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相似文献
 共查询到16条相似文献,搜索用时 62 毫秒
1.
就薄膜干涉中两反射光间的额外光程差问题展开论述。首先给出半波损失的概念,强调入射光在掠入射或正入射两种情况下,反射光才可产生半波损失。其次讨论薄膜干涉中各种情况下反射光间的额外光程差。第1种情况是折射率为n2的薄膜处于折射率为n1的介质中,可分为n1〉n2和n1n2〉n3,n1n2n34种情况。分别讨论了反射光间是否存在额外光程差,并且对入射角的范围作了说明,同时更正了部分文献的错误。与某些教科书给出的结论不同,当媒质的折射率逐次变化时,也会存在一个额外光程差,但不是λ/2;而当薄膜上下表面物理性质相反时,也有额外光程差不为λ/2的特例。  相似文献   

2.
本文对薄膜干涉中两反射光之间的额外光程差的出现归结为“半波损失”提出了看法,并对额外光程差在什么条件下才等于λ/2进行了讨论。  相似文献   

3.
关于薄膜干涉中额外程差的问题   总被引:3,自引:0,他引:3  
指出了教科书中有关薄膜干涉额外程差在两种情况下论述的不妥 ,并根据菲涅耳公式推导出薄膜干涉中当n1n3 或n1>n2 n2 >n3 或n1相似文献   

4.
利用菲涅耳公式阐述了反射时出现的半波损失,薄膜干涉时出现的额外光程差问题,解释了布儒斯特定律、全反射现象.  相似文献   

5.
对薄膜干涉中两束反射光的额外光程差问题进行讨论,利用Frsnel公式指出,当光在两平行界面的入射角i1和-/i1不同时大于布儒斯特色时,两反射光的额外光程差不等于λ/2  相似文献   

6.
本文主要研究了关于相干干涉中光程差产生的条件与干涉条纹的级数问题,并对几种典型干涉进行了探讨。  相似文献   

7.
在许多大学物理教材中,对半波损失和附加光程差的问题都没有详细说明,给教学造成了一定的困难。本文根据半波损失产生的原因,总结了附加光程差是否存在的规律,希望对学生的学习有一定的帮助。  相似文献   

8.
利用半波损失原理,重新分析附加光程差在薄膜干涉中的形式,从而消除一般教材中对附加光程差描述的混乱,使读者对此问题认识得更彻底。  相似文献   

9.
薄膜干涉的附加光程差和条纹特点   总被引:1,自引:0,他引:1  
用菲涅尔公式简便地推导了薄膜干涉的附加光程差,并总结出了记忆方法;在此基础上,推导和讨论了等倾干涉条纹的特点。  相似文献   

10.
本文深入讨论了半波损失,额外程差以及它们的区别和联系,并通过讨论得出了额外程差±λ/2的取值并不影响薄膜干涉问题结果的结论。本文澄清了教学中的一些模糊认识。  相似文献   

11.
较详细地讨论了平面平行薄膜与不平行平面薄膜的干涉定域问题,并给出了数值计算结果。  相似文献   

12.
针对所研制的海面溢油油膜厚度测量传感器的测量范围和精度进行了研究.在分析基于垂直入射差分激光三角法油膜厚度测量原理的基础上,分别采用厚度0.1,mm的塞尺和10,mm的陶瓷量块对传感器的测量上下限进行了验证,并采用厚度为1~10,mm的0级陶瓷量块对传感器进行了精度测量和分析.结果表明,所研制的油膜厚度测量传感器的范围为0.1~10,mm,测量相对误差小于1%.  相似文献   

13.
光的干涉装置发生变化时,其干涉图样亦发生变化,本文通过对干涉条纹形状、条数、疏密等的变化及移动方向的定性分析,总结了分析这类问题的一般方法,表明了解决该问题的关键在于分析光程差.  相似文献   

14.
在无线通信系统中,用户间干扰总是制约着网络的吞吐量,因此寻求有效的干扰管理方法显得尤为关键.文中首先引出多种传统的干扰管理方法,但基于这些方法的系统容量都会受到干扰的限制,而且随着用户数的增加,很难获取这些方法的一般解.然而干扰对齐算法可使系统的总容量随着用户数的增加线性递增,文中重点综述两类干扰对齐算法:一类是基于信号空间的干扰对齐算法,另一类是基于信号编码级的干扰对齐算法,最后简要分析了干扰对齐算法的可行性和应用前景.  相似文献   

15.
《工程岩体分级标准》(GB/T 50218—2014)修改了原标准GB 50218—1994中的BQ(basic quality)分级指标计算公式,但其两个限定条件(岩石饱和单轴抗压强度和岩体完整性系数)没有进行同步修正.通过大量数据研究发现,直接用受岩石饱和单轴抗压强度(Rc)和岩体完整性系数(Kv)限定条件折减后的数据进行定量计算,多会导致定性与定量计算结果不吻合.本文对限定条件进行修正,并基于简化的图解法进行分析,得出Rc限定条件的影响范围较广泛,则以数据库中新增54组数据为样本,由Rc限定条件折减的数据进行回归分析建立新的计算公式.将得到的修正后的限定条件和新的区段计算公式,依托实际工程数据进行验证.结果表明,本文修正的限定条件和提出的计算公式提高了定性分级与定量分级的吻合度,得到了更准确的分级结果.  相似文献   

16.
用等厚干涉测液体折射率   总被引:2,自引:0,他引:2  
采用劈尖实验装置在不改变劈尖膜条件下,同时测得空气膜和液体膜的干涉条纹宽度,并进一步计算出实验结果,从而得到一种方便求出液体折射率的新方法.  相似文献   

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