低辐射CBCT系统成像时序的控制与实现

 简述了锥束CT(CBCT)的工作原理,分析了X射线源连续照射和脉冲式照射两种成像方式的优劣,采用脉冲式照射成像方式,完成了低辐射CBCT系统成像的设计。在此基础上,实现了PaxScan 2520平板探测器的内、外两种读图触发模式下的X射线成像。实验结果表明,相比于X射线源连续照射的成像方式,脉冲式照射成像较大地减少了X射线辐射时间,提高了CBCT的安全性能。内、外两种触发模式下的脉冲式X射线成像对于图像的质量没有区别,模式的选择取决于是否需要主动控制X射线的发射。     

“双源散射法”校正X射线荧光分析中的基体效应

引言在X射线荧光分析中,待测元素的含量不仅仅是其特征X射线强度的函数,而且也是样品对初级辐射和特征X射线的质量吸收系数的函数。在理想条件下,待测元素的含量与特征X射线的强度呈线性关系。对于地质样品,这种理想条件严格说并不存在,需要对测量到的     

EDXRF中几何探测光路分析及其优化设计

能量色散X射线荧光分析因其分析速度快、准确度高、分析过程简单等优势已经广泛的应用到医疗、考古等诸多领域。探测光路的最优化设计可以减小仪器散射本底,降低检出限,提高仪器的分辨率及探测效率,增强特征X射线的全能峰的峰背比,改善仪器的工作性能。应用自制的一款低检出限、高分辨率的能量色散X射线荧光分析仪,通过对纯元素Cu特征X射线探测完成了光谱仪几何光路最优化设计。实验结果表明,X射线管与样品的夹角、样品与探测器的夹角均为45°,X射线管到样品、样品到探测器的距离均为10mm时,特征X射线的峰背比最佳。同时将Al-Pb准直加装在光路中进行本底测量,散射本底以及仪器的检出限大大降低,提高了仪器的分辨率及探测效率,为痕量和微量元素的分析提供了优化的光路解决方案。     

NSRL衍射和散射站的性能及在材料科学中的典型应用

介绍了国家同步辐射实验室二期工程X射线衍射和散射光束线实验站的建设与主要设备.利用设备采用X射线反射法,在不破坏样品的情况下得到了Si/C多层膜的结构信息;通过对标准Si粉末样品的FWHM测试表明该站可进行粉末全谱扫描;利用X射线掠入射衍射技术分析了ZnO薄膜的生长条件与结构的关系;采用X射线散斑方法直接观测了弛豫铁电体内部的纳米空间尺度的电极化团簇的空间时间构造.     

Cr掺杂ZnO薄膜的制备及磁性机制研究

采用磁控交替溅射方法以及真空退火处理制备了Zn1-xCrO薄膜,采用X射线衍射、X射线光电子能谱、物理性质测量仪对样品的结构、表面形态以及磁学性质进行了测试与分析．测试结果表明所有掺杂样品在室温下均具有微弱的铁磁性,并初步给出了其磁性机制．     

X射线衍射测量2∶17型稀土-过渡族化合物晶胞参数和体积的计算程序

针对在2∶17型稀土-过渡族化合物研究中,经常使用多晶X射线衍射测量晶胞参数的方法,利用VC 语言编写了计算晶胞参数的应用程序,用以完成由样品的X射线衍射谱直接计算出其晶胞参数和体积的工作.     

NSRL衍射和散射站的性能及在材料科学中的典型应用

介绍了国家同步辐射实验室二期工程X射线衍射和散射光束线实验站的建设与主要设备．利用设备采用X射线反射法，在不破坏样品的情况下得到了Si／C多层膜的结构信息；通过对标准Si粉末样品的FWHM测试表明该站可进行粉末全谱扫描；利用X射线掠入射衍射技术分析了ZnO薄膜的生长条件与结构的关系；采用X射线散斑方法直接观测了弛豫铁电体内部的纳米空间尺度的电极化团簇的空间时间构造．     

X 射线超反射镜设计、制作与表征

探讨了 X 射线波段超反射镜的设计, 采用了周期膜堆作初始条件加单纯形局域优化和模拟退火全局优化方法, 设计了工作能量为Cu的Kα(8.0 keV)线的不同掠入射角和不同角度带宽的宽角度X射线超反射镜和8~25 keV范围内不同掠入射角和不同能量带宽的宽带X射线超反射镜. 同时, 还系统研究了非周期多层膜超反射镜的制备工艺, 解决了多层膜制备过程中遇到的一些工艺性问题和精确定标的问题, 进行了不同膜层材料对组合的超反射镜制备实验, 成功制备了相应的多层膜样品. 利用高分辨率X射线衍射仪测量了样品的反射率, 所得结果与设计值基本相符.     

La掺杂双钙钛矿Ba2NiMoO6的磁性和铁电性能

通过固相烧结工艺制备Ba2-xLaxNiMoO6(x=0,0.1)陶瓷样品,采用多晶X射线衍射仪和扫描电子显微技术对样品的物相成分、晶体结构及其表面形貌进行表征与分析.实验样品的X射线衍射谱与理论模拟多晶样品的X射线标准谱比较,显示样品相已经形成.X射线衍射分析结果表明,Ba2NiMoO6晶体原胞(a=b=c=0.8045 nm)属于立方晶系,空间群为Pm3m,布拉格衍射峰(1,1,1),(3,1,1)分别为样品中Ni离子和Mo离子有序占据B位超晶格有序峰,实验显示La掺杂对样品的晶胞参数影响很小.对样品铁电性能的测试表明,A位的替代增强了Ba2NiMoO6的偶极运动,使剩余极化得到提高.通过振动样品磁强计(VSM)测量样品磁化强度与磁场强度的关系,表明样品在室温下呈现顺磁行为.     

