掺铝氧化锌透明导电薄膜生长及光电性质研究

采用磁控溅射在载玻片上制备掺铝氧化锌AZO透明导电薄膜,并用扫描电子显微镜观察薄膜的表面形貌,四探针电阻率测试仪测量样品的方块电阻和电阻率,分光光度计测量薄膜透射率.结果表明当功率、温度、氢气掺杂比为200 W、300℃、8%时,制备的AZO薄膜具有最小的方块电阻和电阻率,且在可见光区域内透射率均超过80%.     

用直线四探针头测量金属-半导体的接触电阻率

本文提出一种用直线四探针头测量金属-半导体欧姆接触接触电阻率的简捷方法.导出了适用于薄层半导体材料的接触电阻率表达式,经实验验证结果与线性传输线模型一致.     

四探针薄层电阻测试仪的电路原理

四探针薄层电阻测试仪具有量程选择方便、恒流源电流可调及数据读出迅速、稳定的特点。因此,本文结合半导体制程中扩散层薄层电阻测量的实际需要,介绍了四探针薄层电阻测试仪的测试原理和电路原理,以期为相关学者的研究提供参考。     

光致发光法检测用于转移电子器件的GaAs材料

转移电子器件是一种常用的微波固体功率源,制备转移电子器件常用的材料是n-GaAs单晶,目前国内对n-GaAs单晶质量的在线检测主要测量它的电学参数.但是在器件生产中发现,即使用电学参数相同的材料制备器件,仍会出现成品率高低浮动.已有人用光致发光法研究GaAs材料性质.本文报道用光致发光法在线检测转移电子器件材料质量.测量结果表明,电学参数测量符合要求时,制备转移电子器件成品率较低的n-GaAs外延片中存在较高浓度的施主杂质与Ga空位的络合物.     

ZnO表面光伏行为的Kelvin探针表征

利用Kelvin探针通过测量电子功函数来表征半导体表面光伏行为及其能级结构特性.首先由Kelvin探针测量原理建立了表征表面光伏行为的理论方法,然后用CVD法在Pt基底上制备了ZnO半导体薄膜,再利用紫外光作为激发光源实现光伏效应,最后应用Kelvin探针表征其光伏行为的演化过程.     

朗谬尔探针用于VAC等离子体诊断的初步研究

简要分析了朗谬尔探针用于真空电弧镀膜等离子体诊断的可行性及理论适用性问题。介绍了一种可用于ＶＡＣ等离子体在线监测的探针诊断系统，并利用此系统分析了不同工艺参数一等离子体参数的变化。     

扫描探针检测交变力场

设计了一个可检测交变力场的扫描探针系统，针尖受到与样品间的交变电场力或磁场力的作用而振动，针尖振动由一超外差激光干涉仪检测。从而确定作用力的大小，该文分析了系统的灵敏度，测量了针尖与样品间的交变电场力随两者间距的变化曲线，对周期性分布的电场进行了一维扫描检测，并进行了金属薄膜厚度的测量。该文还利用磁性探针进行了交变磁场力的检测，系统的电磁力检测灵敏度为１０＾－１１Ｎ。     

ADSL话音分离器测试仪的设计

针对目前国内市场普遍缺乏高效ADSL话音分离器测试仪的现状,在分析ADSL话音分离器的基本构造和测试原理的基础上,综合运用多种高速、高精度电子器件和嵌入式技术,研制一种符合国家相关标准,能快速、批量、准确测试ADSL话音分离器多种性能参数的测试仪.测试检验结果表明,研制的测试仪的各项指标均满足设计要求.     

碳纳米管电磁性能的研究现状和应用

碳纳米管(Catbon nanotubes,CNTs)是目前最细的纤维材料,有较高的长径比(直径为几十纳米以内,长度为几微米到几百微米,层片间距为0.34nm,比石墨的层片间距0.3354nm稍大),具有超强的力学性能和独特的电学性能.其应用已涉及到纳米电子器件、扫描探针显微镜的探针、电极材料和复合材料等多方面.     

碳纳米管电磁性能的研究现状和应用

碳纳米管(Catbon nanotubes，CNTs)是目前最细的纤维材料，有较高的长径比(直径为几十纳米以内，长度为几微米到几百微米，层片间距为0．34nm，比石墨的层片间距0．3354nm稍大)，具有超强的力学性能和独特的电学性能。其应用已涉及到纳米电子器件、扫描探针显微镜的探针、电极材料和复合材料等多方面。     

PAN基碳纤维的微观结构对电阻率影响的研究

本文对不同碳化温度下制备的ＰＡＮ基碳纤维的电阻率、结构参数、微晶择优取向度Ｚ°及层面内Ｃ－Ｃ原子键距ａ０进行了测量,给出了ＰＡＮ基碳纤维的电阻率随结构参数（Ｌａ、Ｌｃ、Ｌ００２）的变化规律,同时对碳纤维的电子特性进行了初步讨论．     

基于递推最小二乘法的四旋翼系统辨识

在四旋翼飞行器建模过程中,需要获取精确的系统模型参数.该文通过系统辨识的方法获得四旋翼系统模型的参数.首先针对四旋翼飞行器小角度飞行状态,建立含有未知参数的系统动力学模型;然后根据四旋翼飞行器的实际飞行数据,应用递推最小二乘法对系统参数进行辨识;将辨识获得的参数应用于仿真模型,并将仿真数据与实际测量值进行对比.结果表明:在小角度飞行状态下,此辨识方法可以获得精确的系统模型参数.     

