温度对电致发光粉表面包覆SiO2膜特性的影响

采用化学气相沉积法,以硅酸乙酯和氧气作为前驱体在ZnS:Cu电致发光粉表面包覆S iO2薄膜,并对样品进行了能量色散X射线分析,AgNO3抗腐蚀,发光亮度和光谱等测试. 结果证实当温度为 500 ℃时,包膜样品具有良好的防潮抗腐蚀性能,材料发光寿命得到明显改善 ,包膜样品的发光光谱峰没有产生大的移动.     

电致发光粉ZnS:Cu的透明防潮包覆

在现有包覆方法基础上进行了改进且得到了满意的包覆效果.以有机硅、铝为反应物用Sol-Gel法,在微米尺度的电致发光粉表面上形成一层厚度均匀的纳米薄膜,实现了电致发光粉ZnS:Cu的透明防潮包覆.实验结果表明:包覆3次的薄膜最均匀且致密,抗变色时间大于120min;包覆后的电致发光粉ZnS:Cu可以保持未包覆时发光强度的93%以上,且包覆次数对发光强度的影响很小;温度低于200℃时其抗腐蚀性能良好,用透射电子显微镜(TEM)和X射线荧光探针光谱分析仪(EDXS)对包覆膜进行了表征.经过包覆后的电致发光粉表面的铝和硅含量在不断增加且硅增加的速度快于铝增加的速度.     

聚甲基丙烯酸甲酯包覆纳米SiO2表面的聚合反应研究

通过表面接枝的方法,在室温下用偶联剂(MPS)KH-570对纳米SiO2进行接枝,经引发剂引发甲基丙烯酸甲酯(MMA)发生自由基聚合包覆,并通过TEM和FTIR等测试手段表征粉体有机包覆层的形貌和化学组成结构,应用DSC和TGA等测试方法研究了反应条件对复合粒子结构和性能的影响.为了得到较高的接枝率,用两种不同浓度的偶联剂对纳米SiO2进行预处理,纳米SiO2-MPS复合粒子的接枝率随着偶联剂浓度的增大而提高,且SiO2-MPS-PMMA复合粒子的接枝率和单体的转化率随着引发剂的浓度和单体的浓度的增大而明显提高.     

聚丙烯酸酯/SiO2双重包覆对铝颜料在涂层中应用性能的影响

为了增强铝颜料的耐腐蚀性和与树脂相容性,先后以溶胶-凝胶法和原位聚合法在铝颜料表面包覆了SiO2和聚丙烯酸酯（PA）。分析了SiO2和PA包覆铝颜料的理论基础,运用FTIR、XPS和SEM等表征了铝颜料的表面形貌和结构,并考察了原位聚合条件对包覆铝颜料涂膜性能的影响。研究表明：在实验条件下,单体用量0.7g、聚合温度85℃、聚合时间4-5h时,制备的双重包覆铝颜料在树脂中分散性和附着力明显提高,涂层具有良好的涂膜外观、光泽度和耐酸性。     

ATO包覆TiO2导电粉中锑的作用行为以及煅烧温度对导电性的影响

本文以五水四氯化锡(SnCl4·5H2O)、三氯化锑(SbCl3)和超细二氧化钛粉为主要原料,采用共沉淀的方法,通过在TiO2表面包覆ATO制备导电TiO2.系统研究了ATO包覆TiO2导电粉中Sb的行为,以及对导电性的影响.Sb在ATO中,一部分以替代原子进入了SnO2晶格中,一部分富集、偏析于SnO2的表面,并随着掺杂量,煅烧温度的改变,表层的元素发生变化,本文中给出了定量的分析;Sb在ATO表层中的价态是一个非常复杂的问题,Sb5+、Sb3+的比例随着Sb的掺杂量、煅烧温度不同而改变,并影响其电阻率.     

