红外线阵探测器非均匀性校正的DSP实现

红外线阵探测器推扫成象是当今红外成象技术发展的主流方向,但普遍存在着的探测器响应率非均 匀性问题影响了系统成象的质量。首先分析了红外线阵探测器非均匀性的成因,然后讨论了非均匀性校正 的算法,并在此基础上着重论述了一种基于DSP的硬件实现,给出了试验结果。     

红外图像非均匀性校正算法评估

红外图像非均匀性校正算法的选择直接影响成像质量和实现的难易程度.通过采集到的红外图像,对常用的几种非均匀性校正算法进行了定量分析和定性比较,结果发现,两点非均匀性校正算法、两点与LMS综合算法均有较好的校正效果,但综合算法具有更小的剩余非均匀性.非均匀性的评估为红外图像处理算法的选择提供了依据.     

一种高精度CCD测试系统的非均匀性校正方法

针对高精度光电耦合器件(CCD)测试系统中像素的非均匀性给测试结果带来较大误差的问题,根据引起图像像素非均匀性噪声的特性,建立了对应的图像模型.采用自适应阈值分割算法将图像二值化分离出有效使用像素,并提出了一种采用两点线性方法对非均匀性像素进行校正的算法.仿真实验采用高速面阵CCD采集由激光器发射的圆形光斑图像,并通过计算图像光斑的中心坐标进行了验证.结果表明,该算法能够将图像的复杂背景与光斑分离,可校正其像素的非均匀性,稳定光斑的像素灰度值.在相同条件下连续采集图像,图像光斑的中心坐标稳定.     

基于线阵CCD的带材边缘检测系统研究

介绍了基于线阵CCD带材边缘检测系统的软硬件构成、工作原理、结构特点及设计方案,该方案用平行光投射系统来照明,采用可编程逻辑器件CPLD驱动CCD工作并对测量结果进行处理,有效地简化了硬件结构。介绍了一种CCD输出信号的处理电路及其二值化原理,并给出了系统硬件、软件设计方案。并通过实验得到测量结果,实验证明了本系统的可行性和实用性。     

利用线阵CCD非接触测量物体的角度

介绍两种分别利用单像敏阵列及彩色线阵CCD测量物体角度的原理和方法，并初步讨论影响其测量精度的因素及注意事项。     

基于线阵CCD的位标器方位角测量系统设计

针对电磁测量法在方位角测角范围和线性度两个方面的不足,介绍了一种采用线阵CCD传感器探测陀螺转子表面图形的非接触式光学测量方法。首先,对处于静态和动态下的位标器陀螺转子进行数学建模,推导出方位角的计算公式。其次,通过MATLAB仿真分析,确立合适的图形参数,并采用最小二乘法进行曲线拟合,以探讨传感器的线性度。最后,在DSP开发平台下搭建测量系统,并对测量误差进行了分析。实验结果表明:基于线阵CCD的位标器方位角测量系统,抗电磁干扰能力强,测量精度高,且当方位角在[-30°,30°]范围内时,线性度为0.017 2。     

利用线阵CCD对物体振动精密测量的研究

介绍了一种采用线阵CCD测量物体振动的方法。该方法采用线阵CCD作为光电传感器件,通过对CCD输出信号进行二值化处理并从计算机获得数字式信号,从而实现对物体的振幅、频率和相位等相关参数的精确检测。实验结果表明,与其他传统的检测方法相比,该方法非接触测量、操作简单、精确度高、稳定可靠等优点,可应用到各种机械振动的检测中。     

线阵CCD传感器构成的高精度尺寸检测系统

介绍了线阵CCD传感器的工作原理、器件选择及参数确定、线阵CCD构成高精度尺寸检测系统的组成及其光学系统设计。提出了采用高速CCD视频数据采集电路、带阈值与积分反馈的二值检测电路及数字图像处理技术等措施来提高CCD检测系统测量精度的方法;并给出了应用高分辨率线阵CCD构成微机辊形检测系统的应用实例。实验结果表明,该系统具有较高的检测精度。     