二种无机酸掺杂聚苯胺的制备及其导电性能影响因素研究

通过四探针测试仪对二种无机酸掺杂聚苯胺的导电率进行了测试,用控制变量的方法研究了掺杂酸的种类和浓度、引发剂的量、合成温度等对聚苯胺导电率的影响。研究发现,引发剂与苯胺单体的摩尔量相同、盐酸浓度为2mol/L、温度为0℃时合成的聚苯胺的导电率最佳。     

热针法测量材料导热系数研究

研究了可测量软性材料导热系数的热探针法,所用热探针由20匝直径为0.02mm的漆包铜丝紧密封进外径为0.3mm的不锈钢针管制成,铜丝同时起加热和测温元件作用.理论和实验研究表明,采用适当延迟测量时间可以克服因热针壁厚引起的误差.测量误差估计小于±3%.     

气敏特性动态测试系统

"气敏特性动态测试系统"在于开发一种能满足多种测量要求的动态测试仪来标定各类气体传感器。该仪器采用虚拟仪器技术,通过对质量流量计进行自动调节,实现对气体浓度的控制;每个测量过程可连续设置多个时段,每个时段的浓度可任意预设定;设计的传感器量程自动选择电路,扩大了传感器的测量范围,实现了对不同种类气体传感器参数的测量。采用动态配气方式,能够准确的测试气体传感器的各种参数,达到了高精度、高可靠性和大容量数据处理与存储的测试要求。     

一种新型A13+荧光探针的合成及其在食品中的应用

设计合成了一种新型的Al3+荧光探针L(((E)-((8-羟基喹啉-2-基)亚甲基)氨基)-戊腈),并利用元素分析、核磁和质谱等方法对探针结构进行了表征.该探针在溶液中本身荧光很弱,但结合A13+后荧光显著增强.由此,建立了一种测定A13+的新方法.该方法对A13+测定的线性范围为2.8×10-8～4.3×10-6mol/L,检出限为8.3×10-9 mol/L,相对标准偏差为4.14％,回收率在100.1％～105.4％之间,具有选择性好,灵敏度高,线性范围宽以及操作简单等优点.     

把单片微机用于应变测量

<正> 应变测量在力学测试中是一种最基础的测量技术。利用它,可以测量出在不同荷载作用下,材料、构件,或某种结构体系中所观察部位的相对变形,即应变(ε=△L/L),进而计算出内部的应力分布。以便掌握被测对象所处的工作状态;通过模型实验,可以获取所需的结构参数,为设计方案提供依据;通过实地测试,可以了解现有结构物的实际工作状况;作为监控手段,还可以实施险情报警。因此,应变测量几乎与所有的工程学科,都有着广泛的联系。     

TiO_x胶体浓度对银纳米线薄膜透光导电性能的影响

采用多元醇法合成银纳米线,用旋涂法制备银纳米线薄膜,并在其表面旋涂一层氧化钛(TiOx)胶体薄膜以进行表面修饰.采用X-射线衍射仪与扫描电子显微镜对银纳米线的晶体结构与表面形貌进行表征;采用紫外-可见光分光光度计与四探针测试仪对银纳米线薄膜的透光与导电性能进行测试.研究发现,银纳米线薄膜的透光性能和导电性能随着旋涂转速的增加而降低,这与薄膜厚度变化有关.进一步研究发现,胶体浓度对于薄膜的透光导电性能有显著影响,在转速为2 000r/min的时候,0.01 mol/L浓度的TiOx胶体可以有效地提高薄膜的导电性能.     

微波ECR等离子体参数测量及分析

利用双探针测试了微波ECR等离子体参数，发现获得大面积均匀等离子体源强烈依赖于轴向磁场梯度，等郭子体参数受气压影响很大，测量结果与理论分析一致。     

高阻硅单晶欧姆接触的研究

本文曾在我们以前欧姆接触工作的基础上^[1~6],进一步用高硼合金(BAINiIn)和高磷合金(PSbAuIn)作接触金属,适当控制硅片的表面质量,结合电火花技术,简捷地分别使高达20000Ωcm的p型硅和4000Ωcm的n型硅都能得到良好的欧姆接触特性,并且在经过30次从300K到77K往返循环后仍保持线性的I-V特性.本文通过对不同温度的I-V特性、接触电阻率和离子探针的测量,结合金属对硅接触的接触电阻率与掺杂浓度的关系计算,讨论了欧姆接触的形成和载流子输运的特征.本方法已成功地用于高阻硅材料杂质补偿度和载流子迁移率的测量.