高速数电芯片参数测试方案优化研究

为了解决高速数电芯片测试速度慢、测试精度低的问题,提出一种利用LK88系列测试平台对集成电路高速数电芯片参数进行有效测试的方法.该测试方案通过对高速数电芯片SN74HC138的测试,可以实现快速筛出失效芯片、进行功能验证、对高速数电芯片的直流参数进行精准测试,最后通过上位机直观显示出来.测试过程易于操作、增强了可读性.与芯片Spec参数标准对比分析后可以得出测试精准性也有效提高.因为缩短了整体测试时长,并且精度提高,对于提升集成电路产业链经济效益方面具有积极影响.     

试析新型IC智能测试仪的原理、结构及其使用方法

IC芯片商家及用户在使用IC芯片过程中需对IC芯片进行测试，以判断其好坏。开发通用集成电路测试仪是解决这一问题的一条有效途径。本分析了江汉大学的一项科研成果“IC智能测试仪”的测试原理、系统结构及使用方法。     

基于集成电路芯片封装问题的探讨

集成电路芯片封装,不同的处理设备就有不同的处理芯片,芯片是电子设备的核心,其设计、制造、封装、测试等过程对芯片有很大影响。本文从集成电路芯片封装技术的发展形式、特点、失效及发展趋势等方面进行简单探讨。     

半导体逻辑集成电路的计算机辅助测试

本文是一篇关于计算机辅助测试逻辑集成电路的综述性文章。文中分析了测试逻辑集成电路的要求,提出了测试中存在的问题及解决的途径。对于半导体存贮的测试图形,也进行了一些分析,列举了常用的一些测试图形。对国外目前采用的测试微处理器CPU芯片的几种方法和国外测试系统的发展所经历的三代,也作了介绍。     

利用8098单片机实现对数字集成电路的测试诊断

介绍了利用８０９８单片机和其它接口芯片，实现对数字集成电路进行测试诊断的原理和方法。阐述了诊断电路的硬件与软件设计及模拟工作环境的建立。     

信息传真

上海张江形成三条产业链上海张江形成三条产业链集成电路产业链——随着中芯国际、宏力半导体和上海贝岭三家8英寸芯片生产线的落户,张江集聚了集成电路上下游及配套企业100多家,形成了“芯片设计——光掩膜——芯片制造——封装测试”的集成电路产业链。目前,张江拥有全球有影     

集成电路芯片组合逻辑辨识实验系统的研制

文章围绕数字集成电路芯片组合逻辑关系判别问题,主要探究了芯片电气属性判定方法、多输入变量的逻辑简化以及芯片逻辑关系测试。在设计过程中,首先通过实验手段提出判定芯片引脚的方法,即分辨出输入引脚、输出引脚、电源和地引脚。在此基础上,利用PIC16F877A单片机和Visual Basic软件共同完成芯片逻辑关系的测试。测试出来的真值表再经由Boolean Minimizer软件进行逻辑简化,最终得到了最简的输入输出之间的逻辑关系。实验证明系统运行快捷,辨识结果可靠。     

基于旁路分析的硬件木马检测方法

集成电路芯片在不受控的制造过程中可能会被嵌入恶意电路结构,形成硬件木马,这给集成电路芯片的可靠性和可信度带来了极大的隐患,而利用传统的测试技术很难发现这些硬件木马.针对这一问题,文中提出了一种非破坏性的、基于旁路分析的硬件木马检测方法,它通过对芯片功耗瞬态变化情况的分析,采用奇异值分解算法对功耗进行统计处理来检测芯片中的硬件木马.在FPGA芯片上的硬件验证结果表明,即使在测量噪声和工艺扰动较大的环境中,文中方法也能检测出面积比原始电路小2个数量级的硬件木马.     

基于LK8820测试机的芯片参数测试研究

作为LK8810S升级版本的LK8820测试机，硬件资源更加丰富，测试机函数进一步优化。分析了LK8820测试机的特点，并以CD4511芯片为例，通过CD4511测试电路设计和搭建、静态工作电流测试、输出高电平电压测试和输入高电平电流三种参数的测试，探究基于LK8820测试机的芯片参数测试的方法和过程。此种基于LK8820的数字芯片直流参数测试方案可操作性强，测试速度快，推动了OBE理念教学，提升了集成电路产业链效率。     

基于产教融合的高职院校集成电路专业人才培养模式的探索

随着集成电路产业的完善与发展,集成电路技术型人才出现很大的缺口,如集成电路的后端设计、芯片的封装与测试等方面,均需要职业教育的培养。该文将探讨现代高职教育中集成电路专业的创新人才培养模式,探索提高学生的专业能力方法,创设适用于企业人才需求的教学方式,赋予其具有在高职院校之间集成电路技术专业构建的推广价值。     

LSSVM在指数寿命型小子样IC寿命预测的应用

针对传统寿命预测方法需要大量样本与现代高可靠集成电路（IC）在寿命试验中通常只有少量失效样本的矛盾,提出了基于最小二乘支持向量机（LSSVM）的指数寿命型小子样IC寿命预测方法。用蒙特卡罗方法研究了该方法在指数寿命型IC寿命预测应用中的可行性,同时与基于神经网络的预测方法相比,结果表明基于LSSVM的方法能更精确地预测小子样下IC的寿命,可为预测指数寿命型小子样IC的寿命提供一种新的有效途径。     

