试析新型IC智能测试仪的原理、结构及其使用方法

IC芯片商家及用户在使用IC芯片过程中需对IC芯片进行测试，以判断其好坏。开发通用集成电路测试仪是解决这一问题的一条有效途径。本分析了江汉大学的一项科研成果“IC智能测试仪”的测试原理、系统结构及使用方法。     

基于DSP和FPGA信号测试仪的设计

研发设计一种测试仪,它对被测对象处理各种信号的情况进行测试,通过测量被测对象反馈回来的信息测试被测对象的工作状况。主要采用DSP+FPGA的设计方式,通过上位机输入信号参数,D/A恢复输出信号,将产生的多普勒信号进行模拟仿真,试验表明测试效果很好。介绍了整个系统的功能及其软件设计,并且对其中的关键技术加以详细的阐述,以及系统的精度问题。实践证明此测试仪精度高,操作简单方便,实际应用价值高,值得推广使用。     

汽车统一诊断服务诊断协议栈网络层测试方法

提出了一种基于CAN总线的汽车统一诊断服务(UDS)诊断协议栈开发过程中的网络层功能测试方法.利用AutoCAN总线设计工具,将位于PC机的上层测试仪与搭载有被测协议栈的下层测试仪连接,形成实际总线测试网络.通过参数分层法,结合实际被测协议栈通信要求,建立测试用例集,并据此编写测试脚本和仿真运行.通过监控每一条测试用例的报文流记录,判断其是否符合测试要求.该方法能够实现UDS诊断协议栈的网络层测试,验证网络层是否符合国际标准.     

多孔材料检测系统的设计与实现

该系统的技术目标是建立一套完整、准确、科学的测试模型。在此模型基础之上,对该测试系统进行整体设计。由数字气体压力传感器采集被测多孔材料的精确流量和压力值,通过单片机采控系统及RS232接口实时动态的将该数值传输给计算机(上位机),由电脑对数据进行处理并准确求得测试结果。     

基于FPGA的CAN总线通信事务的现场测试系统设计

针对CAN总线网络中节点性能的测试应用,研究并设计了基于FPGA的CAN总线通信事务的现场测试系统;该系统可以针对不同属性的被测节点进行接口配置和波特率匹配,同时能够模拟CAN总线主节点,对从节点发送命令或数据,并能实时接收CAN总线上任意被测节点发送的数据。CAN测试节点采用单片机C8051F040内部集成的CAN控制器,单片机通过并行端口实现和FPGA的通信,FPGA通过USB接口实现与上位机之间的数据传输。实验表明,该系统实用性强,可靠性高,并已成功应用于某航天测试设备中。     

基于USB接口的CCD数据采集系统设计

本文以FPGA作为主控制器,采用FT245RL为USB接口芯片,设计了一款基于USB接口的CCD数据采集系统。在分析USB接口芯片原理的基础上,设计了合理的硬件电路,后详细阐述了ADC、USB芯片的时许逻辑,通过逻辑分析仪验证了接口时许逻辑控制电路的有效性,最后通过USB接口将数据上传至上位机显示,经上位机显示结果表明,此设计能以10帧/秒的速率采集3648个像素点,可为类似需求的USB数据采集系统提供一种可供借鉴的技术参考。     

数字式频率特性测试仪设计

介绍了以单片机AT89C51与DDS频率合成器AD7008构成的频率特性测试仪。它与PC机通过RS-232C口连接,完成被测网络的频率特性的测试及图形的显示、保存与打印。     

基于FPGA和FT245的芯片功能测试装置的设计与实现

设计芯片功能测试装置,以FPGA为控制单元,利用FT245实现FPGA与上位机的通信。上位机发送测试数据,然后采集被测芯片的输出响应并分析。与理论上正确的数据进行比较,得出结论。对于模拟芯片设计了A/D和D/A转换模块,调试的结果表明,测试装置可完成对常用芯片的功能测试。     

