焦散线法测定复合型裂纹应力强度因子的实验研究

本文阐述焦散线法测定复合型裂纹应力强度因子的基本原理,分析常用的测量方法,提出了焦散线的多点测量法,从而改进了P.S.Theocaris提出的经典方法,并以实验进行了验证。     

用分光光度法测量薄膜的光学常数

本文给出了由分光光度法测量不同状态下薄膜光学常数的理论分析，并结合实例阐述了该方法的应用及应予以注意的问题。     

焦散线法测量断裂力学参数J积分的实验研究

根据焦散线法的基本原理，推出了该法测量线弹性断裂力学和弹塑性断裂力学参数Ｊ积分的计算公式，并列举了有机玻璃材料和幂硬化金属材料的Ｊ积分测量和计算实例。研究结果表明，焦散线法适用于处于平面应力状态下裂纹尖端塑性应力强度因子的测量，其实验设备简单，实验数据处理方便，便于工程应用。     

TiO2薄膜厚度及其光学常数的测量

描述了非线性回归模型在ＴｉＯ２薄膜的光学常数及其厚度测量中的应用。利用薄膜在可见光范围内的光谱特性使用曲线拟合技术对它的光学常数进行了测量。研究结果表明,这种方法可能简单、高效地应用于对薄膜厚度及其光学常数的测量。     

薄金属膜光学常数的椭偏法测定

依据椭偏测光法的原理,采用内外反射法测量透明基底上薄金属膜的光学常数的厚度,并在计算机上利用单纯形法计算得到薄金属膜的折射率、消光系数和几何厚度,并对数据进行了系统误差的修正。     

平面角裂纹失稳扩展轨迹的焦散线法实验研究

根据动态断裂力学的基本原理和动态焦散线实验方法，研究了曲型平面角裂纹开裂角及其失稳扩展运动轨迹，推导出角裂纹失稳扩展的焦散线方程及动态应力强度因子的计算公式，进行了失稳扩展轨迹实验及其有限元计算，并指出应变能密度准则在确定裂纹扩展轨迹时的适用范围。     

基于透射光谱确定硅碳氧薄膜的光学常数

硅碳氧薄膜是一种含有Si、C和O三种元素的玻璃状化合物材料,同时拥有碳化硅薄膜及氧化硅薄膜多种优异的特性,如热稳定性好、能带宽、折射率大、硬度高和热导率高等,是一种具有潜在应用价值的新颖光学薄膜.基于硅碳氧薄膜的紫外/可见/近红外透射光谱,采用Swanepoel极值包络线法,结合WDD色散模型,建立了一套精确、方便并适合于计算硅碳氧薄膜光学常数的方法.方便地获得了硅碳氧薄膜折射率、厚度等光学常数.并将厚度计算结果与实际测量值进行了比较.结果表明,试验中研究硅碳氧薄膜光学常数所采用的方法是合理的,能够准确地获得硅碳氧薄膜的折射率及厚度等光学常数.     

金属膜厚度与光学常数的双波长法测定

本文采用双波长法激励金属膜表面等高子激元波的ＡＴＲ吸收峰，在非线性最小二乘曲线拟合下，同时确定出了金属膜厚度与光学常数。     

焦散线法在确定I型应力强度因子应用中的限制

研究了平面应力焦散线有效性的一些限制．当施加载荷、试件尺寸、光学装置的特征长度等物理量满足一定的条件时，得到的应力强度因子ＫＩ值是正确的，否则很可能是错误的．     

焦散线法测量断裂力学参数J积分的实验研究

根据焦散线法的基本原理，推出了该法测量线弹性断裂力学和弹塑性断裂力学参数Ｊ积分的计算公式，并列举了有机玻璃材料和幂硬化金属材料的Ｊ积分测量和计算实例。研究结果表明，焦散线法适用于处于平面应力状态下裂纹尖端塑性应力强度因子的测量，其实验设备简单，实验数据处理方便，便于工程应用。     

普朗克常数和里德堡常数的测定实验

结合德国莱宝公司研制的X射线实验装置,对X射线的特殊性能给出了详细的分析和例证.采用测定普朗克常数和里德堡常数两个典型的近代物理实例,揭示了X射线作为辐射源具有与其他物质无可比拟的优点.     

