磁记录材料及其测量

综述了磁记录的几种记录模式的特点、磁记录介质和磁头材料的种类、性能以及对它的要求;同时简述了磁记录的工作原理和目前国内外的研究现状和前景;最后介绍了磁性薄膜介质的厚度、晶体结构、形貌、成分和磁性能等主要参数的测量方法。     

磁记录工作原理及其应用探究

本文主要介绍了帮助人类记忆的一大重要技术磁记录,细致地分析了磁记录的工作原理及其在生产生活中的应用。同时,本文给出了磁记录装置中磁头附近磁场的计算方法,以及磁介质的记录磁化过程,使我们从中掌握其在学习和工作中的重要性和必然性。     

磁记录材料的现状及展望

作为声音、图像和数据记录最重要记录媒体之一的磁记录材料,已被广泛应用于广播、电视、工程控制、科学研究、办公自动化和人们日常生活的各个方面。本文概述了近年来世界磁记录材料行业的经济技术发展状况;对80年代音频、视频及数据处理用各类磁记录材料在高密度记录和微型化方面所取得的技术进步,做了较系统的介绍,并对90年代的发展做了展望。     

垂直磁记录软盘动态垂直度的确定

为解释磁记录软盘的磁学性质与输出再生波形的对应关系，建立了动态垂直度的概念和相应的测试、分析技术。通过对真实输出波形的拟合分析，可以确定动态垂直度。因而能更好地了解磁盘的磁性并指导垂直磁记录软盘的制备研究。     

磁记录微观摩擦学性能测试仪的研制

为展开磁记录微观摩擦学的研究 ,自行研制了磁记录微观摩擦学性能测试仪。它可以模拟磁盘系统 ,并通过计算机对高速电机转速和起停状态的控制来精确模拟硬盘的各种运行及起停状态。该仪器实现了动态摩擦力、正压力、飞行间隙和微磨损的在线测量。测力系统采用相互垂直的簧片式微悬臂结构 ,正压力通过位移精确控制 ,正压力和摩擦力的分辨率分别达到 5μN和 1μN。膜厚测试系统中 ,采用双色光入射 ,保证测量系统在各种膜厚下都具有高分辨率 ,利用相对光强光干涉法 ,使测量系统在膜厚方向上的分辨率稳定在 0 .5 nm ;磨损测量系统中利用等厚干涉原理 ,来实现磁盘高速旋转下的非接触实时磨损厚度测量 ,可测磨损厚度的分辨率小于 1.5 nm     

准垂直磁记录的信息检测方法

0 引言垂直磁记录是一种高密度记录的新技术.目前,在垂直磁记录研究中,有两种磁头/介质组合被认为是有使用前途的.一种是单极磁头/双层垂直介质组合.由于单极磁头磁场中垂直分量占优势,所以这种组合有很理想的垂直记录特性,在实验室中已获得680 KFCI 的     

酸法合成针形超微粒α—FeOOH过程研究：Ⅱ.铁黄生长

对铁黄生长过程进行理论分析，研究了晶种形态、通气量、搅拌转速、滴碱速率等对铁黄形态的影响，考察了酸法磁粉磁性能，发现在铁黄制备过程中，既存在铁黄生长过程，也可能出现二次成核过程，晶种形态直接影响铁黄形态，通气量和搅拌转速的增加或滴碱速率的减小都会改善体系微观混合状态，使铁黄粒子粒度分布均匀，枝叉和孪晶减少，控制晶种制备和铁黄生长条件，可以使热处理所得磁粉矫顽力大于４００Ｏｅ，比饱和磁化强度大于７２     

高面密度垂直记录交叉方位角记录方式研究

研究了垂直记录单极型磁头的偏道特性及串音特性。在此基础上，提出了一种利用交叉方位角记录方式，减小实际记录道宽，消除保护带，从而充分利用磁盘记录媒体表面的新方法，在实现高道密度磁记录的同时，提高记录面密度。为实现这一目的而设计制作的双道方位角磁头，用于软盘系统，比相同宽度的普通头提高道密度一倍以上。     

Ti覆盖层厚度对Ti/Ni/Ti磁性薄膜的磁特性和微结构的影响

室温下利用磁控溅射法,在玻璃基片上沉积了Ti(3 nm)/Ni(30 nm)/Ti(t=3,5,7,10 nm)磁性薄膜.实验发现,500℃退火30min,覆盖层厚度t=7 nm时,样品的矫顽力达到最大.利用振动样品磁强计、扫描探针显微镜观测了样品的磁特性、表面形貌和磁畴,X射线衍射图谱表明,样品中的Ni颗粒形成了面心立方(FOC)结构.     

纺锤形铁黄α—FeOOH微晶合成动力学研究

本文对纺锤形α－ＦｅＯＯＨ微晶合成动力学过程进行了研究，利用复相反应经验动力学方程，考察了初始浓度，反应温度和空气流量对Ｆｅ（ＯＨ）２－ＦｅＣＯ３悬浮液氧化速率的影响，确定了α－ＦｅＯＯＨ成核－生长速率方程，证实了晶粒生长阶段存在溶解－氧化的动态平衡，根据活化能大小，推断相界面氧化反应为该相反应的控制步骤，还对α－ＦｅＯＯＨ成核生长微观机理作了初步探讨。     

脉宽调制磁记录系统的放音速度控制

在脉宽调制的磁记录模拟系统中，利用载波调频方式设置调频时标，该时标在放音时被检取作控制的同步信号，可实现放音速度的自动控制。     

浸渍包钴对超微铁颗粒磁性的影响

研究了用浸渍方法在超微铁颗粒表面生成了一层钴铁氧体层，并对曲此引起样品的比饱和磁化强度和矫的改变进行探讨。