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对晶体管单管放大电路组态的教学探讨 总被引:2,自引:0,他引:2
熊旭军 《甘肃联合大学学报(自然科学版)》2004,18(4):74-76
指出确定晶体管单管放大电路组态时存在的一些问题并通过具体实例进行了探讨。给出确定晶体管单管放大电路组态的一般方法,这种方法具有普遍性,在教学中易于学生接受和掌握. 相似文献
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于东海 《东南大学学报(自然科学版)》1996,26(2):121-123
雪崩晶体管产生窄脉冲用于探地雷达于东海(东南大学毫米波国家重点实验室,南京210018)近年来,晶体管在雪崩区的运用越来越广泛,采用雪崩效应后,可以很方便地产生具有毫微秒甚至亚毫微秒上升时间以及很大峰值功率的脉冲.由于专用雪崩晶体管的出现,使得实用的... 相似文献
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文章设计了一种基于雪崩晶体管的纳秒脉冲发生器,在介绍雪崩晶体管特性的基础上,对纳秒脉冲发生器电路进行了分析,并对电路进行仿真和测试。测试结果表明,这种纳秒脉冲发生器能够输出上升沿1.9~3.2ns、脉宽5~100ns和上升幅度10~100V的脉冲,测试结果与仿真结果吻合很好。 相似文献
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本文报导了用高纯氮气携带液氧蒸汽进入氧化炉生长约20A(?)的可隧穿的超薄SiO_2膜,以及用SiH_4—NH_3体系的LPCVD技术淀积具有电荷存储特性的Si_3N_4膜,从而制作出MNOS结构的可变阈值晶体管。这种晶体管的阈值电压窗口约17伏,且具有不破坏的读出特性。 相似文献
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在晶体管HI-FI功放制作、学校学生晶体管实验中,需要晶体管特性图示仪进行晶体管配对、特性曲线观察,但晶体管特性图示仪价格昂贵.文章中介绍的晶体管特性曲线测试电路,配合普通示波器,可替代晶体管特性图示仪完成这一任务,观测效果良好. 相似文献
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用液氮温度下的液氧蒸汽作为氧源,控制 O_2/N_2值在10~(-2)至10~(-3)可生长性能和重复性均为良好的可隧穿的超薄氧化层,结合用 SiH_4—NH_3体系的 LPCVD 技术,所淀积的具有电荷存储陷阱的 Si_3N_4膜能成功地制造 MNOS 结构存储晶体管。经测试,这种晶体管阈值窗口可设置在6V,对于管子处于高导态时,保留时间为10~3min,闽值电压变化的典型值为1V;当管子处于低导态时,其保留时间为3×10~3min 时阈电压变化的典型值为0.2V。这种存储管可擦写的次数为10~5以上。表明存储晶体管具有良好的器件特性。 相似文献
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引言晶体管特性曲线,是分析和计算晶体管电路的重要依据,也是生产者设计、制造和检测产品性能的直观参数指标.为了提高产品质量和深刻了解特性曲线的物理机制,并根据它的形状来快速分析和判别晶体管的优劣,我们从有关工厂的产品中,选择了许多特性曲线各不相同的晶体管,对此进行了反复多次的观察、分析和研究,对多年来未弄清的问题提出了我们的看法,这对生产有一定的促进作用. 相似文献
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低温ECL电路直流特性测试与分析高梅芳,沈克强,魏同立,李垚(东南大学微电子中心,南京210018)本文通过对低温ECL电路和常温ECL电路的比较和测试分析得知,晶体管饱和电流随温度下降而急剧下降,这是影响电路工作性能的主要因素.并指出,这种影响可通... 相似文献
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对晶体管的超相移因子提出一种简单、迅速、精确的计算机计算方法,设计了完整的计算程序。根据决定晶体管性能的关键参数,如:锘区宽度、基区少子扩散系数和基区少子扩散长度等,对晶体管超相移因子进行计算,得到精确的结果。 相似文献
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利用光晶体管的饱和特性和雪崩负阻特性实现了半导体激光器和光晶体管的组合双稳,并对影响其工作状态及特性的条件进行了讨论。 相似文献
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对两种T型电子波导器件即遥控栅量子晶体管和中间栅量子晶体管进行了理论研究。通过求解电子波函数分析了器件的输运性质,证明了器件中栅极对电导的调制效应,即器件的晶体管功能。同时,对多模效应的研究表明,多模的相关会减弱器件的干涉效应,从而影响器件的功能。 相似文献
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万用表因使用简单、携带方便。是电子电路维修技术人员常用于检查电子电路的基本工具。在电子电路维修中发现,晶体管是属于易损元件,需要检查、更换。本文就简单介绍万用表电路检查流程和晶体管在线检查技巧。 相似文献