αFe2O3超微粒的^57Fe穆斯堡尔谱

利用沉淀法制备了α－Ｆｅ２Ｏ３超微粒，用Ｘ射线衍射仪和扫描电镜对样品的结构和粒度进行了分析，并在室温下测量了不同粒度样品的穆斯堡尔谱，结果表明，α－Ｆｅ２Ｏ３超微粒存在明显的超顺磁现象，在室温至８０Ｋ的温度范围内测量了一个样品（１７ｎｍ）的穆斯堡尔谱，未见莫林（Ｍｏｒｉｎ）转变，随着粒度和测量温度的改变，样品的穆斯堡尔谱的超顺磁成分，同质异能够位，四极分裂，内磁场发生了变化，对上述穆斯堡尔参数的变     

高导磁镍铁钼镀层的穆斯堡尔谱研究

用穆斯堡尔谱对镍铁钼电镀层的磁织构进行了研究.给出了样品存在低内场分量的情况下,定量测量铁原子磁矩取向的实验和计算方法.     

Eu（OH）3超微粒的制备及热处理过程的研究

本文利用化学沉淀法制备了Ｅｕ（ＯＨ）３超微粒样品，将样品在不同温度下于空气中热处理２小时，得到一系列Ｅｕ２Ｏ３超微粒样品，利用Ｘ－ｒａｙ衍射仪对样品的结构和粒度进行了测试分析，发现Ｅｕ２Ｏ３超微粒样品相对于大块同类物质发生了“晶格膨胀”．     

Eu1—xSrxFeO3—y的^57FeMossbauer谱

报导Ｅｕ１－ｘＳｒｘＦｅＯ３－ｙ（ｘ＝０．０－１．０）的固相反应法合成，测量子其Ｘ射线衍射及室温下的＾５７ＦｅＭｏｓｓｂａｕｅｒ谱。实验结果表明，Ｓｒ掺入了ＥｕＦｅＯ３晶格，结构变化与掺杂量密切相关。     

α－FeOOH超微粒的制备及热处理

利用化学沉淀法制备了α－ＦｅＯＯＨ超微粒，将其在不同温度下于空气氛中进行热处理，并使用ｘ－ｒａｙ衍射和透射电镜及热重分析仪对样品进行了测试与分析．     

低温固相反应法制备CoFe_2O_4纳米颗粒

采用低温固相反应法以CoCl2、FeCl3和NaOH为原料制备了CoFe2O4铁氧体纳米粉体．采用X射线衍射仪（XRD）扫描电子显微镜（SEM）振动样品磁强计（VSM）对样品的成分、形貌和宏观磁性进行了表征,利用等加速穆斯堡尔谱仪对样品进行了穆斯堡尔谱的测量．结果表明,使用本方法可以在较低的温度下（90℃）方便地得到纯度较高,颗粒度（11～56nm）分布较均匀的CoFe2O4纳米颗粒．用这种方法制备的CoFe2O4粉体单畴临界尺寸在23nm左右．超精细场随着退火温度的升高而增大．     

制备条件对FeO4超微粒粒度和纯度的影响

采用共沉淀法在不同反应条件下制备了二个系列的Ｆｅ３Ｏ４超微料，利用Ｘ射线衍射仪和ＴＥＭ对样品的万分和形貌进行了分析。在室温下测量了二个系列样品的穆斯堡尔谱，对穆斯堡尔谱的变化进行了讨论。     

YBa_2Cu_(3-x)Sn_xO_(7-y)的制备和穆斯堡尔谱学研究

本文报告了高温超导材料YBa_2Cu_(3-x)Sn_xO_(7-y)(x=0,0.1,0.2,0.3,0.4)的制备和测试.在290K至80K的温度范围内,测量了超导样品YBa_2Cu_(2.8)Sn_(0.2)O_(7-y)的~(119)Sn穆斯堡尔谱,指出了声子对高温超导电性的作用.     

磷酸钴胶体粒子的制备和性能研究

详细地研究了均匀的球形磷酸钴胶体粒子的制备方法;并对其性能进行了综合测试考查,其粒子的化学组成经鉴定在常温下为Co_3(PO_4)_2·XH_2O。     

沉淀法制备超微粒过程中反应物浓度对样品粒度的影响

通过沉淀法制备了Ｆｅ３Ｏ４超微粒样品，应用ｘ－ｒａｙ衍射仪及透射电子显微镜对样品进行了测试分析，对制备样品过程中反应物浓度对超微粒样品粒度的影响进行了研究。     

快生型大豆根瘤菌剂的制备及接种效果分析

利用从本省分离的快生型大豆要根瘤菌制作根瘤菌剂,接种本省大豆品种。研究发现,其中HSD266的瘤重,接种后的植株干重,百粒重和产量均高于从美国引进的阳性对照菌株,增产达17％,另二株的上述指标不如对照。     

Sm3+掺杂纳米晶ZrO2材料的制备及表征

用化学沉淀法制备纳米晶ZrO2∶Sm3 发光粉体,用X射线衍射谱对材料的粒径和晶体结构进行了表征,探讨了制备条件对样品粒径和晶体结构的影响.用荧光激发和发射光谱对材料的发光性质进行了表征,合理地归属了各谱项和跃迁.     

核磁共振波谱仪探头电路剖析与研制

对核磁共振波谱仪所用的双调谐共用线圈探头进行系统电路分析,并推导出设计制作的理论公式,根据公式设计制作了傅立叶变换波谱仪的高质探头电路,用在ＣＨ４００型核磁共振仪上,灵敏度性能达到５０∶１,在５ｍｍ氢探头和１％甲苯,对５０％的乙醛可达到５．２４×１０－９的分辨率     

间甲酚的直接溴化及产物的结构分析

本文研究了间甲酸在水的冰点以上直接溴化反应；应用波谱手段对－溴代产物进行了结构分析，证明其主要产物是４－溴－３一甲基本酚；探索了溶剂和温度对反应的影响．     

空间滤波成像分析及其光强计算

正交光栅在氦氖激光束照明下,透镜的后焦面上将呈现出“空间频谱”。其中的每一频谱分量均可视作独立的点光源。任意二点均可产生干涉图样;但它们所带的光栅信息,只有在像面上才能完整体现。图像的光强分布计算与其照片一致。