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相似文献
 共查询到19条相似文献,搜索用时 46 毫秒
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迈克耳逊干涉法测量非晶FeSiB的磁致伸缩   总被引:1,自引:0,他引:1  
用迈克耳逊干涉法,对不同成份的非晶态 Fe Si B 合金的磁致伸缩特性进行比较测量,寻找具有较高磁致伸缩系数的非晶材料.  相似文献   

3.
在Jiles-Atherton平均场物理模型的基础上,建立了计算磁致伸缩材料性能的方程,并计算了Tb0.3Dy0.7Fe1.83的磁致伸缩系数。计算结果与实验测量的结果相吻合,表明建立的计算方程能够很好地描述磁致伸缩材料的静态磁致伸缩行为。  相似文献   

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5.
在劈尖干涉中,对样品件的不同凹凸情况产生的劈尖干涉条纹的分析,往往会因为想象的误导而出现错误.通过计算机模拟,进行形象讲解,使学生加深对劈尖干涉的等厚特性的理解,并通过模拟举例,帮助学生正确分析干涉条纹与不同凹凸情况的联系,感受科学工作方法,建立起严谨的科学态度.  相似文献   

6.
超磁致伸缩材料(GMM)是一种新型的功能材料,其磁致伸缩系数与磁场强度、温度、压力等有关。以超磁致伸缩高速响应电磁阀的研究为背景,介绍超磁致伸缩材料特性参数的测量方法,及适用于超磁致伸缩材料特性参数测量的测试装置。  相似文献   

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超磁致伸缩材料(GMM)是一种新型的功能材料,其磁致伸缩系数与磁场强度、温度、压力等有关。以超磁致伸缩高速响应电磁阀的研究为背景,介绍超磁致伸缩材料特性参数的测量方法,及适用于超磁致伸缩材料特性参数测量的测试装置。  相似文献   

8.
基于虚拟仪器软件平台LabVIEW,开发了磁致伸缩系数检测仪。论文介绍了检测仪的构成及在软件设计中的几个主要问题。  相似文献   

9.
提出了一种利用激光多普勒测量磁致伸缩系数的方法,理论分析了激光多普勒测量磁致伸缩系数的工作原理,设计了铁镓合金棒材的测试系统。对铁镓合金棒( Galfenol)的准静态磁致伸缩系数进行测量。结果显示,该方法所获得应变与出厂数据符合较好,在10 Hz驱动电流下获得铁镓合金棒的动态变化曲线。该测量方法具有以下优势:(1)能够实现非接触测量;(2)可以测量铁镓合金棒端面任意点的应变情况;(3)测量结果准确度较高;(4)测量操作简单。  相似文献   

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提出了用劈尖干涉实验装置,通过测量干涉条纹的宽度来测量液体折射率的方法.  相似文献   

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扭转光纤环Verdet系数的干涉法测量   总被引:2,自引:0,他引:2  
提出采用干涉的方法测量几种不同扭转圈数的扭转光纤环的Verdet系数.其结果与已知的直退火光纤在1.322 μm波长和直扭转光纤在0.633 μm波长下采用测量偏转角Δθ方法测得的结果基本一致.实验数据采用目前研制光纤电流传感器最常用的Sagnac干涉方法,并在最常用的1.31 μm波长光源下得到,因此对进一步研究扭转光纤环电流传感器具有实用价值.  相似文献   

12.
提出了用脉冲光声技术测量样品吸收系数的方法.首先假设光在某些样品中传播其强度是沿一指数曲线衰减.则探测器探测到的光声信号可看作是指数衰减曲线与探测器脉冲响应卷积的结果,通过衰减系数的值反映出光吸收系数的大小.用数据仿真及实验验证的方法对文中提出的理论做了论证,所获得的结果与用其他方法所获得的测量结果有一定的吻合性,这为光声技术的无损检测提供了一种参考方法.  相似文献   

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本文从能量的观点,给出了计算气体粘滞阻尼系数b值的另一种方法.  相似文献   

14.
用激光楔形板剪切干涉,测量干涉条纹的间距,得出了双棱镜的折射棱角。对测量结果进行了讨论,并与劈尖法结果进行比较。  相似文献   

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本文分析了拉脱法测量水表面张力系数α的不稳定因素.以及测量结果α高于常值的原因及解决方法  相似文献   

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报导了一种测量生漆粘滞系数的新方法——微机控制超声多普勒法 .利用接收器接收液体中下落小球的超声多普勒效应频移信号 ,将此信号送微机进行采集、比较、判断、计算 ,并显示出生漆的粘滞系数 .实例表明本方法能快速准确地测量各种液体的粘滞系数  相似文献   

17.
磁致伸缩材料的磁致伸缩系数值与磁场强度大小、温度和材料种类等有关.它们分别由应变仪、高斯计及铂电阻为传感器,与计算机及其A/D,D/A扩展板组成数字表征系统.介绍了该计算机系统硬件的组成与配置、软件的编制与调试及测试结果分析.  相似文献   

18.
在分析磁致伸缩液位传感器工作原理基础上,针对磁致伸缩液位计不能进行密度测量的问题,提出多浮子相对位移测量法,在磁致伸缩液位计上实现了液体密度的在线高精度测量。同时分析了被测介质密度的变化对液位测量精度的影响,给出了液位测量的密度校正方法,进一步提高了磁致伸缩液位传感器的液位测量精度。  相似文献   

19.
本文将测量液晶介电系数ε的磁场法改进为半电压测量法。避开直接测量ε_∥和ε_⊥,而是通过测量ε_(45°)之值推算出ε_∥与ε_⊥。测量所需的液晶用量为磁场法的1/5,且在较弱的磁场下,即能获得较高的准确度。  相似文献   

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