牛顿环实验装置的改进及干涉条纹的分析

通过改进牛顿环装置,获得了更加清晰的干涉条纹,从而使得条纹更易于观察,同时也提高了测量的精确度;并运用干涉理论对不同情况下的干涉条纹的光强和对比度进行了分析。     

用OCV细分干涉条纹技术的研究

本文介绍了一种采用光控变容二极管来细分干涉条纹技术。光控变容二极管(OVC)是一种新型半导体器件。用计算机系统采集并处理数据,能够计数和细分干涉条纹,并已获得较高的灵敏度(超过1/90条)。该技术的优点在于它的可靠性,经济性、简单而且速度高。     

空气折射率测量实验的改进

普通的迈克尔逊干涉仪测量空气折射率遇到的主要问题是由于光程差太大,使得干涉条纹很密无法计数。该文介绍的用测微目镜将干涉条纹放大,再进行测量的方法很好地解决了这个问题。     

等倾干涉条纹与牛顿环的比较

薄膜干涉是大学物理和光学课程中一种非常重要的光学现象,薄膜干涉可以分为等倾干涉和等厚干涉。该文针对等倾干涉条纹和牛顿环的形成原理和特点进行了分析,比较了这两种明暗相间的同心圆环条纹的半径和间距、条纹的级次、条纹的移动规律,得出了这两种形状相似而实质不同的干涉条纹的区别和联系,有助于学生理解和掌握。     

光电可逆计数器系统的设计

通过对光电可逆计数器系统的研究，分析设计了以CMOS集成电路为基本组成部分，配合光电探测电路，电压放大电路波形整形电路，从而对光信号干涉条纹进行计数，达到高精度测试目的。     

用单板计算机对干涉条纹计数

本文介绍了在迈克耳逊干涉实验中,用单板计算机对干涉条纹的变化进行计数的方法,简述了各部分电路的工作原理,并给出了一组验证该装置准确度的实测数据。     

用线阵CCD测量干涉条纹间距

介绍采用ＣＣＤ、单片机组成的测量系统自动检测等间距干涉条纹的间距量，系统运用ＦＦＴ方法把干涉条纹间距量变换为频域量，有效地排除了散斑噪声干扰，方便准确地得到了干涉条纹的间距。     

等厚干涉与等倾干涉之比较

对牛顿环等厚干涉和薄膜等倾干涉条纹形成原理,干涉条纹的半径、间距、干涉级次等进行比较和分析,揭示两种相似条纹的本质区别。     

迈克尔逊干涉仪测波长实验中常见问题分析

分析了迈克尔逊干涉仪测波长实验中干涉条纹的调整，计数条纹和测量d值及仪器松动磨损等常见的几个问题，并对其产生原因进行了探讨，对提高学生的实验效率有所帮助。     

噪声背景下干涉条纹提取算法

干涉条纹提取是干涉条纹图象自动定量分析的基础.本文提出一种有效的干涉条纹提取算法.首先检测出条纹曲线点,然后对被检测出的条纹曲线点进行跟踪和断口连接.文中详细讨论了条纹曲线点检测原理、条纹曲线点跟踪及断口连接准则,并给出了令人满意的实验结果.     

迈克耳孙干涉仪中虚空气膜厚度为零时干涉图样的讨论

针对迈克耳孙干涉仪中虚空气膜厚度为零时的干涉图样的情况,本文从理论上对干涉图样形成的原因作了定性解释,并得出结论.     

用干涉滤波技术实现图象边缘增强

本文提出了用干涉及滤波技术实现图象边缘增强的一种新方法。将同一物体的一张正确对焦的透明片与另一张离焦的透明片重叠放在透镜的前面,在单色平行光照射下,在透镜的后焦面上得到两图象的谱的干涉,通过对干涉条纹的适当滤波,可在输出面得到边缘增强的象。     

电子计数器在迈克耳逊干涉仪测波长实验中的应用

在迈克耳逊干涉仪测波长的实验中,用光电传感器元件将干涉条纹的强度变化转换为相应变化的电信号,经放大整形后由电子诸数器测量干涉条纹涌出或隐入的个数,使波长测量更准确。     

劈尖等厚干涉实验条纹不等间距的分析

指出劈尖等厚干涉实验中随着膜厚的增加 ,条纹间距变大。定性分析了由于构成劈尖的玻璃发生形变导致的严重影响。重点分析了入射光具有一定发散的入射角所造成的影响 ,通过理论计算和实验结果的对比说明该分析的正确。从而给出了劈尖等厚干涉实验中为减小系统误差测量条纹间距应采取的方法     

Fourier方法分析Moire条纹

该文用Fourier光学方法分析了分离一定距离的2个Ronchi光栅产生的Moire条纹。在第二块光栅后面直接观察,所得Moire条纹实质上为多光束干涉条纹。在第二块光栅后面加上滤波系统,适当滤波后,Moire条纹成为三光束干涉条纹或双光束干涉条纹。文中对滤波后的Moire条件进行了理论分析,给出了零号频谱滤波和Ⅰ号频谱滤频波下Moire条纹的方程和对比度,得到条纹的方程和对比度与两光栅间距的关系,并给出了与理论相一致的实验结果。     

多光束点光源干涉的研究

运用光的干涉理论，分别讨论了点光源在平板厚度不均匀情况下的光强分布、条纹及特征,分析了多光束干涉对光强分布和条纹的影响，并推导出测量平板楔角的一种新方法。     

基于平面等倾干涉原理的平面度视觉测量系统

介绍一种基于平面等倾干涉原理的机器视觉高精度平面度测量系统。它利用等倾干涉原理 ,通过CCD提取随平面度变化的明暗相交干涉圆环条纹信息 ,根据条纹中心不变性和中心对称性 ,以开始测量点适当级次条纹中心为参考条纹 ,间隔 90°建立 4个扇形窗口 ,对窗口内条纹信息处理 ,得到细化后条纹与参考条纹径向间距 ,参照前一测量点干涉条纹径向位置 ,得到干涉条纹在各测点的变化量N。该N值既能反映出半波长整数倍 ,又能反映半波长小数倍的测点高度差信息 ,利用最小二乘原理 ,处理N值 ,得到极高精度的平面度测量误差。     

光波强度对干涉条纹可见度的影响分析

可见度是对干涉条纹清晰程度的度量 .对于理想的相干光 ,影响干涉条纹可见度的主要因素是光波的光强 .本文根据光波干涉的基本原理 ,从理论和实验两个方面定量讨论分析光波强度对干涉条纹可见度的影响 .     

用干涉条纹图像对比法测量微位移

研究了用迈克尔逊干涉条纹图像对比法测量微位移的实验.用He-Ne激光器、反射镜和分束镜组成干涉光路,一个反射镜固定在被测目标靶上,目标靶带动其中一个反射镜移动,使干涉光路发生变化,从而导致干涉条纹改变.利用线阵CCD采集干涉条纹图像并用对比法处理和计算,获得目标物的微位移.实验结果表明,用图像对比法处理干涉条纹,计算方法可行且准确率高,测量的精准度可以达到微米级.