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相似文献
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用X射线衍射仪法对光谱纯铜进行了点阵常数的精确测定,给出了测定值。从实验技术方面进行了分析阐述,为金属材料研究和大学近代物理实验选题提供了参考。  相似文献   

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X射线衍射测定晶体点阵常数是基本的实验方法.用普通X射线衍射仪粉末法测定硅点阵常数,比较了不同测试方法和计算方法,以定点扫描三点抛物线法定峰、cos2θ外推法计算结果最佳.  相似文献   

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本文在简单综述测定材料热膨胀的各种方法与技术的基础上着重谈本文作者建立的X射线粉末衍射仪测定材料热膨胀的新方法并导出了新方法的测量误差极限的表示式。  相似文献   

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大型精密仪器在科学研究及实际生产应用中的地位日趋重要,这类仪器如何合理地应用于高校本科实验教学、发挥其在培养学生实验技能和掌握研究方法与实验技术中的作用,是一线实验教师需要认真思考的问题.阐述了X射线粉末衍射仪在本科基础实验课程“现代化学实验与技术”中的实践及应用,包括实验设置的目的、意义及具体实施情况等,旨在促进大型精密仪器与本科实验教学的紧密结合,提升实验教学水平和人才培养质量.  相似文献   

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简要介绍了衍射仪结构原理,详细探讨了仪器故障成因及防治措施。  相似文献   

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文章介绍利用汇编语言、 C语言、 Borland C++Builder等开发了基于 Windows环境的智能化实时处理软件 ,成功地实现了对原 X射线衍射仪的数据的采集、处理、实时显示和存盘。  相似文献   

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用Y-4Q型衍射仪,在X射线衍射定量分析——添加法的基础上,利用实验误差的数学处理方法进行数据处理,使此法的精确度得到了进一步提高。  相似文献   

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目前X射线衍射仪(XRD)的角度检定和校准测试主要依据JJG 629—1989《多晶X射线衍射仪检定规程》和JB/T 9400—2010《X射线衍射仪技术条件》等技术文件,具体方法是采用光学经纬仪或多面棱体等进行测试,该测量方法实际应用中存在一定难度,其次测量间隔较大,不能很好反映真实的角度误差规律.为此,提出了利用θ角和2θ角同轴并可独立运动的特点,组合采用光电自准直仪和小角度激光干涉仪等仪器,设计了一种新的XRD的角度校准方法,它能够自动快速地连续测量角度,取k=2时,扩展不确定度约1.2″.使用该方法测试能够精确得到θ和2θ轴的误差数据,可用于修正XRD测角误差,提高XRD测试精度.该方法也适用于同步辐射等大型衍射系统等其他需要角度校准的情况.  相似文献   

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精确测定点阵常数是研究结晶材料的重要方法之一,对于研究相变过程、晶体的缺陷和应力状态等均有重要意义。本实验除对晶体硅的点阵常数进行了精确测定外,仪器的系统误差对测定精度的影响也进行了测量、分析,并对测量结果给予了修正。  相似文献   

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X射线粉末衍射法测定LaFe9Si4的晶体结构   总被引:1,自引:0,他引:1  
采用LaFe9Si4的X射线粉末衍射数据,介绍利用Fouuprof程序进行全谱拟合,撮独立的│Fhkl│数据,然后将获得的│Fhkl│数据输入标准的单晶结构分析程序SHELXS-86和SHLEXS-93确定晶体结构的一般步骤。  相似文献   

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进口X射线衍射仪的计算机数据截获系统   总被引:5,自引:1,他引:4  
某些进口 X射线衍射仪存在一个棘手的问题 ,即用户无法读取衍射仪所产生的强度——衍射角的原始数据 ,无法做任何系统误差校正 ,如 Rietveld方法所要求 .本文提出一种新颖的软硬件设计方案 :X射线衍射仪的计算机数据截获系统 ,它能有效地截获在线数据 ,该方案不仅能成功的解决上述衍射仪的问题 ,而且对于改装类似的谱仪类仪器也提供了一个有普遍意义的新思路。  相似文献   

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本文以日本理学D/max—C型X射线衍射仪的狭缝系统、扫描速度和时间常数等因素的选择为例,探讨衍射仪实验条件的综合选择问题。  相似文献   

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EXAFS谱学是近十几年才发展到实用阶段的一种原子近邻结构的测试方法,有极其广泛的应用,引起国内外学者的重视。以透射法为例其基本原理如图1所示。图中S为样品,其厚度为x,I_0为入射X射线的强度;I为透射X射线的强度;设样品的线吸收系数为μ,则下式成立  相似文献   

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本文介绍了我们设计并制造的X射线双晶衍射仪,在设计中注意了三个关键问题,并首先应用水平狭缝来调试水平零层,文中以测量抛光损伤,双晶貌相和双晶摆动曲线为例,介绍了本仪器的结构特点和如何应用水平狭缝,解决科研工作中在实验技术方面的关键问题。  相似文献   

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给出指标化的HoNiSn相的X射线粉末衍射数据。该化事物属正交晶系,a=7.0658(6)A,b=7.6455(2)A,c=4.4396(1)A。每个晶胞有4个化合式量,空间群为Pna21。  相似文献   

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在晶体结构的研究中.X射线衍射法占有非常重要的地位。特别是X射线粉末分析更是晶体结构测定中不可缺少的一种手段。但是在一般缺少这种测试仪器的学校,讲解这部分内容却比较困难。我们在计算机上模拟出X射线粉末图,并将其打印出来,使每个学生得到一张计算机模拟的图片,用来学习研究晶体的结构。  相似文献   

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EXAFS谱学是近十几年才发展到实用阶段的一种原子近邻结构的测试方法,有极其广泛的应用,引起国内外学者的重视.以透射法为例其基本原理如图1所示.图中S为样品,其厚度为x;I_o为入射X射线的强度;I为透射X射线的强度;设样品的线吸收系数为μ,则下式成立  相似文献   

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