X射线测厚仪RM312的补偿及修正

厚度控制在整个板材轧制中起到一锤定音的作用,x射线测厚仪RM312能够实时连续测量被测板材厚度.x射线测厚仪RM312是一种非接触式,精度较高的测厚仪器,而测厚仪的补偿及修正是测量是否准确的关键.本文作者在此就X射线测厚仪RM312的补偿及修正略作论述.     

X光测厚仪原理与系统应用

工业用测厚仪有接触式和非接触式两种，通常在线测量使用非接触式测厚仪。x光测厚仪应用x射线穿过被测材料的衰减来检测厚度。这种测厚仪在热轧机工作现场得到广泛应用。本文通过对热轧机所使用的x光测厚仪的分析，介绍了测厚仪的工作原理，描述测厚仪的射线发射和接受装置，对于影响测厚精度的各种因素进行分析和消除，对测厚仪硬件系统的组成、操作系统的结构和功能进行了说明。     

X射线测厚仪在镀锌线生产线的应用

为了提高镀锌产品质量及降低生产成本,锌层厚度在线测量技术在近年来得到了快速的发展.首钢京唐公司两条热镀锌机组使用了目前钢铁行业中最先进的镀层厚度测量系统,即X射线荧光冷态镀层测厚仪测量系统.可以使用X射线荧光测量法来稳定快速的测量带钢表面的镀层厚度,这样冷轧镀锌处理线所要求的高速和自动化生产均可得到充分满足,所以该方法不仅在我厂还在国内外个大钢厂的冷轧镀锌处理线上得到了广泛的应用.以首钢京唐公司热镀锌机组的安装调试及其实际应用为例,通过将X射线荧光测量技术的原理和处理线处的造型以及最佳安装位置等相结合进行分析,对X射线荧光测量技术进行一个较为全面的工程应用的介绍.     

用于X射线测厚仪的高压直流电源的设计

为了解决X射线测厚仪管电压纹波系数大,电源稳定度低等问题,设计了一种用于X射线测厚仪的高压直流电源。设计电压为80 kV、电流为1 mA,系统采用了正负双向倍压整流电路。测试结果表明,所设计的高压直流电源稳定度高、纹波系数小。     

2,3,4,5,6-五氟苯乙烯聚合物刷的制备和表征

用原子转移自由基聚合方法在硅片表面制备了2,3,4,5,6-五氟苯乙烯聚合物刷．利用椭圆偏正光测厚仪、接触角测定仪和X射线光电子能谱仪对薄膜结构进行了表征．     

X射线衍射测量中扫描速度对实验结果的影响

分析了X射线衍射测量中扫描速度对衍射结果的影响。在实验基础上分别对广角X射线衍射和小角X射线衍射在不同扫描速度下的研究进行了探讨。结果表明,在广角X射线衍射分析测量中,要想得到理想的衍射数据,扫描速度设定为2deg./min比较合适。在小角X射线衍射测量中,扫描速度设定为0.5deg./min较为合理。     

X射线测厚仪在铝合金产品上的应用

介绍了x射线测厚仪的系统组成、基本原理，提供了测厚仪的合金补偿和精度检验方法，并对实际生产过程中影响铝合金产品厚度控制精度的一些因素进行了阐述。     

软X光激光In衰减膜的制备及测量

通过对制备工艺的摸索 ,制备出用于软X光激光实验的In衰减膜 ;利用α能谱测厚仪对In衰减膜的质量厚度进行了测量 ;通过俄歇电子谱并结合Ar离子刻蚀对In膜表面氧化及氧元素质量分数的深度分布进行了分析 .     

X射线辐射对环氧树脂固化物介电性能和微观结构的影响研究

在不同时长和能量的X射线辐射下,对固化后环氧树脂电绝缘材料的介电性能和微观结构的变化情况进行研究。使用柱-柱电极、介电谱仪、高阻仪对辐射过的环氧树脂进行了击穿场强测试、介电常数测量、电阻率测量。用扫描电镜(SEM)、X射线衍射仪(XRD)对辐射过后的环氧树脂进行了微观形貌测量,材料的结晶度、结晶尺寸测量。结果表明:X射线辐射对固化后的环氧树脂的介电性能、微观结构和外貌特征均有影响,环氧树脂的介电性能与其微观结构有着密切的关系。     

X射线管激发源荧光分析仪的应用

文章介绍X射线光管作为激发源的荧光仪在铜矿中的应用研究。通过对标准样品的测量,选定了X射线光管对铜元素测量的最佳激发条件。采用适当的方法对基体效应、不平度效应进行校正,较为准确地测量出矿物岩石样品中的铜元素含量,以满足矿山生产的需求。     

X射线衍射强度公式的修正

X射线衍射技术在物相分析、点阵参数测量以及微应力的测定等方面被广泛应用,为了更精确地确定物理参数,X射线衍射强度的精确计算是十分重要的.目前单晶X射线衍射的强度公式的理论计算结果与实验数据有较大偏差.对衍射强度公式进行合理修正,使计算结果得到较大改善,并与实验测量的数据符合得更好.     

