膨胀管残余应力及其分布

膨胀管残余应力是影响膨胀管抗挤毁能力的一个重要因素.根据膨胀管的膨胀特点,用大变形理论提出了膨胀管内、外圆柱表面具有不同方向的残余应力观点,通过全应力释放试验并借助于电测的试验方法测量了膨胀管内、外表面的残余应力,利用曲杆理论分析了膨胀管轴截面的应力分布形式.结果表明,膨胀管轴截面残余应力呈双曲线分布,膨胀管外表面的压残余应力小于内表面的拉残余应力.     

X射线应力测定强度校正的必要性和实用性

本文从理论计算和实际测定中确定:不经强度校正的应力测定值约有-0.5～—15kg/mm~2的压应力方向的系统误差。建议当0.85峰值强度处的峰宽B_0.85≧2°时都应进行强度校正。在附录中,指出了吸收因子计算公式中存在的问题,并推导出正确的公式;给出了“X射线应力测定强度校正表”。     

厚壁管的自增强损伤残余应力计算模型

基于超高压容器的自增强制造过程,阐述了自增强容器的损伤形成原因与损伤形式.然后,在总结以往各种自增强理论模型的基础上,从超高压容器的自增强损伤机理出发,针对自增强容器的自身特点,建立了容器的自增强损伤力学模型,得出自增强损伤力学模型下自增强损伤压力、临界损伤压力、临界损伤半径、外壁环向应变、自增强残余应力的表达式.借助于25Cr2MoV材料的自增强试验数据对自增强损伤力学模型进行了计算,通过计算结果可以看出该模型与理想弹塑性模型、双线性硬化模型相比更接近于实测值,计算精度更高,并且与双线性模型相比,表达简单、理解较容易.     

材料中残余应力的X射线衍射分析和作用

张定铨　何家文　著一九九九年四月出版《材料中残余应力的Ｘ射线衍射分析和作用》比较全面地阐述了残余应力的基本概念、产生原因、稳定性及测试方法 ,系统地介绍了Ｘ射线衍射应力分析技术 ,并对影响测试结果的各种因素进行了探讨 ,最后从理论和实验两方面着重论述了残余应力对材料疲劳性能的影响 .全书内容包括 3部分 .(1)材料中的残余应力 :残余应力概念的界定 ;残余应力产生原因、稳定性、调整和测试方法 .(2 )Ｘ射线衍射应力分析 :Ｘ射线衍射应力分析的基本原理 ;Ｘ射线弹性常数 ;Ｘ射线应力测定的衍射几何特点 ;影响测试结果的技术因…     

三维残余应力及深度分布的X射线分析和计算

针对X射线法在测定铍等轻元素材料内部残余应力及其深度分布时的不足，研究一种分析和计算轻元素材料内部全三维残余应力及其深度分布的新方法，提出了包括考虑平衡条件和表面边界条件的基于线弹性理论的一种模型方程，对分析和计算原理，实验装置和实验作了介绍，编制出相应的计算机数据处理程序，能够对轻元素材料表面及内部任何一点进行全三维残余应力分析和计算，文中最后用铍的实验数据对程序进行了验证，结果表明，正应力分量σ11，σ22随黉度的变化较大，而切应力分量σ12，σ13和σ23及正应力分量σ33均很小。     

用X射线分层测量磨削后零件表面残余应力的探讨

本文讨论了用x射线来测量磨削后零件的残余应力沿层深分布问题,并对有时被磨零件表面出现测试结果(压应力)与实际情况(拉应力)不符的原因作了解释,又对同一试件用不同x射线金属靶进行应力测试时所得不同的测量值的问题作了说明。     

X射线衍射法测量冷轧带钢残余应力

残余应力的不均匀分布是影响板形的根本原因.为了深入了解冷轧带钢残余应力的分布情况,文章采用X射线衍射法对在不同轧制条件下冷轧后带钢的残余应力进行了测量分析,研究了残余应力沿板厚方向的变化、张力对残余应力分布的影响以及残余应力与板形的关系.研究的结论对制定与完善板带轧制规程、提高板形质量具有重要意义.     

铍焊件残余应力X射线断层扫描测定法

铍是广泛应用于核能、航空和航天工业的稀有轻金属，作为结构材料，因加工过程而引入的残余应力对其制品的使用将带来不良影响，测定残余应力的大小具有重要的意义。针对传统X射线残余应力检测技术，提出了X射线断层扫描测定法。该方法利用现有仪器，通过改变测定技术和计算方法，可以无损测定铍等轻金属制品表面残余应力及沿层深的分布。采用这一新方法计算了弧形铍焊件焊缝附近表面、距表面0．5mm和1．0mm处的残余应力，同时还计算出铍无应力(103)晶面的面间距d0，结果与根据晶面间距公式计算出的铍（103)晶面的面间距吻合较好。     

用钻孔法测定圆筒容器的残余应力

本文用薄壳理论推导出圆筒壳体表面因钻孔引起的释放应变与残余应力(或初始应力)之间关系的精确理论方程式.并进行了方程式可靠性的验证实验,提出了一个适用于工程的简化方程式。     