康普顿散射强度与质量吸收系数关系的研究

一、引言近些年来,在对矿物、岩石样品和其它地质矿石样品的X射线荧光分析中,利用初级辐射与样品物质相互作用时产生的康普顿散射射线强度来校正“基体效应”获得广泛的应用。自1963年R.C.Reynods发现;样品的质量吸收系数与康普顿散射射线强度的倒数呈线性关系后,H.Mastins M.Franzini以及E.D.Stephen等人的工作都证实了     

X射线衍射测量2:17型稀土-过渡族化合物晶胞参数和体积的计算程序

针对在2：17型稀土-过渡族化合物研究中，经常使用多晶X射线衍射测量晶胞参数的方法，利用VC＋＋语言编写了计算晶胞参数的应用程序，用以完成由样品的X射线衍射谱直接计算出其晶胞参数和体积的工作．     

掺钒电解二氧化锰的放电特性及其某些理化性能(Ⅰ)

掺钒电解二氧化锰(EMD-V)样品是在合有VOSO_4的H_2SO_4-MnSO_4溶液中通过阳极氧化制备的。EMD-V样品在中性NH_4Cl-ZnCI_2电解质中的放电性能优于未掺杂EMD样品。X射线衍射图表明,EMD-V样品属于γ型MnO_2,具有纤维态结构。X射线光电子能谱分析表明,钒在EMD-V样品中以V_2O_5的形式存在。     

制备条件对ZnCuAlO稀磁半导体性质的影响

以Zn,Al,Cu的含水硝酸盐和柠檬酸为原料,采用溶胶—凝胶法(sol-gel)法在氩气气氛中分别采用600℃和650℃进行烧结得到纯相的ZnCuAlO稀磁半导体粉末样品.利用X射线衍射(XRD)、X射线光电子能谱(XPS)、光致发光谱仪(PL)、振动样品磁强计(VSM)对所制备样品的结构、样品中元素的化学价态、样品光致发光性能及磁性进行研究.实验结果表明,制备样品的温度升高会使样品中的氧空穴的增加,从而影响样品的性质.     

携带式放射性同位素x—射线萤光仪

随着我国地质事业的发展,为了适应野外地质工作的需要,成都地质学院、地科院地质矿产研究所、上海地质仪器厂等单位,于1973年9月试制成功第一台携带式放射性同位素 X—射线萤光仪。放射性同位素 X—射线萤光仪,是用来直接测定岩矿样品中有用元素含量的。其特点是     

基于CCD的软X射线成像系统研究

随着空间科学技术的发展,空间科学试验对样品的检测技术提出了新的要求,不但要求能在线检测样品,而且还能实时分析实验进程与样品变化。通过对软X射线实时成像技术的研究,从软X射线源、软X射线转换装置、CCD驱动电路、信号采集电路等方面提出在空间开展软X射线成像实验的技术途径和实现方法,为空间科学实验的在线无损检测创造技术条件。     

X射线管激发源荧光分析仪的应用

文章介绍X射线光管作为激发源的荧光仪在铜矿中的应用研究。通过对标准样品的测量,选定了X射线光管对铜元素测量的最佳激发条件。采用适当的方法对基体效应、不平度效应进行校正,较为准确地测量出矿物岩石样品中的铜元素含量,以满足矿山生产的需求。     

稀土掺杂热障涂层材料分立成分样品的高通量 X 射线表征

随着科研人员对材料科学研发的不断投入, 高通量 X 射线表征技术的广泛应用极大提高了新材料的研发效率. 高通量 X 射线表征技术是材料基因组工程研究的重要工具. 设计了高通量 X 射线表征系统, 研究了不同含量稀土元素掺杂热障涂层材料对其结构相稳定性的影响. 样品台可进行高精度 $x$-$y$ 二维平面平动, 在保证数据样品质量的情况下,仅用极短时间就能测试多个分立样品.     

稀土掺杂热障涂层材料分立成分样品的高通量X射线表征

随着科研人员对材料科学研发的不断投入,高通量X射线表征技术的广泛应用极大提高了新材料的研发效率.高通量X射线表征技术是材料基因组工程研究的重要工具.设计了高通量X射线表征系统,研究了不同含量稀土元素掺杂热障涂层材料对其结构相稳定性的影响.样品台可进行高精度x-y二维平面平动,在保证数据样品质量的情况下,仅用极短时间就能测试多个分立样品.     

Ag-NiMnGa颗粒膜分析

利用离子束溅射技术制备了AgNiMnGa颗粒膜的系列样品.分别采用广角X射线衍射(WXRD)技术和掠入射X射线散射(GIXS)技术分析了样品的物相组成和膜面与内层结构,NiMnGa颗粒平均尺寸为5 5nm;样品膜厚度为463nm.对样品电磁性能的研究表明:颗粒膜在室温下磁场扫描测量中呈现明显的磁致电阻效应;其伴随有振荡的非线形电流电压关系揭示了介观系统具有的输运特征.     

X射线衍射技术及其在材料表征实验的研究综述

X射线衍射技术是一种不损害材料、无污染、精确测量并能得到样品完整结构信息的测量技术,在材料研究的众多领域得以应用。该文主要介绍了X射线衍射的产生及其工作原理,从物相分析、应力测量、晶粒尺寸和结晶度测量等方面概述了该技术在材料结构表征中的应用。