纳米颗粒的测量与表征

介绍了纳米颗粒测量的各种方法,有电镜观察法,X射线衍射线宽法,激光粒度分析法,比表面积法,颗粒沉降法,拉曼散射法,扫描探针显微术以及小角X射线散射等,并对其测量原理,测量过程,适用范围及测量方法优缺点进行了讨论。     

医用诊断螺旋计算机断层摄影装置（CT）X射线辐射源测量不确定度评定

以医用诊断螺旋计算机断层摄影装置（CT）X射线辐射源为例,分析了用剂量计测量医用诊断螺旋计算机断层摄影装置（CT）X射线辐射源的误差来源,并对各不确定度分量进行了评估,并在此基层上给出了扩展测量不确定度。     

载气对氢化物气相外延生长厚层GaN基片的影响

采用氢化物气相外延(HVPE)法生长出了高质量的厚层GaN基片。用高分辨X射线双晶衍射仪(DCXRD)及测厚仪对以N2和H2、N2混合为载气生长的基片进行测试。结果表明载气中通入H2可获得较高质量的GaN晶体,同时可以大大降低晶片的弯曲度,便于GaN材料的应用。     

X射线透射法测量金属板各向异性的实验研究

具有织构的多晶体材料在宏观性能上表现为各向异性。利用X射线能够穿透金属薄板的性质,提出了一种利用X射线透射衍射法测量金属薄板材残余应力各向异性的实验方法。与常规的X射线反射衍射法相比,这种方法测量过程直观快捷、数据结果准确度高,克服了常规测量方法的一些不足,是常规X射线应力测量方法的一种有效补充。更适合学生教学实验,使学生能够深入理解织构造成材料的各向异性,掌握测量各向异性的基本表征手段。实验结果表明测量的变形纯铜板残余应力呈现各向异性分布。     

测量微球覆层厚度的X射线衍射法

对采用X射线衍射测量微球覆层厚度的方法进行研究,首先在建立微球X射线衍射数学模型的基础上,利用1组已知厚度和X射线衍射线积分强度的标样,用计算机模拟求解的方法,得到微球衍射线积分强度和覆层厚度的关系.然后,在相同条件下进行待测试样的X射线衍射实验,将其衍射线积分强度代入求解模型得到的结果中就能得到待测试样的覆层厚度.实验结果表明,X射线衍射法是可行的,具有快速、方便、非破坏、不接触等特点.     

便携式荧光仪快速测量多金属矿床中的镍铜品位

本项研究工作解决了放射性同位素源X射线荧光分析技术中,使用闪烁测探器的便携式X射线荧光仪不需要装卸更换滤片快速测量几个待测元素的强度,并且进行基体效应校正的问题。这种方法简便易行,能够节省测量时间,提高工作效率。     

测量微球覆层厚度的X射线衍射法

对采用X射线衍射测量微球覆层厚度的方法进行了研究,首先在建立微球X射线衍射数学模型的基础上,利用一组已知厚度和X射线衍射线积分强度的标样,通过计算机模拟求解的方法,得到微球衍射线积分强度和覆层厚度的关系.然后,在相同条件下进行待测试样的X射线衍射实验,将其衍射线积分强度代入求解模型得到的结果中就能得到待测试样的覆层厚度.实验结果表明,X射线衍射法是可行的,具有快速、方便、非破坏、不接触等特点.     

基于脉冲星和太阳敏感器的日地系Halo轨道组合导航研究

为提高平动点轨道探测器的自主导航能力,提出一种利用X射线脉冲星和太阳敏感器的导航算法. 利用X射线脉冲星导航理论,用X射线探测器测量X射线脉冲到达时间,同时利用太阳敏感器测量太阳视线方向矢量,建立导航系统观测方程. 在高精度星历模型下,对日地系Halo轨道建立数学模型,利用二级微分修正方法获取地球质心惯性系下的标称轨道,利用基于UD分解的联邦Unscented卡尔曼滤波方法进行状态估计,并研究了摄动因素对导航结果的影响. 仿真结果表明,该方法能够完成日地系平动点轨道的自主导航,并且比X射线脉冲星单独导航具有更高的导航精度.      

基于X射线和伽马源的密度测井数值模拟

通过XCOM程序计算和分析不同介质发生光电效应和康普顿散射的衰减系数随射线能量的变化规律,并利用蒙特卡罗模拟方法研究基于X射线和~(137)Cs伽马源的地层散射能谱以及密度测井响应和精度。结果表明,由于所采用的X射线能量比0.662 MeV的伽马射线低,对于同种地层介质,X射线衰减快,密度越大,差异越明显;在源距相同的条件下,较低能量的X射线源地层密度响应灵敏度比~(137)Cs伽马源的高,但受岩性影响更大;在考虑源强的情况下,当X射线源对应源距为33 cm、伽马源对应源距为38 cm时,X射线源的计数统计性与伽马源的计数统计性相当,X射线源的密度响应灵敏度比伽马源的高,且X射线源的密度测量不确定度小,测量精度高,而伽马源的密度测量不确定度大,测量精度低。X射线源可以替代~(137)Cs伽马源进行密度测井,但在仪器设计、能谱处理和密度计算等方面还需要进行深入研究。