无孔固体物理吸附氮的吸附层厚度

本文在比较半经验的ｎ～ｘ函数关系曲线与Ｍａｒｉａ和Ｊｏｓｅ的实验结果曲线后，发现两者有一定的偏离。根据无孔活性炭Ａｐ在７７．３Ｋ物理吸附氮的实验数据，用计算机拟合了ｎ～ｘ关系。计算结果表明ｔｍ取０．３７１─—０．４００ｎｍ时，本文拟合的ｎ～ｘ关系可用于计算多孔固体的孔径分布，且相对其他方法由ｔ～ｘ关系引进的误差小。     

流体吸附层厚度计算及应用分析

根据流固吸附特性和分子间能量的变化规律来确定表面流、固体相互作用的程度,对表面吸附性能和吸附层进行描述,得出以能量表示的吸附层厚度表达式;从而确定描述表面粘度变化计算的表达式中的重要参数-吸附层厚度,粘度描述是润滑工程领域研究的基础.本文的研究适用于以流体膜为基础进行工作的研究,是纳米级润滑理论研究必须解决的问题之一.     

光纤表面薄膜厚度的测量

表面镀膜的长周期光纤光栅传感器的灵敏度与膜层厚度有很大关系,膜层厚度的控制与测量成为制作高灵敏度镀膜长周期光纤光栅传感器的关键一环,本文讨论了几种镀膜方式及相应的薄膜厚度测量方法。     

乙醇水溶液的表面吸附层

根据吉布斯吸附公式，由乙醇的活度求得它的表面超量，发现乙醇水溶液的表面吸附是多分子层吸附，表面吸附层中含有多个分子层。     

从等温线吸附分支计算固体中间隙孔径及吸附层厚度

根据表面热力学状态函数之间关系,推导出从多孔固体物理吸附氮的等温线中吸附分支计算其间隙孔径及吸附层厚度的方程.该方程既不同于Broekhoff等人提出的方程(BB方程),也不同于Cohan方程.计算结果表明:ρ/ρ在0到1范围内,用该方程和BB方程计算出的孔径(r_(e.t)和r_(e,BB)均大于用Cohan方程计算出的孔径(r_(e,c));当 ρ/ρs>0.65时,r_(e,BB)>r_(e,t);当 ρ/ρs<0. 65时,r_(e,BB)相似文献   

用光探针法测量表面复合速率

通过系统的研究分析,建立了应用光探针的光电（ＰＣ）测量方法,应用镜像法和点源产生近似原理建立了物理模型,并进行了系统的理论分析．导出了光电流与表面复合速率相应关系的计算公式,确定了可进行电量测量的实验装置．采用此方法,测量了台面型高压硅半导体器件的无机钝化和有机保护界面的表面复合速率．通过测量结果和计算结果的归一化比较,获得了其表面复合速率．     

厚度测量及厚度分选仪

研制了一种非接触厚度测量及厚度分选仪，其传感器由气动位移传感器和变压器式位移传感器复合而成，该系统不受被测对象水分、灰度及密度的影响，具有较高的测量精度，为非接触厚度测量提供了新手段．     

干涉法测量SiO2层厚度

本文从干涉原理出发,介绍干涉现象在半导体工艺上的应用。     

多层金属膜厚度的无损测量研究

提出一种用电涡流传感器实现无损在线测量工件金属膜厚度的方法。给电涡流传感器同时施加3种不同频率的激励信号,通过传感器与各层金属膜所感应的电涡密度,可以间接获得2层不同材料的金属膜厚度,同时还可获得传感器与表层被测工件表面的距离。理论分析和实验结果表明了这种方法的可行性。     

用ICP—AES测定人发样品中微量元素时样品消化方法的比较

0 引言人发中的微量元素含量能反应出人体内元素的累积状况及含量水平。因此发中微量元素分析在医学,环境科学,法医学等方面具有极重要的意义。用ICP单道扫描发射光谱仪测定微量元素除具有一般仪器分析的许多优点外,还具有测定线性范围宽,选线灵活,可多种元素同时顺序测定等优点。但测定值的精密度和准确度很大     

