浅析杨氏干涉实验中光源宽度的极限

在杨氏干涉实验中,光源宽度是影响干涉条纹清晰度的一个重要因素。从干涉条纹的衬比度和影响干涉条纹的相关因素出发,可以推出杨氏干涉实验中光源的极限宽度。     

小角度干涉条纹移动测量法

要 本文阐述具有角度的工件在干涉显微镜下移动，造成光程差的变化，从而引起干涉条纹的移 动。通过测量工件的移动量和干涉条纹移动量之间的关系计算工件角度．这种方法比起一般干涉 条纹不动的测量法可扩大测量范围、提高测量精度，使用也较方便．文中列举几个测量实例和数 据，并分析其测量精度。     

振动干涉计量的一种方法

本文介绍测量物体振动的一种新方法。该方法由相干光源照明相位板,在空间产生恒定干涉场,将振动物体置于干涉场中,记录下带有物体振动信息的干涉条纹。根据此干涉条纹可定量分析物体振动的振幅。理论分析与实验结果相符。     

薄膜干涉条纹定域和形状问题的讨论

基于薄膜干涉光程差公式，介绍了干涉条纹的定域和形状与薄膜厚度、光线入射角、照明光源的类型、条纹观察方式等因素的连带关系，并着重讨论了面光源照明、眼睛观察时，既非等厚又不是等倾干涉情况下的条纹形状问题。     

迈克耳逊干涉仪的调节技巧和应用

用白光作光源,调节迈克耳逊干涉仪的反射镜M1、M2相垂直,把白光换成激光即能看到等倾干涉条纹;在看到等倾干涉条纹基础上,按照干涉环陷入的方向转动中轮,直至条纹变粗、将要变直,再按照中轮的转向转动副尺,很快就能看到白光干涉条纹;用迈克耳逊干涉仪测量介质的折射率,精确度高、准确。     

光的非单色性对薄膜干涉条纹的影响

利用光的干涉结果,分析了普通光源在薄膜干涉中对干涉条纹的影响和对薄膜厚度的限制.     

光源特性对双光束干涉现象的影响

用数学分析的方法,讨论了光源特性对双光束干涉强度分布的影响,结果表明,在干涉装置中,光源单色性的好坏,几何线度的大小直接影响着干涉条纹的清晰程度。     

二相干点光源干涉条纹分布和可见度研究

导出光强空间分布曲面方程式以及不同平面与直线上干涉条纹的分布,应用瑞利判据研究了光源宽度对干涉条纹可见度的影响。     

用可见度来讨论两束部分相干光的干涉场

本文以非相干的准单色平面光源作为初级光源,分析了由它分解成的两束部分相干光形成的干涉场。用干涉条纹的可见度讨论了干涉场的特征,且说明了可见度与光源的单色性和大小的关系。     

麦克尔逊干涉实验的计算机模拟

利用VB编程技术及Win32API函数,在计算机上创建麦克尔逊干涉的模拟实验环境,实验利用双光束干涉光强公式获得麦克尔逊的干涉条纹,并模拟干涉条纹的移动和对干涉条纹进行仿真测量。该实验环境可完成设备创建、设备操作、现象观察和数据测量等实验过程。     

光源大小对薄膜干涉条纹可见度的影响

研究了光源大小对薄膜干涉条纹可见度的影响，导出关系式并说明它们的普遍意义     

双棱镜干涉实验的研究

在分析双棱镜干涉实验存在干涉条纹调节难度大、与实验误差大的原因的基础上,给出了快速调出干涉条纹的方法,采用拉大棱镜与狭缝、目镜与狭缝之间的距离,与一次成像测两虚光源间距的方法,减小了实验误差。     

钠双线对干涉牛顿环的影响

本文根据干涉原理,讨论钠光源（钠双线）对等厚干涉-牛顿环产生的影响,由于干涉条纹的间隔与光波波长有关,因而波长仅差5,893×10－4μm的钠双线所产生的两组牛顿环叠加使干涉条纹的可见度下降.     

利用杨氏双缝干涉实验检测涡旋光束的拓扑荷数

研究涡旋光束经过杨氏双缝干涉后的干涉条纹,发现不同于平面波的竖直干涉条纹,涡旋光束的干涉条纹出现扭曲.从条纹的上部往下看,涡旋光束的干涉条纹出现横向的移动,而移动的方向和大小分别取决于涡旋光束拓扑荷数的符号和数值大小.对干涉条纹进行观察发现,实验观察结果和理论结果基本上保持一致,可以通过观察涡旋光束的干涉条纹来判断涡旋光束的轨道角动量.     

扩展准单色光杨氏干涉条纹的光强分布

用三种方法讨论部分相干光理论中,在既考虑光源线度又考虑谱线宽度情况下,扩展准单色光杨氏干涉条纹的光强分布。     

薄膜干涉的定域分析

由于实际光源有一定的大小,从而引伸出了薄膜干涉的定域问题。本文从扩展光源对干涉条纹可见度的影响,分析了确定薄膜干涉定域中心及定域深度的方法。     

基于MATLAB的双点光源干涉现象的模拟

利用MATLAB强大的科学计算功能,模拟双点光源的干涉现象,并创建交互式界面,用户可以通过改变输入参数模拟不同条件下三维空间任意平面的干涉条纹;该模拟简便、直观的展现了双点光源干涉这一物理现象,为光学实验教学提供了方便.     

杨氏干涉条纹可见度的理论分析

本文由范西特一泽尼克定理出发从理论上讨论杨氏干涉实验中光源的单色性，扩展光源宽度以及两缝间距等因素对干涉条纹可见度的影响．     

光源宽度与干涉条纹可见度的关系

在双缝干涉实验中,所用光源若是有一定宽度的,则屏上干涉条纹的可见度将受到一定的影响．当宽到一定程度时,屏上千涉条纹的可见度将下降到不可观测的程度．推导出了屏上不可观测的情况出现时所用光源的最大允许宽度．     

对杨氏实验的分析

本文以杨氏实验为例，力图用通俗易懂的语言和分析方法来阐明光源的非单色性和光源的宽度对干涉条纹的影响，以及光场的时问相干性和空间相干性这两个重要概念。