模拟退火算法在低功耗BIST中的应用

提出了应用模拟退火算法在一定长度的测度矢量集中寻找有效测试矢量的近似最优分组，在尽量减少面积开销的同时减少有效测试矢量的个数，并且通过置入种子的方法使LFSR产生近似最优分组的矢量，因此在保障故障盖主的前提下达到了降低测试功耗的目的。实验表明，采用此方法可降低测试功耗70％以上，而故障覆盖维持不变，此外，由于减少了测试矢量，测试时间也大为缩短，在实时系统中，减少测试时间尤为重要。     

边界扫描环境下的板级互连测试及其BIST实现

互连测试对于电路板的生产和维护具有重要意义.针对现有互连故障检测BIST(built in selftest)实现方法存在测试时间长、硬件开销大等问题,本文提出了一种改进的BIST结构,并阐述了其各组成部分,即查找表(look-up table,LUT)、测试向量生成器(test pattern generator,TPG)、输出响应分析器(output response analyzer,ORA)的设计过程.该实现方法可在保证高故障检测率的前提下,降低硬件开销,缩短测试时间,同时还可避免多驱动器冲突,使测试能够安全进行.     

CMOS 存储器中地址译码器的开路故障及测试

对 CMOS存储器中地址译码器的开路故障进行了分析和分类 ,得出了其中有一类开路故障不能用常用的测试算法可靠的测试出 ,给出了测试该类开路故障的测试方法以及针对该类开路故障的容错性设计方案     

分支结构电路的可测性设计优化

在硬件设计的初期可以对硬件测试中条件分支结构引起的测试向量冗余问题加以解决.以ALU为例,提出了两种分支结构电路的可测性优化设计,通过调整分支电路的选择条件来控制测试向量的施加,在保证错误覆盖率的同时可以明显减少不必要的测试向量.     

改进的基于STUMPS架构的BIST电路设计

传统的STUMPS测试方法,存在测试时间长和故障覆盖率不够高的缺点。现采用Test-Per-Clock方式和向量压缩的方法处理待测电路,减少测试时间;用随机测试模式加存储测试模式来提高故障覆盖率。经ISCAS85标准测试电路验证,新方案取得了令人满意的结果。     

基于BIST矩阵扫描的一种VLSI故障诊断策略

针对规模大而复杂的VLSI(Very Large Scale Integrated-Circuit)提出了一种新的基于BIST(Built-In Self-Test)的故障诊断策略，它通过对触发器阵列扫描，可同时找出有故障的CUT(Circuit Under Test)和测试码以及与之相应的响应，从而能应用传统的非BIST设计故障诊断方法来定位故障门。它克服了传统基于BIST故障诊断方法中数据量大，或者由于使用经过压缩处理的数据而带来的不确定性等缺点。电路结构简单可行，提供的相应算法也易于实现。     

定点DSP芯片的一种BIST结构设计与实现

在内建自测试的基本原理上实现了一种有效地适用于16位定点DSP的BIST设计方案,包括内部逻辑的BIST设计和Memory的BIST设计;通过与IEEE 1149.1兼容的边界扫描技术来对BIST实现控制,并提供电路板级的测试.测试结果证明,该设计的故障覆盖率达到了98%以上,确保了DSP芯片的品质.     

一种基于电路自反馈的测试向量产生算法

内建自测试（BIST）是可测性设计中常用的方法,其中的测试电路部分要占用一定的芯片面积。提出并实现了一种基于电路自反馈的测试向量产生算法,通过将被测电路中的一些内部节点反馈连接到被测电路的输入端,由电路自己施加测试向量进行测试。该方法可以减少BIST的面积开销,实现全速测试,同时还能保证较高的故障覆盖率。     

基于MRV原理的锁相环抖动BIST电路优化与实现

为解决传统基于游标原理锁相环片上抖动测量电路的问题,提出了一种基于多精度游标(MRV)原理的锁相环抖动内建自测试技术.该原理不仅能够大幅降低测量电路面积,同时能够有效保证测量精度,减少锁相环(PVT)的影响.将MRV原理运用在游标延时链(VDL)和游标振荡器(VRO)2种典型技术上.在VDL方案中,由单级延时链改进为两级延时链,分别采用粗细2种不同分辨率的延时单元;在VRO方案中,根据待测信号的范围,通过改变振荡器的控制信号,测量电路动态选择相应的分辨率.在TSMC 130 nm工艺下,分别对2种改进方案进行电路实现,并从分辨率、面积、测量范围、测量误差等方面进行对比分析.     

