过程均值随机偏移控制图经济统计设计

针对异常因素的产生时间服从Gamma(λ,2)分布的过程,通过构建控制图费用函数模型,研究了过程均值随机偏移对控制图经济统计设计的影响。采用模式搜索算法对模型进行寻优来获得控制图参数的综合最优解,并进行了算例说明和参数的灵敏度分析。结果表明,当采用控制图来监控均值随机偏移的过程时,需要采用相对谨慎的监控策略。     

过程均值随机偏移(X)控制图经济统计设计

针对异常因素的产生时间服从Gamma(λ,2)分布的过程,通过构建(X)控制图费用函数模型,研究了过程均值随机偏移对(X)控制图经济统计设计的影响.采用模式搜索算法对模型进行寻优来获得控制图参数的综合最优解,并进行了算例说明和参数的灵敏度分析.结果表明,当采用(X)控制图来监控均值随机偏移的过程时,需要采用相对谨慎的监控策略.     

监测过程均值小的偏移的综合控制图

提出的“可变样本的综合控制图”（VGR）是对传统休哈特控制图、合格品链长控制图以及可变样本3者的恰当结合.通过数据显示,可变样本的综合控制图在样本均值发生较小偏移时更能及时发出失控信号,与传统休哈特图以及GR综合控制图相比减少了发信号时要检验的平均样本量,并且在均值未发生偏移时能有一个较大的平均样本量.     

Spc控制图对均值偏移监测能力的分析

在现实生产过程中过程统计控制可能因存在不同可指定起因的事件,因而产生大小不同的均值偏移,但因各种spc控制图监测均值偏移能力不一,所以我将针对各种spc控制图可监测到均值偏移的尺寸和监测灵敏度作模拟探讨。根据其特性,使各种控制图互相互补,使监测过程波动更有效。     

基于PSO的支持向量机多元控制图均值偏移诊断模型

为了诊断多元控制图发出的报警信号是由哪一个或者哪些变量组合发生均值偏移引起的,提出了基于粒子群优化（PSO）算法的支持向量机（SVM）多元控制图均值偏移诊断模型．模型中使用丁。控制图对多元过程进行控制,在假设过程方差．协方差矩阵保持不变的前提下,根据不同的均值偏移模式,产生SVM训练数据集和测试数据集,用Ps0对SVM的参数进行优化,最终得到优化的SVM模型．结果表明,基于粒子群优化算法的支持向量机模型（SVM．PSO）比基于SVM和基于神经网络（ANN）模型的分类能力更强,分类准确率超过85％．     

基于批均值的自相关过程EWMA控制图

给出基于批均值构造新过程的方法,证明了新过程仍然是平稳过程。针对q阶滑动平均过程(MA(q))给出了新过程的标准差截断公式,利用该公式构建修正EWMA控制图,并通过随机模拟给出平均运行批长。并将此控制图与利用新过程标准差构建的EWMA控制图和批均值控制图进行了比较,控制图和平均运行批长均表明利用标准差截断公式构建的修正EWMA控制图不仅优于批均值控制图,而且具有和利用新过程标准差构建的EWMA控制图相同的控制性能。由于新过程包括了原过程的几乎全部信息,所以在新过程的基础上设计的修正EWMA控制图能够完全反映原过程的生产情况。而修正EWMA控制图构造简单,易于实施,因此对现代生产过程具有很强的可行性和很高的利用价值。     

自相关过程质量控制图的最优经济设计

正确设计质量控制图参数,对降低生产成本、保证产品质量具有重要意义 提出了基于控制图的ARL,并应用蒙特卡罗随机模拟进行控制图参数的最优经济设计方法 该方法也可以用于其他控制图的参数最优经济设计     

控制图和EWMA控制图的灵敏性分析

在统计过程控制中通过分析X控制图,指出X图虽然对监测过程大波动非常灵敏,但对过程均值小漂移却不敏感,若结合使用判异规则,将导致虚发警报概率的增加。通过仿真数据图形化,分析了EWMA图的灵敏性,并与X图进行比较,结果表明EWMA图对监测过程小漂移比X图更灵敏,而X图对均值大偏移反应比较灵敏;两种控制图如互为补充,共同用于监测过程波动更有效。     

监视过程均值变化的残差控制图检测能力分析

对过程实施统计质量控制的基本假设前提是观测值彼此独立,但实际工作中经常出现过程的观测值存在自相关的现象.若自相关过程的残差满足独立同分布条件,对残差实施控制图监视是解决自相关过程控制的方法之一.应用检测能力指数和平均运行长度两种衡量指标,分析了自相关过程由时间序列模型AR(1)描述时,残差控制图对过程均值变化的检测能力.结果表明,残差EWMA(φ≤1-λ)控制图对过程均值小偏移较灵敏,当φ<0时,残差EWMA控制图对过程均值大偏移的检测能力略差于残差Shewhart控制图.     