X射线Fourier多峰解析法测定晶粒大小分布及微观应力的研究

1 实验部分 1.1 原理设X射线衍射峰的纯加宽(包括晶粒度和微观应力引起的加宽)峰形为f(y),仪器峰形为g(z),样品峰形为h(x),有: A_n=F_R(n)=[H_R(n)·G_R(n)+H_I(n)·G_I(n)]/(G_R~2+G_I~2) B_n=F_I(n)=[H_I(n)·G_R(n)-H_R(n)·G_I(n)]/(G_R~2+G_I~2) 式中N为衍射峰形的最大底宽,n为谐波指数,j=±1,±2,…±N/2,H_R,H_I,G_R和G_I分别为样品峰形函数和仪器峰形函数的Fourier系数,A_n,B_n是纯加宽峰形的Fourier系数。     

用X射线衍射法测定聚氨酯的结晶度

本文用X射线衍射法测定聚氨酯的结晶度,采用Farrow几何法对散射曲线进行分峰并对分峰法作了改进,用Hermans和Weidinger归一化法计算结晶度.归一化法摆脱了X射线衍射分析中强度因子的繁琐数学运算.实验结果表明,聚氨酯结晶度随着硬段链值的增加而增加.     

用局部逐层去除法测量厚壁圆筒的内部残余应力

采用局部逐层去除法对厚壁圆筒热处理后的残余应力进行测量,拟合得到了圆筒轴向和环向残余应力的分布规律。结果表明,局部逐层去除法能有效地得到厚壁圆筒热处理后内部残余应力的大小及分布;厚壁圆筒热处理后的轴向残余应力在焊缝区域为压应力,内、外表面距离焊缝较远的区域为拉应力,且拉应力的最高值出现在厚壁圆筒接头的外表面热影响区附近,内部为压应力;厚壁圆筒热处理后环向残余应力在焊缝区域为拉应力,峰值出现在圆筒内部靠近内表面一侧,焊缝周围的母材区域为压应力。经过焊后热处理,厚壁圆筒的残余应力总体水平相对较低,环向残余应力和轴向残余应力均降至100MPa以下。     

X射线法探索残余应力对接触疲劳性能的影响

本文通过几种不同接触疲劳状态残余应力测试及半高宽变化,探索了残余应力对接触疲劳性能的影响。用残余压应力可减缓疲劳损伤的观点,阐明残余应力在接触疲劳过程中的作用,继而又着重对几种不同接触疲劳状态下,半高宽变化的分析,进一步阐明疲劳损伤的含义,并用孪晶马氏体的观点分析了渗层交界处发生硬层压馈的原因。     

小光点X射线测定锭杆残余应力的测试精度研究

X射线测定锭杆的残余应力是无损和无接触的唯一方法。它在生产过程中作为质量控制依据的重要性已被人们所认识和强调。本文讨论测定锭杆或小半径工件残余应力的基本原理。为了减少在小半径工件应力测定中X射线光束衍射强度和测角仪旋转轴精度产生的误差,必须采用新的小光点X射线管和工件旋转法。同时,讨论对测定小半径工件残余应力的修正法。所得到的结果是满意的。     

用X射线衍射法测定聚酰亚胺薄膜取向结构

聚酰亚胺薄膜的取向结构对机械性能影响很大。薄膜取向结构可以用普通的x射线衍射方法,从x 射线入射方向垂直和平行于薄膜平面两个方向进行测定,在这个测定中,我们制作了一个槽盖压紧样品架,用于进行入射x 射线平行于薄膜平面方向的测定。测试结果可表明被测薄膜的取向类型和取向程度,在理论研究和制造工艺上都有重要的意义。     

Ｘ射线残余应力的层析扫描测定

针对常规Ｘ射线残余应力测定法和美国Ｘ２００１应力仪测定方法存在的问题,提出了测定低原子序数材料内部三维应力的层析扫描方法,对装置和测定原理进行了讨论,设计出适合于层析扫描测定方法的计算机程序。根据提供的试验数据,能够对这类材料表面及内部任意一点进行全三维应力分析,计算应力及梯度和被测材料的晶面间距,并有一套计算的自我控制机制。     

利用Y—4Q型X射线衍射仪测量残余应力的计算机程序

本文建立了残余应力测量的N—BASIC计算机程序。此程序利用Y—4Q型X射线衍射仪采集的数据文件在GW—0520CH计算机上运行。对850℃电炉加热、水中淬火的45~＃钢试样的残余应力进行了测量,得到了满意的结果。     

CeRu_2和Ce_(15)Ru_(85)合金的X射线衍射与X射线吸收光谱研究

熔炼制备CeRu_2锭块和Ce_(15)Ru_(85)合金,利用高速溅射法制备非晶Ce_(15)Ru_(85)化合物样品.X射线衍射实验结果表明样品Ce_(15)Ru_(85)处非晶态,CeRu_2为Fd3m空间群MgCu_2型(C15)结构.通过X射线衍射获得多晶CeRu_2的晶格常数和原子间距.通过X射线吸收精细结构测量获得Ce K边和Ru K边X射线吸收光谱.通过对吸收光谱分析获得多晶CeRu_2和非晶Ce_(15)Ru_(85)的吸收原子Ce和Ru原子的周边原子配位情况.     

用X射线密度计测定木材年轮的含水率分布

用Ｘ射线扫描密度计测量气干材含水率及其每一年轮的水分分布。并与干燥法进行对比，其含水率测量误差在２％左右。对Ｘ射线扫描密度计测水分的原理与影响测试精度的主要因素也进行斩讨论。     

用X射线实验仪研究X射线的衰减规律

文章用X射线实验仪系统研究了X射线强度的衰减规律,讨论了X射线的衰减与吸收物质厚度的关系,以及X射线的衰减与原子序数的关系,对于利用X射线实验仪系统开展X射线系列实验和促进原子物理学教学改革具有较大的价值.