明。     

大型数字电路的动态电流测试模式

组合逻辑电路的最大动态电流测试应在电路的原始输入端施加一个特定的测试序列才能实现.文中提出一种算法模式可以快速生成所需的测试序列.算法与电路的原始输入端数无关.     

数字电路测试中的关键技术研究

随着数字电路的广泛应用．电路的测试与故障诊断已成为其设计与生产过程的重要组成部分。讨论了电路的测试及故障诊断中的一些问题．主要包括故障模型、故障仿真、故障压缩及可测试性度量与测试矢量生成算法（ATPG）,并研究了电路测试技术的发展趋势．     

FPGA逻辑资源测试图形自动生成方法

提出一种通用FPGA逻辑资源测试图形自动生成方法.建立了可编程逻辑单元CLB的测试模型,提出了FPGA的测试配置集的自动生成算法,在测试配置集的基础上得到了具有通用性的,高故障覆盖率且测试时间短的测试图形.     

数字电路自动测试系统研究

对数字电路自动测试系统的体系结构、软件硬件设计、工作原理及功能进行了研究,并通过测试实例证明了该自动测试系统具有较高的故障覆盖率、精度和可靠性,能对被测电路板进行客观评价,提高了电路板测试的自动化程度和故障诊断效率.     

TGS 中的一种逻辑电路模型及预处理

讨论了逻辑电路测试生成系统（简称ＴＧＳ）中使用的一种模型数据及预处理方法．用简单的表格描述了电路的网络结构，给出了测试生成所需要的数据．并通过对数据进行预处理，加速了测试生成过程，提高了整个系统的效率     

基于安全充分捕获技术的多时钟数字系统测试矢量生成

针对多时钟数字系统提出了一种新颖的产生测试矢量的方法——安全充分捕获技术(Safe and Complete Capture Technology,S&CCT).该方法对电路系统中的时钟按照一定的标准分为等效时钟和串行时钟,然后确定正确的时钟捕获顺序.使用并发故障模拟器从逻辑上和时序上对生成的测试矢量进行仿真,测试矢量生成器使用该仿真信息,以避免生成失效测试矢量.实验证明,S&CCT与传统方法相比,测试矢量数目减少50％左右,不仅大大减少了测试矢量的数目,对电路的硬件开销也几乎没有影响.     

模拟集成电路自动测试系统

测试系统硬件部分由通用ＰＣ机和测试仪两大部分组成，它们在测试软件包的配合下，可对常用的模拟ＩＣ的直流参数和功能进行自动测试。     

面向同步时序电路的电路并行测试生成算法

面对VLSI设计规模日益增大的挑战，除了电路并行以外，其它已有的基本并行策略都无法从根本上解决测试生成的复杂性问题，然而，已有的电路并行测试生成算法并未取得理想的结果，尤其对时序电路，因此，如何划分电路，成为电路并行算法的设计基础和成功的关键，面向逻辑级描述的同步时序电路，以触发器为核的电路划分算法BWFSF将电路划分为大功能块。对Benchmark-89电路的实验结果表明，基于G-F二值算法和BWFSF算法的电路并行测试生成算法在有效减少存储空间消耗的同时，还能够获得稳定的加速比。     

CBTC系统测试用例生成方法的研究

针对CBTC系统测试案例的特点和生成过程,本文使用基于MSC建模语言来生成测试用例,并且说明了使用该方法生成测试用例的优点所在.在基于MSC生成测试用例的过程中,对MSC添加状态约束条件,分析MSC图,得到场景测试树,再遍历该场景树,得到场景的输入、预期输出、约束条件以及场景环境,测试用例即由这四部分内容组成.     

用于IDDT测试的BIST测试向量生成器

检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试（BIST）作为一种有效的测试技术可以大大地降低测试开销。设计一种用于IDDT测试的BIST测试向量生成器,它随机产生跳变数为1-2的测试向量对。实验证明。它能以较少的测试向量对检测出比较多的故障。     

新一代测试系统(FGTS)的研究与实现

阐述了在VisualBasic6.0环境下开发新一代测试系统——FGTS的全过程,并重点探讨了开发系统过程中所使用的技术和技巧.利用"属性值"进行计算机操作题型动态测试技术的运用,为新一代测试系统的继续研究奠定了基础.     

FAN算法在瞬态电流测试产生中的应用

在不考虑冒险的情况下，对于CMOS电路中的开路故障，探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试产生的可能性，定义了三种不同的D前沿，并将测试产生分为激活故障，使无故障电路和故障电路的瞬态电流差别最大化，减少旁路的影响三个部分，实验结果说明，在不考虑冒险的情况下，将FAN算法应用于瞬态电流测试产生是可行的。     

计算机模拟正态随机数的产生与统计检验

提出一种产生正态随机数的计算机新算法。这种新算法是在现有的乘同余法和混 合同余法等常用算法的基础上改进而来。统计检验表明：用原常用算法产生的随机数， 例如先用乘同余法或混合同余法产生均匀分布随机数，再用抽样变换法构成正态随机 数，其分布特性令人满意，但独立性质量不高；而用新算法产生的随机数，既能保持 原来分布特性较好的特点，又在独立性上有较大的改进。