气相色谱法在绝缘材料研究中的应用

自Pugh和Wagner于1961年提出将气相色谱法用于检测变压器故障气体以来,气相色谱法在绝缘材料研究中得到了广泛地应用。许多油纸绝缘、压制板、聚合物薄膜以及各种液体介质等,在长期运行中,由于高电场、光、热、催化作用和局部放电等因素的影响,促使介质发生去氢、加氢、聚合、降解等化学反应而产生化气、吸气等现象。测定这些气体的组成及含量,有助于研究各种绝缘材料的微观结构和老化机理,而且对于采取某些措施,防止或抑制老化作用的发生,研制高质量、高性能的电介质起着非常重要的作用。     

CEIDP 2005会议

2005年度国际电气绝缘与介质现象会议（2005 Annual Report Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena,CEIDP 2005）于2005年10月16-19日在美国田纳西州首府Nashville召开，主办方为美国电气与电子工程师协会（IEEE），     

用三支路法分析高压电气设备的tgδ

用三支路法在理论和实际两方面研究了电介或电气设备绝缘的损耗因素，即介质损耗角正切。该法直接利用区分电导损耗和极化损耗的三条支路，从ｔｇδ的物理含义出发，推导了单层介质和双层介质的综合ｔｇδ表达式，给出了ｎ层串联介质的ｔｇδ表达式，并结合具体问题进行了讨论。     

低k介质对CMOS芯片动态功耗的影响

利用CMOS电路动态功耗模型,对采用不同介电常数绝缘介质的CMOS集成电路进行模拟,研究了不同特征尺寸集成电路中低介电常数绝缘介质薄膜对电路动态功耗的影响.发现集成电路特征尺寸越小,电路功耗-延迟积与金属互连长度的线性关系越好.并且随绝缘介质介电常数降低,电路动态功耗的两个部分:状态翻转功耗与直通短路功耗,都有明显的降低.因此在ULSI中采用低介电常数绝缘介质是降低电路功耗的一种十分有效的途径.     

介质表面辐射压强的研究

按照介质表面电磁压强的一般公式,讨论了在导体表面和绝缘介质表面的辐射压强,表明导体表面承受辐射压力,而绝缘介质表面承受辐射张力。     

SF_6/CF_4 作为变压器的冷却和绝缘介质的研究

城网规模的迅速发展迫切需要无油化的大容量ＳＦ６气体绝缘变压器。采用混合气体作冷却与绝缘介质可以综合解决ＳＦ６气体的散热和液化问题。在研究了混合比例和压力变化对混合气体性能的影响后，提出用ＳＦ６／ＣＦ４混合气体可以代替纯ＳＦ６和ＳＦ６／Ｎ２作为气体变压器的绝缘和冷却介质。当变压器内充入ＳＦ６／ＣＦ４混合气体时，采用离散化的差分模型对其温升分布特性进行理论计算，并与相同条件下充入ＳＦ６／Ｎ２和纯ＳＦ６时的计算相比较，结果表明：采用ＳＦ６／ＣＦ４混合气体不会过分影响线圈温升。研究工作为气体绝缘变压器朝高电压和大容量发展提供了参考依据。     

气体绝缘系统电极表面覆膜时金属导电微粒带电原因分析

在施加直流或交流电压的表面覆涂绝缘介质的楔形电极结构条件下，讨论了SF6中自由金属导电微粒在电场梯度力存在时的运动特性．通过实验测得的自由导电微粒运动起始时的电压，计算得到微粒所带电荷量，该结果与采用法拉第筒测得的结果吻合，即当电极表面覆以100μm厚的聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜时，微粒带电量约为未覆膜时的30％～60％．通过对微粒与介质间局部放电导致发光现象的实验观测研究，表明表面覆涂绝缘介质的非平行平板电极间自由金属导电微粒的带电机理在直流电压下为电导电流或薄膜表面极化带电，交流电压下为微粒与介质间的微放电．     

气相有明显压缩性的密相输送的研究

使用煤粉和氮气作为介质，对气相具有明显压缩性的长距离密相输送进行了实验研究，并建立了一个与实验结果吻合较好的理论模型．     

高压电气设备介质损耗测量方法分析

电力系统中检测高压设备的运行可靠性和发现电气绝缘方面缺陷，介质损耗测量是必不可少的项目。本文对多种介质损耗测量方法进行分析比较，分析了传统介质损耗测量方法特点，阐述了应用微机实现介质损耗测量方法的基本原理、特点、并指出了有应用前景的测量方法。     

多层介质电磁场边值关系的探讨

通过对边值关系公式的分析,提出了推广到多层绝缘介质和导电介质的电磁场边值关系,并讨论了绝缘介质与导电介质混合情况下的电磁场的边值关系.