TiO2颗粒表面包覆Al2O3纳米膜及其表征

采用连续法在TiO2颗粒表面进行了纳米层Al2O3的包膜,通过TEM、HRTEM、EDS、XPS、ICP和光学性质表征,证明了Al2O3在TiO2颗粒表面形成了一层连续的纳米膜,该层纳米膜比较疏松,厚度为7—10nm。XPS证明Al2O3为物理包覆,没有Ti—O—Al键形成。光学性质的检测表明了Al2O3包膜后TiO2其消色力、白度、光泽性都有明显提高,并且其在表面憎水性增强,油中分散性提高。     

表面包覆对TiO_2超微粒光学性质的影响

制备了一系列表面包覆油酸的TiO_2超微粒.结果表明,表面包覆油酸的TiO_2超微粒的表观光学带隙(E_s)随着超微粒粒径减小变小;相同粒径表面包覆油酸的TiO_2超微粒的表观光学带隙与表面包覆硬脂酸的TiO_2超微粒几乎相同,但比表面包覆十二烷基苯磺酸的TiO_2超微粒大.     

纳米SiO2对硅酸盐水泥水化放热特性的影响

以硅灰为对比,利用微量热仪研究了纳米SiO2对硅酸盐水泥24 h内水化历程、水化放热特性的影响.研究结果表明:掺入纳米SiO2的水泥试样24 h内水化历程也可划分为类似于纯硅酸盐水泥水化的5个阶段;纳米SiO2的掺入,促使诱导期、加速期和减速期的出现提前,缩短了诱导期持续的时间;提高了水化开始时的放热速率,使第二放热峰的出现提前,增大了水化放热量.     

SiO2包覆对爆炸喷涂自敏涂层发光和摩擦性能的影响

采用溶胶-凝胶法在铝酸锶荧光粉表面包覆SiO₂层,以45号钢为基体,采用爆炸喷涂技术制备不同SiO₂包覆质量分数下的SrAl₂O₄∶Eu²⁺, Dy³⁺/Cu-14Al-X自敏复合涂层.对比研究了不同包覆质量分数下铝酸锶粉末与自敏涂层的发射光谱和余辉衰减曲线,复合涂层的摩擦系数与磨损量以及SiO₂包覆质量分数对自敏涂层的发光性能和摩擦学行为的影响.结果表明:SiO₂包覆使得铝酸锶在爆炸喷涂制备过程中得到了保护,提高了涂层的发光性能.随着SiO₂包覆质量分数的增加,复合涂层结构致密度、硬度和耐磨性提高.20%包覆质量分数下铝酸锶粉末硬度为564.5HV,比未包覆铝酸锶粉末的涂层提高了38%.由于破碎后的SiO₂包覆层具有自润滑效果,包覆后复合涂层的摩擦系数相对稳定,15%SiO₂包覆质量分数下复合涂层摩擦系数为0.182,具有最优的摩擦性能.     

BaMgAl10O17:Eu荧光粉表面包膜的研究

用表面包膜技术对灯用蓝色发射BAM荧光粉进行处理，获得了表面包覆纳米氧化铝（γ-Al2O3）的BAM粉，并通过SEM、XPS等手段进行了测试研究，将其与未经包膜处理的荧光粉进行对照试验。分别制成灯管，检测了不同燃点时间后的荧光灯衰趋势，并运用冷原子吸收（CVAAS）方法测定荧光粉表面汞的吸附沉积量的变化，获得了一系列有实际意义的 结果，证明对荧光粉进行包膜处理能够保护粉体，减少短波紫外辐射的轰击，汞的表面吸附沉积等有害因素的影响，是降低BAM荧光粉光衰的有效方法。     

图案化基板LED中荧光粉对光学性能的影响

采用基板上加倒锥形图案化的新型封装方式,用蒙特卡洛光线追迹法仿真保形涂覆荧光粉体积比和厚度变化时,发光二极管(LED)光源光色品质的变化.仿真结果表明:LED光源的出光效率在图案化倾斜角α为30°,45°时,出光效率的提升量最大;α为45°时,传统平面封装光源的空间颜色均匀性最大优化幅度分别为9.1%,8.4%;荧光粉厚度、体积比不变时,颜色均匀性相对于传统平面封装光源的优化幅度最大为11.1%,10.4%,光源的色温差值最大减小1 006,1 319 K;在厚度、体积比参数中任选一个进行优化,均可改善LED产品的颜色均匀性,而优化图案化结构可使空间颜色均匀性更明显地提高.     