浅谈集成电路的测试技术

集成电路测试是保证集成电路质量、发展的关键手段。该文从集成电路测试的过程概述性地介绍了集成电路的测试技术和集成电路的自动测试系统。     

CMOS电路电流测试技术研究

集成电路的设计与测试是当代计算机技术研究的主要问题之一。CMOS集成电路测试技术,受到人们的广泛关注。本文介绍了CMOS集成电路测试技术基本原理和关键问题,探讨了电流测试的研究进展及现状,并提出了该技术的研究方向。     

腺病毒介导的wtp53基因对五种癌细胞系的生长抑制作用

构建重组腺病毒载体 Ad CMVp53 ,将 wtp53分别导入 PG(人肺巨细胞瘤细胞 )、CAE(人结肠癌细胞 )、HCT(人结肠癌细胞 )、He La(人宫颈癌细胞 )及 BEL74 0 2 (人肝癌细胞 )五种癌细胞中 ,测定 Ad CMVp53对癌细胞的半抑制浓度 ( IC5 0 )和细胞生长曲线 ,分析不同组织癌细胞对 Ad CMVp53的敏感程度 .结果表明 ,Ad CMVp53对癌细胞具有与病毒剂量相关的明显致死作用 ,但不同细胞对腺病毒剂量的敏感程度有差异 ,PG、CAE和BEL74 0 2三个细胞系较为敏感 ,其 IC5 0 低于 1 5MOI(重复感染率 ,multipicity of infection) ;而 He La和 HCT细胞需要较高的病毒剂量 ,IC5 0 分别为 1 0 0 MOI和 80 0 MOI.     

模拟及混合信号芯片的可测性设计

对现有模拟及混合信号芯片可测性设计方法从测试内容、测试信号传输路径、测试信号产生及检测方式等不同角度进行了分类和分析比较。研究指出，在测试内容方面，基于结构的方法由于可得到较高的故障覆盖率并容易对其进行量化计算，因此被认为是今后发展的主要方向；在测试信号传输路径方面，基于总线的方法具有较易实现标准化的优点；而在测试信号产生及检测方面，内建自测试可大大降低测试所需代价，因此有较大的研究应用前景．统一的低测试代价和高故障覆盖率的模拟及混合信号芯片可测性设计方法的产生对于芯片设计来说将是进一步发展的要求和保障．     

内燃机微动疲劳损伤的试验与仿真研究

本文针对内燃机机体隔板与主轴承盖螺栓紧固连接处的微动疲劳问题展开研究工作。通过对主轴承盖所受载荷模式的分析,设计了内燃机微动疲劳实验系统及相关实验方法,进行了内燃机典型紧固结构微动疲劳等效模型实验。结合对螺栓连接紧固面接触应力场分布的有限元分析结果,研究了主轴承盖与机体隔板紧固面微动疲劳失效机理。研究表明,螺栓预紧力和主轴承盖所承受的附加扭转力矩是影响机体隔板与主轴承盖紧固连接微动疲劳的主要因素,附加翻转力矩的波动使接触区的接触状态不断变化,导致接触区表面的损伤;通过增加螺栓预紧力有助于减缓机体隔板与主轴承盖紧固连接的微动疲劳损伤。     

内燃机试验数据处理系统开发

为了评价内燃机在不同工况下运行的动力和经济性能,必须研究内燃机特性。文章介绍了内燃机试验数据处理系统,通过数据文件采集数据,由编制的软件根据相应公式计算内燃机的特性参数,采用拟合方法绘制内燃机特性曲线。实际应用表明,该系统可以方便、快速且准确地处理内燃机试验数据,并清晰地绘制特性曲线。     

通用集成电路编程及测试仪

我系研制的XUSI-Ⅰ型通用集成电路编程及测试仪,可对数千种集成电路进行编程与测试,并配有可升级应用软件,在计算机开发与应用、工业控制、智能仪表等领域具有广泛的应用前景。1 仪器工作原理 本仪器由专用的适配卡与PC总线相连,同IBM PC XT/AT及兼容机组成系统,通过40     

离子色谱与常规化学法测定饮用水中氯化物的比较

同时采用离子色谱法和常规化学法对饮用水中的氯化物含量进行了测定 ,两者的结果在同一水平 ,说明离子色谱法准确可靠。离子色谱法比常规化学法简单快速 ,适合批量水样快速测定 ,可以为环境监测工作提供有力的保证。     

硝化聚酰亚胺／多官能团环氧树脂的相容性及断裂行为

研究了聚酰亚胺的硝化反应，并用ＮＭＲ、红外光谱、元素分析和粘度测定对硝化聚酰亚胺进行表征．将硝化聚酰亚胺与多官能团环氧树脂共混，通过ＳＥＭ、ＤＭＴＡ和三点弯曲试验分析共混物的相容性和断裂行为，结果显示了硝化聚酰亚胺与环氧树脂相容性良好，可作为聚酰亚胺／环氧树脂共混体系的增容剂．但是，纯硝化聚酰亚胺则不能有效地提高环氧树脂临界应力强度因子（ＫＩＣ）和临界应变能释放速率（ＧＩＣ）．