CCD线阵传感器驱动信号处理

介绍了为ＣＣＤ线阵使用的稳定性，对ＣＣＤ线阵驱动信号进一步处理的一种方法，以及如何利用单片机对ＣＣＤ线阵输出信号进行采集和数字化处理。     

基于CPLD的线阵CCD尺寸测量系统研究

利用CCD传感器对工件进行测量是非接触测量领域的常用方法,本文介绍了一种基于线阵CCD器件TCD1206的微器件尺寸测量系统的设计方法,对系统的组成原理和工作方式进行了论证,硬件部分使用了Altera公司的CPI．D器件,实验表明系统设计方案可行,测量精度达到土0．01mm,符合设计要求。     

线阵CCD一维尺寸测量的实验

CCD（Charge Coupled Devices）是20世纪70年代发展起来的新型半导体集成光电器件，能对光照做出反应并把反应的强度转换成相应的数值。它的应用范围很广，其中尺寸测量是最常见最简单的应用，而且是非常有效的非接触检测技术，被广泛地应用于各种加工件的在线检测和高精度、高速度的检测技术领域。本文旨在帮助对CCD感兴趣的同学通过一个简单的应用实例尽快地了解和掌握CCD的基本工作原理和一维尺寸测量应用中的关键知识点。     

线阵CCD驱动电路的研究

本论文设计了高速线阵CCD的驱动电路，并采用相关双取样的方法消除噪声。经过实验得到了预期的驱动脉冲信号，并给出了实验注意事项和制作的电路板图。     

基于线性CCD镜片轮廓测量数据的处理

非接触式免模磨边机在国内眼镜行业得到了广泛的应用。随着光电器件线性CCD技术的发展,给研发非接触式磨边机和进一步提高镜片的加工质量和加工效率提供了技术支持。本文介绍了采用型号TCD1208AP的CCD对镜片进行雷达扫描测量数据处理的方法。     

用二相双列线阵CCD器件实时采集衍射图样

采用二相双列线阵CCD器件 ,配以CCD专用采集卡 ,对He -Ne激光经双缝所生成的夫琅和费衍射图样进行了实时采集与测量。介绍了该方法的结构原理、实验装置和测量要求。通过将测量值与理论值比较 ,发现采用微机测量双缝衍射光强分布规律不仅速度快 ,而且测量准确度高     

线列阵CCD智能遥测系统

本文给出了一种线列阵CCD智能遥测系统.文中提出以线列阵CCD输出脉冲的包络线信号作为摄取目标的特征.对CCD产生的正弦型、高斯型、矩形型、脉冲型等几种输出包络信号进行了傅里叶频谱分析,在非图像显示的场合下,可较大地降低采样频率,提高实时性,用较少的数据量实现对目标的特征抽取、分析、识别等处理.     

线阵CCD高速数据采集与处理系统

介绍一种用单片机控制的CCD高速数据采集与处理系统。该系统以80C552单片机为核心 ,采用总线隔离技术 ,实现高速数据采集与数据处理分时进行。该系统体积小、成本低、抗干扰、功能全、检测精度高 ,已成功用于带纲纠偏与对中系统     

线阵CCD数据采集与检测控制系统的设计

介绍了用CCD作为传感器，实现自动测控高速数据采集与处理的系统设计。该系统以80C552单片机为控制核心，采用总线隔离技术，实现高速数据采集与数据处理分时进行。     

基于MSP430的线阵CCD数据采集系统

基于电荷耦合器件和单片机技术, 设计一个2 160像元的线阵图像采集系统. 该系统根据线阵电荷耦合器件驱动模块的要求, 设计了图像数据的高速采集与缓存、 串行通信接口上传与上位机显示软件. 该数据采集系统具有单次采集和连续采集两种工作模式, 图像刷新率可达5帧/s. 实验测试结果表明, 该线阵图像采集系统成本较低、 工作稳定、 使用方便, 可应用于产品尺寸测量和非接触尺寸测量.     

基于定标法的红外图像非均匀性校正

采用一点和两点定标法对实际红外凝视型系统图像进行了非均匀校正,运用客观评价的方法对两者的校正效果进行了比较：一点法算法简单,但其校正结果无法满足红外系统,而两点法校正后图像的非均匀性则能很好的满足系统的要求。