基于USB接口的IC卡读写器

针对使用RS232接口与主机进行通信时存在的不足,提出了一种基于USB接口的IC卡读写器,阐述了对于存储式IC卡(24C01)利用I2C总线读取和写入数据的过程,给出了USB接口芯片PDIUSBD12和PC机之间的通信过程,描述了USB固件编程的构架,介绍了功能驱动开发的方法·该IC卡读写器使用USB接口和主机进行通信,支持即插即用功能,明显地提高了主机和IC卡读写器之间的数据传输速率,保证了系统的可靠性和便携性要求·该IC卡读写器研制成功并投入使用,在实际应用中证明了其价值·     

微处理器系统的故障测试系统

提出一种用于微处理器系统故障诊断的测试系统，该系统基于特征分析，采用软件切换技术，使测系统与被测系统在一ＣＰＵ控制下工作，由测试系统从外部向被测系统施加激励，能对内部不含特征激励的微处理器系统进行故障诊断，确定测量窗口宽度的启、停信号直接由测试系统的内部产生，该测试系统可通过ＲＳ－２３２接口与微机联机，以８０３１单片机为被测对象，对本测试系统的功能进行了验证。     

基于SRIO的FPGA间数据交互系统设计与应用

基于时分长期演进(time division long term evolution,TD-LTE)射频一致性测试系统中数据交互的分析研究,为了很好地满足现场可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA)间的大容量数据交互,设计了一种高速的嵌入式技术串行高速输入输出口(serial rapid IO,SRIO),实现2块FPGA芯片间的互连,保证在TD-LTE系统中上行和下行数据处理的独立性和交互的便捷。基于Xilinx公司的Virtex-6系列XC6VLX475T芯片,给出了SRIO接口的整体性设计方案,经过ModelSim软件仿真,确定适合项目需要的数据交互的格式类型和事务类型,对接口代码进行综合、板级验证、联机调试等,在ChipScope软件上对比分析数据传输的正确性,通过测试模块统计比较发送和接收信号的误比特率,确定了SRIO接口在高速数据传输的稳定性和可靠性,成功验证了SRIO接口在FPGA之间数据的互连互通,并将该方案作为一种新的总线技术应用于TD-LTE射频一致性测试仪系统开发中。     

“九五”国家重点科技攻关计划成果集锦

G２０１０７５IC卡芯片大生产工艺技术研究成果主要完成单位：中电智能卡有限责任公司联系人：龚铠电话：０１０－６８６６７９７９地址：北京市石景山区鲁谷路５８号邮编：１０００４３通过对IC卡芯片封装关键工艺的研究开发，解决了IC卡的大面积、薄芯片的粘接工艺技术，低弧度金丝压焊工艺，软包封和接触式IC卡模块测试等关键技术，形成一整套接触式IC卡模块的大生产工艺文件，满足IC卡芯片封装的大生产需要。技术水平达到国内先进水平。模块品种涉及IC卡存储器模块、加密存储器模块、CPU模块几十种，推动了国产集成电路IC卡芯片…     

基于频率响应法的双CPU架构变压器绕组变形测试仪设计

针对日益增多的变压器绕组变形故障,设计了一种以高性能DSP芯片TMS320F2812及ARMRCortexTM-M3芯片STM320F103为核心的基于频率响应法的变压器绕组变形测试仪。详细介绍了系统硬件设计方案及软件编程思想。DSP模块负责高速数据采集与运算。ARM模块通过SPI总线与DSP通信,实现测试仪的数据管理、用户界面以及联机通讯。采用数字频率合成技术DDS对待测变压器绕组进行扫频测量。系统采用软件滤波和硬件同步交流采样技术减小测量误差。能够在不对变压器进行吊罩、拆装的情况下进行绕组变形测试,显示高、低压三相绕组频率响应曲线及相关系数R。仿真测试结果表明该装置能够满足变压器绕组变形的测试要求。     

