基于故障字典法的雷达故障诊断技术研究

针对雷达故障诊断中被测电路单元的复杂性和多样性进行了分析研究,提出采用故障模式分类的方法。根据电路结构及特点建立故障字典,确定测前故障集,并采用基于故障事例推理的诊断方法,进行故障诊断,并给出了应用实例。该方法大大减少了测试时间和测后分析计算量,加快实时诊断能力。     

基于模拟电路I_(DDT)的小波神经网络故障诊断方法

动态电源电流(IDDT)对模拟电路故障诊断非常有效。通过分析被测电路的动态电源IDDT及其输出响应来识别电路的故障元件;用小波对被测信号进行多尺度分解,提取小波系数能量,经归一化后,作为特征向量输入到神经网络而实现故障诊断.实验仿真结果表明:该方法能正确实现故障定位且准确率高.     

一种基于电路自反馈的测试向量产生算法

内建自测试（BIST）是可测性设计中常用的方法,其中的测试电路部分要占用一定的芯片面积。提出并实现了一种基于电路自反馈的测试向量产生算法,通过将被测电路中的一些内部节点反馈连接到被测电路的输入端,由电路自己施加测试向量进行测试。该方法可以减少BIST的面积开销,实现全速测试,同时还能保证较高的故障覆盖率。     

基于信号功率谱的模拟电路嵌入式测试

针对模拟电路内建自测试问题,提出一种基于信号功率谱的嵌入式测试方法.采用由电压比较器构成的采样器对被测电路的输入信号和输出信号进行采样,得到频谱特性不变的数字信号序列,使用最大熵谱法计算输出序列和输入序列之间的功率谱密度比,将得到的比值与正常电路的比值进行分类比较后,确定被测电路的故障状态.在基于DSP的模拟电路测试平台上,应用信号功率谱方法对低通滤波器电路进行测试.结果表明:该方法能有效地检测模拟电路中的各种故障,硬件实现方案简单易行,适合模拟电路的嵌入式测试.     

混合电路故障仿真技术研究

简要介绍了一种混合电路故障仿真技术，着重描述如何生成预响应信号，以及如何保证预响应信号的正确性。同时介绍了在故障诊断软件中处理模拟信号的方法，并以一个简单的测试用例来具体地介绍了这种方法。     

CMOS组合电路开路故障的BIST探讨

对CMOS组合电路开路故障的测试方法进行了探讨.一种方法通过对电路输出的跳变次数进行计数,然后与无故障电路输出的跳变次数的期望值进行比较,可以检测到所有的开路故障,对于有n个输入端的电路完成测试需要6×2n个测试向量.另一种方法基于种子存储的自适应BIST方法,该方法充分利用开路故障的特征,实例验证表明能够在3×2n+1个时钟周期内完成对CMOS组合电路开路故障的测试,它在不用修改被测电路网络的前提下可对多开路故障达到完全的测试.     

模拟电路故障诊断的VIM验证算法

提出了一种模拟电路故障诊断的新算法－ＶＩＭ验证算法，该方法只需对被测电路进行一次激励和测量就可定全故障支路，文中详术字算法的理论推导过程，并给出了计算机模拟结果。     

模拟电路故障诊断的一种系统方法

提出了模拟电路故障诊断和定位的一种系统理论方法。该方法不受电路规模和复杂程度的限制，可确定电路中哪些元件故障，辨识出故障元件参数值。测后主要解低阶线性方程，计算量小。实例表明，方法可靠。     

基于模型的有限状态机软件动态测试方法

介绍了一种基于模型的软件动态测试方法，该方法通过将被测程序抽象成有限状态机，将测试程序及测试用例的编写集中到单个状态上。在软件结构或逻辑发生改变时，能够通过对旧状态测试程序的重新组合进行新的测试。无需大量修改测试程序从而保存了先前的测试用例。     

基于模型的有限状态机软件动态测试方法

介绍了一种基于模型的软件动态测试方法，该方法通过将被测程序抽象成有限状态机，将测试程序及测试用例的编写集中到单个状态上。在软件结构或逻辑发生改变时，能够通过对旧状态测试程序的重新组合进行新的测试。无需大量修改测试程序从而保存了先前的测试用例。     

结合奇偶测试的大规模集成电路征兆测试

征兆测试是一种高效简捷的电路测试方法。该文提出一种适用于大规模集成电路的测试方法——组合征兆测试法。利用这种方法,测试者可以通过穷举输入组合,使奇偶测试和征兆测试相结合,共同解决对大规模集成电路故障测试的难题。主要思想是:首先通过被测电路的奇偶性判断该电路的征兆测试法的可测性,对征兆测试法不可测的电路,引入高阶征兆测试的思想,使其成为高阶征兆测试法可测电路。结果表明:该方法在提高可测性的同时,还提高了电路征兆测试的测试效率和故障覆盖率。通过对一些基准电路和常用电路的测试验证了该方法的实用性。     

非齐次泊松过程类软件可靠性增长模型

现有的基于故障覆盖率的软件可靠性增长模型多是只考虑了累计故障覆盖率 ,没有描述每个测试用例能够获得的故障覆盖率 .为了使软件可靠性增长模型能更好地刻画软件的测试过程 ,建立了两个基于故障覆盖率的非齐次泊松过程类软件可靠性增长模型 .第一个模型假设每个测试用例有相同的故障检测能力 ,能获得相同的故障覆盖率 ;第二个模型考虑了越晚检测到的故障其被检测到的概率越低的特点 ,模型假设每个测试用例的故障检测能力与其出现的次序相关 .利用一组公开发表的软件失效数据对这两个模型进行了验证 ,结果表明这两个模型在这组失效数据上均能得到较好的拟合效果 .     

