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相似文献
 共查询到18条相似文献,搜索用时 109 毫秒
1.
利用多层Bayes方法研究了并联系统可靠性指标的近似置信限,给出了部件失效率,系统可靠度和平均寿命近似置信限的计算公式.最后,用随机模拟的方法对所得到的结果进行了分析,说明了该方法的合理性.  相似文献   

2.
利用E-Bayes和多层Bayes方法对定时截尾试验数据下表决系统的可靠性指标进行估计,得到了部件失效率、系统可靠性和系统平均寿命的E—Bayes近似置信限和多层Bayes近似置信限,并利用蒙特卡罗方法进行模拟比较,结果表明,多层Bayes方法比E—Bayes方法更具优势.  相似文献   

3.
基于元件的定数截尾寿命试验数据和切换开关的成败型试验数据,对两部件温贮备系统可靠性的置信限进行了研究,分别得到了系统精确和近似fiducial置信限模型,最后给出随机模拟例子并讨论了置信限的精度.  相似文献   

4.
基于元件和切换开关的定数截尾寿命试验数据,对指数寿命型部件、开关组成的温贮备系统可靠性的近似置信限进行研究;给出系统可靠度精确Fiducial置信下限,求得系统可靠性的近似Fiducial置信下限.通过计算机模拟说明给出的置信限符合实际.  相似文献   

5.
本文对由指数型部件组成的贮备系统提出了可靠度置信限评定的置信方法,推导了贮备系统可靠度置信限的表达式,讨论了转换开关对贮备系统可靠度评定的影响.  相似文献   

6.
讨论了独立指数部件串联系统可靠度的置信下限估计问题,试验方式为定时有替换.用各方法,到了R的9个近似置信下限,并对这些近似置信下限作了仿真摸拟比较.  相似文献   

7.
本文讨论了部件和系统都作定数截尾试验时,独立指数部件串联系统可靠度的置信限估计问题。推广了中的结果,得到了结合部件试验数据和系统试验数据的系统可靠度精确置信下限求解方程。由此解得的可靠度置信限在无偏意义下是最优的。  相似文献   

8.
对于由部件寿命服从指数分布及成败型开关组成的冷贮备系统,在针对一隐蔽实验数据下,研究了该系统可靠性指标的Bayes估计.在超参数未知,平方损失函数下给出了两个参数及可靠性的Bayes估计.对于超参数的确定,给出了一种新的方法,最后给出了系统可靠性的Bayes近似置信限的计算公式.  相似文献   

9.
基于指数型元件的定数截尾寿命试验数据,给出了k个贮备系统组成的串联系统可靠性的近似置信限。  相似文献   

10.
从部件的寿命试验数据去估计系统可靠度,在可靠性评估问题中是一个重要问题。本文主要对各部件进行定总试验(即试验总时间确定的试验),通过试验数据给出求系统可靠度的信赖置信限的方法,这里所使用的是三十年代 R.A.Fisher 提出的“信赖方法”。  相似文献   

11.
12.
利用大量数值试验,得出机器单双精度下关于两同符号数相加时"大数吃小数"界限的数据.对试验数据进行分段线性拟合,给出"大数吃小数"界限的近似公式,与试验数据比较表明近似公式具有良好的估计效果,可为单双精度下避免"大数吃小数"现象提供可靠的依据.进一步,将机器单双精度的结果推广至任意机器精度,得到的结论可方便应用于实际的数值运算中.  相似文献   

13.
本文根据预测区间的基本原理,讨论了指数部件串联系统寿命的预测区间。我们用各部件试验数据,借助于Sarkor,Kraemer,Ross 求指数分布串联系统可靠度置信下限的基本方法,给出了串联系统寿命预测置信区间的Sarkor 限,Kraem-er 限和Ross 限。用Bayes 方法得到了串联系统寿命的Bayes 预测限。  相似文献   

14.
利用边界矩阵和区间算法理论,讨论超定系统奇异解的数值解法及其可信验证.提出一种新算法,该算法输出一个近似解及其相应的误差界,使得在近似解的误差界范围内必存在一个精确解.  相似文献   

15.
三参数威布尔分布的参数估计方法   总被引:9,自引:1,他引:9  
给出三参数威布尔分布参数的分位数估计、拟矩估计和改良的极大似然估计,用随机模拟方法研究这些估计和简单估计等的优良性.在优选估计的基础上给出了可靠度的Bootstrap置信限.  相似文献   

16.
对一类有界的不确定的非线性动态系统 ,提出了一种基于具有连续函数特性的准滑动模态变结构控制的自适应控制方法。该方法在对象参数未知的情况下 ,利用变结构原理来学习在 L yapunov意义下系统的不确定界 ,从而实现对系统参数未知界的估计 ,并确保跟踪误差满足预先给定的性能要求。仿真结果表明该方法是有效的 ,并且使系统的抖振有较大程度的削弱  相似文献   

17.
讨论了检测正确率小于l的情况下,按检测数据由独立的成败型元件组成的串并联系统及并串联系统可靠性的近似置信下限.利用系统诸元件的试验数据,在一、二阶矩拟合的原则下,将其折合为原系统的伪试验数和伪成功数;然后,利用单个成败型元件可靠性的经典精确置信下限作为原系统可靠性置信下限的近似值;给出了伪试验数和伪成功数的推导公式,最后给出了模拟计算实例,说明该方法可行.  相似文献   

18.
得到了基于元件的分组数据和双向删失数据串联系统可靠度的近似置信限。其计算是简单的。  相似文献   

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