长余辉荧光粉SrAl2O4:Eu2+,Dy3+的包膜研究

以正硅酸乙酯为原料,采用溶胶-凝胶法对长余辉荧光粉SrAl2O4:Eu2+,Dy3+表面包覆SiO2膜,并对膜层进行了耐水性、扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射(XRD)和发光性能的测试.结果表明,样品被包覆致密的SiO2膜,耐水性也得到显著的提高.在纯水中,未包膜的样品2 h内完全水解,而包膜后的样品在10 h后pH值变化不大.同时,包覆的膜层对荧光粉的发光性能影响很小.     

纳米级二氧化钛包硅过程及形成机理研究

研究了各种因素对包膜效果的影响，探索致密二氧化硅膜的形成机理。结果表明中和速度、加硅酸钠的浓度及方式等是影响包覆的关键性因素。     

荧光薄膜的制备方法及其在LED中的应用

荧光薄膜封装发光二极管(LED)是一种新的封装技术.这种技术通过分离荧光粉与芯片,解决了传统点胶工艺中LED光色不一致、荧光粉沉淀、不利于LED散热等问题,而且提高了荧光粉的热稳定性,极大提升了LED的光色品质.本文综述了荧光薄膜的制备方法及其在LED中的应用实例,对实际研究和应用有一定的作用.     

超细铁黄包硅技术与表面状态剖析

研究了铁黄包硅工艺过程，并在１００Ｌ反应釜中予以放大。所制得包硅磁粉形状规整，抗烧结性良好，有效在消除了孔洞，磁片性能明显优于未包硅磁粉。采用付立叶变换红外光谱和光电子能谱对包硅磁粉表面结构进行了剖析，确定了包硅磁粉界面化合物的结构。     

黄磷废水的二氧化氯处理

对用二氧化氯处理黄磷废水进行了研究，重点考察了各反应条件对处理效果的影响.实验结果显示，二氧化氯能很好地氧化废水中的元素磷及氰化物，处理可在常温下进行，当二氧化氯过量40%以上时，元素磷的氧化率达100%，氰化物的氧化率达90%以上.再经石灰脱氟后完全可达到GB 4283-84中有关黄磷生产废水一级排放标准.     

UV固化有机硅/SiO2杂化涂料的制备及性能

以正硅酸乙酯和常用的有机硅为原料,采用溶胶-凝胶法制备了可紫外光(UV)固化的有机硅/SiO2杂化涂料.研究了有机硅用量对杂化漆膜性能的影响,并用FTIR和固体29Si-NMR对杂化涂料进行了表征,测定了UV固化C C的转化率和硅氧烷的缩聚度.结果表明:杂化涂料的有机与无机网络间以共价键的方式结合,在UV固化240 s时双键转化率可达81.0%,硅氧烷的平均缩聚度为89.5%;由于采用了改进的溶胶-凝胶法,在高度交联的SiO2网络结构中引入线性Si O Si链段,使得漆膜既有高硬度又有良好的柔韧性,当TEOS/MPTMS/DDS摩尔比为6∶2∶3时膜的综合性能最佳.     

溶胶凝胶法制SiO2底膜的研究

本文研究了采用溶胶凝胶法制备SiO2底膜的方法,探讨了各种因素对溶胶凝胶制作和SiO2底膜质量的影响.