切削加工表面变质层厚度的图像识别技术

切削加工表面变质层影响零件的物理力学性能,会引起表面残余应力分布、显微硬度和微观组织结构等表面完整性的改变,进而影响零件疲劳寿命等服役性能.利用MATLAB图像处理工具,对切削加工表面变质层进行图像识别,探讨预分析图像质量对变质层厚度分析结果的影响,判定切削表面变质层与基体的边界,测量加工表面变质层的厚度.对镍基高温合金GH4169、粉末高温合金FGH95高速切削加工表面变质层分别进行了图像识别和变质层厚度的确定.结果表明:采用图像处理方法能正确识别加工表面基体和变质层的相含量差别,得到加工表面变质层深度,可用于加工表面完整性的检测.研究同时表明:图像亮度、纹理度、对比度和清晰度均会对变质层厚度分析结果产生较大影响,而图像色彩饱和度和尺寸大小的差异对变质层厚度分析结果影响较小.     

表面吸附单原子层的声振动模式

在谐和近似及计入近邻与次近邻相互作用的条件下,我们以格林算子技术,计算了表面吸附了单原子层的半无限晶体的声振动模式。计算分顶位吸附及中心吸附两种情形进行。文中给出了吸附单原子层及衬底的各原子层分别对体模及表面模的贡献。本文的方法和结果对于表面物理的研究将是有用和有意义的。     

Ge微簇表面氧化层厚度的确定及光致发光现象

半导体微簇光致发光现象是目前物理学的研究热点之一。从光电子能普的基本原理出发，提出了一种确定IVA族元素半导体纳米微微的表面氧化层厚度的有效方法并应用于对Ge微族构成纳米组装薄膜的光学性质和光致发光机制的解释。直径为10nm和微簇由2nm厚的表面氧化层及直径为6nm的未氧化中心构成。该中心具有强的量子约束效应导致的基本带隙展宽（光学吸收边蓝移），氧化层、中心及其组合在紫光的激发下产生复杂的光致发光现象。实验结果与文中所提出的理论模型吻合。     

日喀则群沉积厚度、沉积速率及剥蚀速率

通过对日喀则弧前盆地日喀则群沉积的详细研究,对日喀则群的沉积厚度、沉积速率做了近似的计算.日喀则群现今保存下来的厚度平均为3 000 m,恢复其原始沉积厚度为4 800 m,从而计算得出沉积速率为34 cm/ka(未脱压校正值为22 cm/ka),主沉积期的沉积速率为308 cm/ka(未脱压校正);并且与其他几个白垩纪同类盆地进行对比,得出白垩纪此类盆地发育过程中,沉积速率的平均值为27.75 cm/ka.根据近似恢复的弧前盆地和剥蚀区的范围,计算得出沉积盆地沉积物充填总量最小90 750 km3,最大137 500 km3;物源区剥蚀速率最小0.1 mm/a,最大0.45 mm/a.     

饱和吸收体恢复时间测量中样品厚度影响的分析

一、引言可饱和吸收恢复时间是评价激光锁模染料的重要指标之一.优良的锁模染料吸收恢复时间通常为几个至几百个微微秒的量级.传统的光电探测器-示波器组合方法无法达到足够的时间分辨率,不能用来探测微微秒量级的快速过程.双脉冲探测技术是目前流行的比较直接的测量方法.当脉冲宽度和样品的光子渡越时间与吸收恢复时间同数量级时,测量结果将明显依赖于这两个因素.若脉宽远小于吸收恢复时间,则样品厚度将起决定性作用.我们曾在实验中发现这一现象,但是目前还没有见到对这一问题进行     

一种应用于反射表面厚度测量的新方法

讨论了垂直入射与斜入射两种方式的主动式三角法的测量原理,提出在被测物面为反射表面的情况下,用斜入射主动式三角法进行距离和厚度的测量．分析了被测物表面细节形状的变化对测量结果的影响,以及在厚度测量时消除这种影响的方法     

钢材表面涂镀厚度在线测量的研究

主要研究了电涡流传感器在多频率多参数下镀层厚度的测量方法。提出了采用两频率两参数测量镀层厚度的方法，从而可以在线测出镀层厚度的大小。理论分析和试验证明该方法是可行的。     

穆斯保尔谱测量样品厚度对结果的影响与确定

通过对Ｆｅ２Ｏ５的穆斯保尔谱测量，发现样品厚度的选择对实验结果的影响至关重要从理论与实验两方面讨论了样品厚度的选择方法，为研究穆斯堡尔谱测量提供了实验依据。