基于非正弦激励的模拟电路故障诊断

传统交流故障字典法通过施加不同频率的正弦激励,以获得对待测电路中频率敏感元件更高的故障覆盖率。为减少多次对待测电路施加激励的时间开销,该文提出可将多个不同频率激励进行叠加,得到非正弦的激励信号作为待测电路激励。在此背景下,讨论了产生一个非正弦激励信号,使之能够包含所需测试频率分量的方法。并分析了在施加非正弦激励下情形下,对待测电路响应中不同频率分量进行解耦,识别各分量交流参数的可行性和需要解决的问题。结果表明:在已知叠加前波形频域特征时,可以反推出叠加前各个原始波形的特征参数。因此,可以在实现压缩传统交流故障字典法测试时间的同时,达到与传统方法相近的诊断能力。     

汽车统一诊断服务诊断协议栈网络层测试方法

提出了一种基于CAN总线的汽车统一诊断服务(UDS)诊断协议栈开发过程中的网络层功能测试方法.利用AutoCAN总线设计工具,将位于PC机的上层测试仪与搭载有被测协议栈的下层测试仪连接,形成实际总线测试网络.通过参数分层法,结合实际被测协议栈通信要求,建立测试用例集,并据此编写测试脚本和仿真运行.通过监控每一条测试用例的报文流记录,判断其是否符合测试要求.该方法能够实现UDS诊断协议栈的网络层测试,验证网络层是否符合国际标准.     

改进的基于STUMPS架构的BIST电路设计

传统的STUMPS测试方法,存在测试时间长和故障覆盖率不够高的缺点。现采用Test-Per-Clock方式和向量压缩的方法处理待测电路,减少测试时间;用随机测试模式加存储测试模式来提高故障覆盖率。经ISCAS85标准测试电路验证,新方案取得了令人满意的结果。     

测试用例自动生成中约束求解策略的选择

在软件测试中,构造测试用例是非常重要的一环.传统的测试用例生成方法都由测试人员手动完成,这种生成方式效率低下成本高昂,同时生成的测试用例非常有限,覆盖率较低.首先探讨了通过约束求解的方法,通过分析程序路径中所有的约束表达式,逆推得到测试用例的过程;然后调查了不同类型的C语言工程的待测源码的统计结果,同时针对其特征,引入了不同的约束求解算法策略;最后通过各种策略的组合与配置,给出了一种具有普遍性的测试用例自动生成的约束求解方法.     

基于覆盖率的面向对象软件自适应随机测试方法

针对现有面向对象软件(OOS)自适应随机测试中挑选测试用例的有效性及错误检测率不高的问题,提出了基于覆盖率的面向对象软件自适应随机测试方法.新方法在生成候选测试用例集时考虑了代码覆盖率信息,将语句覆盖率同测试用例差异性信息综合考虑来挑选将执行的测试用例,从而提高错误检测率.给出了覆盖率动态排序监测技术整体框架、预处理模块、程序插桩模块及排序模块;叙述了DTCGOOS-Cov算法.采用ID3Manage,RabbitAndFox,SATM,SchoolManagement,WaveletLibrary以及WindShieldWiper这6个被测类库,将新方法与传统自适应随机测试方法和纯随机测试方法进行了对比试验.结果表明:基于覆盖率的OOS自适应随机测试方法在F_m和E_m这2项指标上要优于其他2种方法.     

大线性电阻电路的单故障诊断的一种方法

提出了非线性模拟电路故障诊断的一种测前模拟法。应用伴随电路及特勒根定理导出故障诊断方程，用等电位屏蔽技术识别故障，非线性元件用其工作点参数等效线性化，可对故障电路逐级分块诊断，适用于大规模线性和非线性模拟电路。     

一种新的LSI/VLSI电路测试方法

本文提出一种根据输出端值的变化频度测试LSI/VLSI电路I/O线上的固定故障的方法。该方法的优点是不需待测电路功能函数,也不需标准电路作比较。文章同时讨论用软件和硬件的实现方法。     

非线性电阻电路的单故障诊断的一种方法

提出了非线性模拟电路故障诊断的一种测前模拟法．应用伴随电路及特勒根定理导出故障诊断方程，用等电位屏蔽技术识别故障．非线性元件用其工作点参数等效线性化，可对故障电路逐级分块诊断，适用于大规模线性和非线性模拟电路．