基于 DDS 的数字式频率特性测试仪的软件设计

设计并制作了一台基于 DDS 的数字式频率特性测试仪。该测试仪利用 DDS 芯片和自主设计的增益补偿电路产生扫频范围为1～40MHz 正交正弦信号,用模拟乘法器、LPF 和 AD 变换器获得被测网络的幅频特性和相频特性的原始数据,通过理论分析与计算,设计出频率特性的坐标变换算法,并通过单片机系统将被测网络的幅频特性和相频特性曲线显示在 LCD 显示屏上。本测试仪还使用μC ／GUI 技术设计显示界面,使用红外遥控技术实现遥控操作功能,使仪器具有良好的用户体验。     

水用检波器快速测试仪的设计与实现

为检测水用检波器在固定频率的灵敏度,以便快速准确地确定检波器的好坏,设计了水用检波器快速测试仪.测试仪主要由信号源模块、功率放大模块、数据采集模块和显示模块等部分组成,以 ATmega128为主控芯片,利用A/D 转换芯片 AD7663进行数据采集,将检波器的灵敏度实时地显示在液晶屏上,以便观察.测试结果表明,快速测试仪的最大偏差为0.5,μV/Pa,测试结果与标称值的平均相对误差为0.93%.可见,快速测试仪的测试结果准确,且重复性较好.     

USB技术在图像传输系统中的应用与固件设计

介绍了一种图像传输系统中的USB接口子系统,提出了采用TMS320DM642芯片和EZ-USB FX2LP芯片的USB接口板的实现方法.此方案为DM642扩展了USB2.0接口,可实现与PC机进行高速率的数据传输.     

半导体大规模集成电路的测试原理及方法

文章使用c 程序语言控制测试设备,对封装好的芯片进行直流特性测试、功能测试以及交流特性测试。测试工程中被测芯片的收率和产品流转周期是产业效益两大要素,所以当测试产品出现不良时最关键的就是要找出不良发生在封装工程的哪道工序,以便及时有效地对被测芯片进行不良分析,提高产品收率和产品效益。     

基于FPGA的USB集成电路测试仪的设计

以FPGA芯片为核心,通过USB串口与下位机通信,设计了一种通过电脑操作、FPGA控制的USB集成芯片测试仪.系统能对常用的TTL、CMOS系列集成电路作出准确快速的功能检查.着重介绍了测试仪的总体设计思路、硬件设计和部分软件设计.     

高速数电芯片参数测试方案优化研究

为了解决高速数电芯片测试速度慢、测试精度低的问题,提出一种利用LK88系列测试平台对集成电路高速数电芯片参数进行有效测试的方法.该测试方案通过对高速数电芯片SN74HC138的测试,可以实现快速筛出失效芯片、进行功能验证、对高速数电芯片的直流参数进行精准测试,最后通过上位机直观显示出来.测试过程易于操作、增强了可读性.与芯片Spec参数标准对比分析后可以得出测试精准性也有效提高.因为缩短了整体测试时长,并且精度提高,对于提升集成电路产业链经济效益方面具有积极影响.     

一种用于用户线接口电路的输出电流放大器

提出了一种输出电流放大器电路。该电流放大器是用户线接口电路 ( SLIC)的关键部分 ,它由运算放大器和精密匹配的电阻组成 ,能较好地实现馈电和语音信号传输功能 ,易于 SL IC实现极性反转和用户线交流阻抗调整。运算放大器由两级组成 ,并进行了 HSPICE电路模拟验证。芯片用 90 V高压双极工艺制造 ,面积约为 2 mm2 ,其工作电压为 5V和 - 48V。经测试 ,馈电电压从 - 35V到 - 52 V,芯片都能正常工作 ,其馈电电流可达± 2 4 m A,语音信号传输性满足国内外标准 ,能满足 SL IC的应用