退火温度对溅射Al膜微结构及光学常数的影响

用直流溅射镀膜工艺在室温Si基片上制备了250nm厚的Al膜,并用X射线衍射及反射式椭偏光谱技术,对薄膜的微结构和光学常数在不同退火温度下的变化进行了测试分析。结构分析表明:退火后的Al膜均呈多晶状态,晶体结构仍为面心立方;随着退火温度由室温20℃左右升高到400℃,薄膜的平均晶粒尺寸由22.8nm增加到25.1nm;平均晶格常数(4.047)略比标准值4.04960小。椭偏光谱测量结果表明:2600～8300光频范围内,退火温度对折射率n影响较小,对吸收系数k的影响较为明显。     

透射焦散线法研究甲板开口边缘I型裂纹的应力强度因子

为研究船舶甲板开口边缘受拉的Ｉ型裂纹的应力强度因子，并探索焦散线方法在船舶结构中的应用，采用透射焦散线方法进行了实验研究。实验中模拟一般散货船带舱口的上中板，制作了带孔有孔玻璃透明试件，并采用加热法开出孔边裂纹。在数字焦散线实验系统中进行实验，获得了清晰的全场焦散线数字图象。应用焦散线图象自动处理程序精确地测出焦散线的最大直径以计算应力强度因子，并对裂纹尖端初始焦散线引起的实验误差作了处理。实验结     

透射焦散线法研究甲板开口边缘Ⅰ型裂纹的应力强度因子

为研究船舶甲板开口边缘受拉的Ⅰ型裂纹的应力强度因子,并探索焦散线方法在船舶结构中的应用,采用透射焦散线方法进行了实验研究．实验中模拟一般散货船带舱口的上甲板,制作了带孔有机玻璃透明试件,并采用加热法开出孔边裂纹．在数字焦散线实验系统中进行实验,获得了清晰的全场焦散线数字图象．应用焦散线图象自动处理程序精确地测出焦散线的最大直径以计算应力强度因子,并对裂纹尖端初始焦散线引起的实验误差作了处理．实验结果与理论值十分接近,表明船舶甲板开口边缘受拉的Ⅰ型裂纹的应力强度因子与甲板中的总纵拉力成正比．     

玻尔兹曼常数实验数据处理方法

本文通过PN结的电流电压的特性关系,采用线性回归、乘幂回归、指数回归三种拟舍方法确定了电流与电压间的指数关系,从而精确计算了玻尔兹曼常数。并着重介绍应用Excel软件对玻尔兹曼常数测定实验的数据分析处理方法。使复杂的计算过程及抽象的实验现象变得简单且直观。     

Cu块材及Cu膜的光学常数研究

用反射式动态椭圆偏振光谱技术对Cu块材、Cu薄膜及Cu厚膜的光学常数进行了测试分析。研究结果表明:与Roberts块材、Johnson厚膜数据相比,不同方法得到Cu的光学常数在谱线形状上基本相似,但在数值上存在一定差别;在波长为250～830nm范围内,Cu块材和膜的折射率n与消光系数k分别在0.1～1.5和1.5～5.0之间;随膜厚增加,n值增大,k值减小;厚膜的n、k值与块材的更为接近。同时讨论了光学常数与微结构的关系。     

Si基片上射频磁控溅射MgF2薄膜的光学常数研究

用射频磁控溅射技术在室温Si基片上制备了厚度分别为25.0nm和60.7nm的MgF2薄膜样品,并用反射式椭偏光谱技术对薄膜的光学常数进行了测试分析。250～830nm光频范围椭偏光谱测量结果表明:随着膜厚增加,MgF2薄膜的光学常数n、k的变化范围减小,平均值增大;MgF2薄膜样品的吸收曲线k在波长λ为270nm和360nm处均出现由通过辐射产生的F心引起的吸收峰。     

新的数值积分法及其在光学常数计算中的应用

针对利用K-K转换关系计算光学常数时,需要对实验测得光反射谱的离散数据进行数值积分,而利用通常的数值积分方法存在较大的偏差,提出了一种新的数值积分法,即双抛物线比例内插法(DPPIM).该方法在分段二次插值的基础上,将两条二次插值曲线在其重叠区间按比例组合,得到一条光滑的三次插值曲线.将该光滑曲线在整个区间上积分,就可有效解决无边界条件、复杂离散数据的数值积分问题.利用实验测量的单晶硅光反射谱,计算了单晶硅的光学常数、能带特性.计算结果表明,DPPIM方法在处理复杂离散实验数据的数值积分方面具有优越性.     

用焦散线法研究拱形试件的动态断裂

本文由运动裂纹尖端附近的应力场解,给出了动态焦散线方程和确定裂纹尖端位置、应力强度因子的计算公式.研究带边裂纹拱形三点弯曲试件在枪击动载荷下的动态断裂问题,得到系列动态焦散线照片并给出动态应力强度因子与裂纹扩展速度特性曲线以及裂纹不同扩展速度时的断口形貌特征.     

对“测量乙酸乙酯皂化反应速度常数”实验数据处理方法的探讨

本文对物理化学实验“测定乙酸乙酯皂化反应速度常数”的两种数据处理方法进行了某些比较,并初步讨论了其差别的原因。