组合电路中延迟故障的功能测试生成

提出一种用于测试组合电路中延迟故障的新功能故障模型,讨论该模型的功能测试生成,实验表明,这种功能测试集具有实现低路径延迟故障覆盖范围的功能。     

可编程逻辑阵列嵌入自测试设计

本文提出的设计方案,以极低的附加硬件资源覆盖了包括附加电路在内的所有单重固定故障、交叉点故障、邻线桥接故障和几乎所有的多重故障。同现今通行的设计方案相比,具有下列明显优点:1) 极低的附加硬件资源;2) 极高的故障被测度;3) 对可编程逻辑阵列的正常操作没有影响;4) 减少了测试延迟;5) 故障检测异常简单。     

数字集成电路的测试与故障诊断方法

从桥接故障的两个特点出发，提出了一种快速盲测法，该法弥补了伪穷举法的不足。它既适用于组合逻辑电路、又适用于时序逻辑电路的短路故障测试。在６Ｋ型电力机车微机控制箱的测试与故障诊断过程中的成功应用，证实了该方法的有效性。     

利用微电子测试图形研究CMOS IC的锁定效应

体硅 CMOS IC 内不可避免地存在着寄生 pnpn 四层结构,在一定条件下,导致器件闭锁失效。本文结合专门用于研究 CMOS IC 内锁定的微电子测试图形,对以设计、工艺制备的一系列组合测试结构,进行测试,并对锁定现象作对比分析,提出了优化设计的途径。     

脉冲多普勒雷达数字信号处理机机内测试的新方法

提出了一种脉冲多普勒雷达数字信号处理机机内测试方法。该方法介于系统级和极级之间，集系统调试，在线测试和离线测试于一体，设计简单，易于实现，论证了处理机各个关键模块的具体测试方法。     

滚动轴承故障诊断方法研究

介绍了滚动轴承故障诊断的传统方法和现代方法,如冲击脉冲法、共振调解法、小波分析法等,预测了滚动轴承故障诊断的发展趋势。     

导弹测发控系统故障诊断模糊专家系统

目的　建立导弹测发控系统故障诊断模糊专家系统的基本结构,并给出一个具体的故障诊断实例; 方法　首先对导弹测发控系统的故障机理进行分析,进而研究基于模糊Ｐｅｔｒｉ网模型的故障诊断技术的应用,最后提出了本系统的设计思想和实现方法; 结果　建立了基于模糊Ｐｅｔｒｉ网模型的导弹测发控系统故障诊断模糊专家系统,该系统能对故障的模糊性和精确性知识进行统一描述和推理,并具有可修改性和可扩充性等优点; 结论　通过对某型导弹测发控系统配电分系统的故障诊断实例,说明了系统实现的可行性;     

基于黑箱的自动软件测试工具的质量保障方法

软件测试需要合适的自动测试工具的有效支持，此时保障测试工具质量的问题显得尤其重要，介绍了两种针对基于黑箱的自动软件测试工具的质量保障方法，并详细讨论了软件故障注入方法，长期测试实践证明了这些方法对保障铁路计算机联锁软件测试评估平台的检测能力和可靠性是非常有效的。     

电气设备红外诊断技术应用研究

介绍了电气设备红外诊断机理和判别依据,分析了影响红外诊断结果的主要因素,并提出了相应的解决办法。     

激光打孔小孔内壁再铸层微裂纹检验方法研究(Ⅰ)

提出了一种ＣＣＤ（电荷耦合器件）显微图像采集技术检验激光打孔孔内壁再铸层微裂纹的新方法．经过对亚毫米孔径的小孔轴向（纵向）剖面凹面进行特殊抛光处理后,得到了小孔内壁表面的显微放大像（２００倍）．利用此图像,可对小孔内壁表面的微米级微裂纹进行观察和判断．实验结果表明：所提出的激光打孔的小孔内壁微裂纹检验方法是一种可行的技术途径．