同时监控过程均值和方差漂移的VSI EWMA平均损失控制图设计

结合WLE控制图和VSI EWMA控制图,提出了基于田口损失函数下的可变抽样区间的EWMA控制图（简称VSI EWMA平均损失控制图）,它是一种在抽样区间可以变化的条件下能够同时检测过程均值和方差漂移的控制图;同时构造的新控制图通过添加控制限区分漂移类型,即在过程失控状态下区分是过程均值发生了漂移还是方差发生了漂移,或者两者都发生了漂移.通过与FP EWMA平均损失控制图及X-～S控制图进行比较,得出新构造的控制图对过程漂移具有更好的敏感性.     

随机库存模型中最优过程均值选择研究

通常过程均值的选择和生产-库存控制的决策是分开确定的,但是过程均值的确定会影响不合格品出现的概率,从而影响生产-库存的决策。文章讨论了在需求是随机的且质量特征服从截尾正态分布的情况下最优过程均值和生产-库存模型相应决策变量联合确定的问题。在该模型中,允许缺货发生且缺货量完全延期供给,同时给出了模型的凸性证明和应用实例。通过灵敏度分析,研究了各参数及截尾方式对过程均值和生产-库存决策的影响。     

多元质量特性的贝叶斯均值向量控制图

贝叶斯控制图主要研究小样本情况或非稳定状态下的质量控制问题，是质量控制理论中的一个新的研究领域。通过建立多元质量特性控制的数学模型，利用多重线性模型的贝叶斯推断理论，证明了正态-Wishan先验分布下多元质量特性模型的预报分布为多元t分布，并根据多元t分布与F分布之间的关系，构造了F统计量和相应的贝叶斯均值向量控制图。     

统计质量控制图系统及其应用

描述了一个用ＴＵＲＢＯＣ＋＋语言开发的统计质量控制图中文系统．系统包括了各种常用的统计质量控制图,改善了一些控制图参数的计算方法,精心设计了控制图版面和存储方式,使控制图具有直观地、历史地和全面地反映和监督过程质量状态的能力．它适用于各企事业、服务行业对一个或多个控制点的质量管理,也是实施质量体系质量保证和质量认证的有力工具．     

一种同时监测均值和方差的控制图

针对一元正态分布的过程数据,基于似然比检验思想,应用变点方法,研究了一种同时监测均值和方差变化的综合控制图,并给出本图的数值分析.数据显示该控制图对监测受控值较少的持续中等变化更为敏感,表明该方法可快速诊断出变化点的位置,从而估计出未知参数值.     

基于路径图的多元统计过程诊断

针对多元统计过程控制图中失控信号的诊断问题，提出了基于路径图的多元统计过程诊断方法.利用路径图给出的变量之间定量化的因果关系，对所有变量分别建立对应的线性回归方程，以得到联立方程模型.通过联立方程模型建立了统一的T2统计量分解方式，并构建了分解式中所有分解项的判定界限，将其作为判定引起失控信号产生的根本原因的标准.通过对三元系统仿真，验证了其有效性.     

随机正则图中的一类新控制集

在随机正则图中,研究了图的最小[r,R]控制集的定界问题.基于随机策略,提出了求解图的最小[r,R]控制集的近似算法,跟踪算法执行过程中相关参数的期望值变化情况,列出相应的带初值条件的常微分方程,通过对方程解的估计衡量该算法的平均性能.在此算法的分析基础上,给出了最小[r,R]控制集的一个上界.     

工序质量控制图经济设计中的一种算法

首先建立控制图经济设计中费用损失函数模型,然后利用蒙特卡罗统计试验法找出损失函数最小化的一组解.这种解法利用了计算机运算速度快,调整参数方便和自动产生随机数的优点,克服了经典解法中只能随初始条件而局部寻优的缺陷.     

关于随机环境中下临界分枝过程灭绝时均值的界

在经典分枝过程的基础上研究了随机环境中的分枝过程,运用泰勒定理、中值定理得出了随机环境中下临界分枝过程的灭绝时均值的界,对分枝过程的发展有重要作用.并且在二项分布繁衍概率母函数的两状态独立同分布随机环境情况下,对灭绝时均值的界的确定给出了一个算例.     

Lévy稳定过程均值变点监测在CUSUM和GLR控制图中的比较

采用数字模拟的方法给出了CUSUM和GLR控制图在Lévy稳定过程均值变点监测的ARL近似估计,对CUSUM和GLR控制图监测Lévy稳定过程均值变点的效果进行比较.