粉末多晶X射线衍射积分强度公式的研究

分析了粉末多晶X衍射积分强度公式常见推导方式中存在的问题 ,即近似条件不明确 ,物理图象欠清楚。采用本文总结的正空间———倒空间———正空间分段分析方法 ,提出了一个物理图象清晰的新的推导方式 ,最后同样得到粉末多晶X射线衍射积分强度公式     

X射线衍射强度公式的修正

X射线衍射技术在物相分析、点阵参数测量以及微应力的测定等方面被广泛应用,为了更精确地确定物理参数,X射线衍射强度的精确计算是十分重要的.目前单晶X射线衍射的强度公式的理论计算结果与实验数据有较大偏差.对衍射强度公式进行合理修正,使计算结果得到较大改善,并与实验测量的数据符合得更好.     

NSRL衍射和散射站的性能及在材料科学中的典型应用

介绍了国家同步辐射实验室二期工程X射线衍射和散射光束线实验站的建设与主要设备．利用设备采用X射线反射法，在不破坏样品的情况下得到了Si／C多层膜的结构信息；通过对标准Si粉末样品的FWHM测试表明该站可进行粉末全谱扫描；利用X射线掠入射衍射技术分析了ZnO薄膜的生长条件与结构的关系；采用X射线散斑方法直接观测了弛豫铁电体内部的纳米空间尺度的电极化团簇的空间时间构造．     

NSRL衍射和散射站的性能及在材料科学中的典型应用

介绍了国家同步辐射实验室二期工程X射线衍射和散射光束线实验站的建设与主要设备.利用设备采用X射线反射法,在不破坏样品的情况下得到了Si/C多层膜的结构信息;通过对标准Si粉末样品的FWHM测试表明该站可进行粉末全谱扫描;利用X射线掠入射衍射技术分析了ZnO薄膜的生长条件与结构的关系;采用X射线散斑方法直接观测了弛豫铁电体内部的纳米空间尺度的电极化团簇的空间时间构造.     

TZP陶瓷的X—射线定量相分析

采用Ｘ－射线衍射方法研究了四方相氧化锆多晶陶瓷中的物相，提出了应用四方相氧化锆双谱线峰强度比Ｉ（２００）／Ｉ（００２），计算ＴＺＰ陶瓷中立方相氧化锆含量的Ｘ－射定量相分析方法。     

测量微球覆层厚度的X射线衍射法

对采用X射线衍射测量微球覆层厚度的方法进行了研究,首先在建立微球X射线衍射数学模型的基础上,利用一组已知厚度和X射线衍射线积分强度的标样,通过计算机模拟求解的方法,得到微球衍射线积分强度和覆层厚度的关系.然后,在相同条件下进行待测试样的X射线衍射实验,将其衍射线积分强度代入求解模型得到的结果中就能得到待测试样的覆层厚度.实验结果表明,X射线衍射法是可行的,具有快速、方便、非破坏、不接触等特点.     

X射线粉末衍射法分析石墨插层化合物的结构

根据X射线粉末衍射谱图，对经不同方式处理的石墨的结构进行分析，用对比方法比较了它们衍射谱图中衍射峰位置和强度的差异．分析其原因，进而判断它们的结构特征．结果表明可以利用适当的方法使一些非碳反应物插入石墨层间．从而制成石墨层问化合物(GIC)．改善其性能，扩大其应用领域．     

测量微球覆层厚度的X射线衍射法

对采用X射线衍射测量微球覆层厚度的方法进行研究,首先在建立微球X射线衍射数学模型的基础上,利用1组已知厚度和X射线衍射线积分强度的标样,用计算机模拟求解的方法,得到微球衍射线积分强度和覆层厚度的关系.然后,在相同条件下进行待测试样的X射线衍射实验,将其衍射线积分强度代入求解模型得到的结果中就能得到待测试样的覆层厚度.实验结果表明,X射线衍射法是可行的,具有快速、方便、非破坏、不接触等特点.     

X射线物相分析的微机模拟

报导了多媒体软件动态模拟X射线物相分析的全过程．该多媒体软件在奔腾系列个人计算机上选用Windows98为开发和运行环境，Visual Basic 6.0为主开发工具．详细介绍了多晶X射线衍射仪的工作条件设定，衍射仪的工作原理，衍射数据采集和衍射图谱绘制，物象分析的模拟过程以及软件的设计思想、主要功能、技术关键和使用方法，并给出了实例．     

TZP陶瓷的X－射线定量相分析

采用Ｘ－射线衍射方法研究了四方相氧化锆多晶（ＴＺＰ）陶瓷中的物相，提出了应用四方相氧化锆（Ｔ－ＺｒＯ２）双谱线峰强度比Ｉ（２００）／Ｉ（００２），计算ＴＺＰ陶瓷中立方相氧化锆（Ｃ－ＺｒＯ２）含量的Ｘ－射线定量相分析方法．通过力学性能测试进一步验证了Ｃ－ＺｒＯ２的存在对ＴＺＰ陶瓷断裂韧性Ｋ１ｃ和抗折强度的影响．     

修正衍射线线形的函数

本文论述了粉末衍射线积分强度公式中的角因数（１＋ｃｏｓ２２θ）／（ｓｉｎ２θｃｏｓθ），只适用于对衍射线积分强度的修正，并指出目前国内外文献中都用（１＋ｃｏｓ２２θ）／（ｓｉｎ２θｃｏｓθ）修正衍射线的线形是错误的。论文中导出了修正衍射线线形时适用的角因数（１＋ｃｏｓ２２θ）／ｓｉｎ２θ。并比较了两个函数的形状，及它们对实验结果的影响。     

纳米Ni的制备与微观结构

介绍了利用机械－物理固相效应制备纳米Ｎｉ粉，并用Ｘ射线衍射、透射电镜技术检测了它的微观结构，属于面心立方的金属Ｎｉ，粉末呈单晶和多晶簇团共存。这种制备纳米粉末的装置简便，易于建造，投资少，可用于金属、氧化物纳米粉末的工业生产。     

淀粉多晶体系的亚微晶结构研究

通过对淀凝胶,预糊化淀粉以及不同状态的玉米原淀粉颗粒的广角X射线衍射研究,提出了在淀多晶体系中存在大量的介于微晶和非晶之间的亚微晶结构,同时明确了这三种结构在X射线衍射曲线中的对应区域,从而进一步揭示了[人颗粒结构的实质。     

GaN外延膜厚度的X射线双晶衍射测量

提出了一种利用X射线双晶衍射测量GaN厚度的新方法. 该方法采用GaN积分强度和衬底积分强度的比值与样品厚度的关系来测量GaN外延膜厚度, 此比值与GaN样品厚度在t <2 μm为线性关系. 该方法消除了因GaN吸收造成的影响, 比单纯用GaN积分强度与样品厚度的关系推算GaN外延膜厚度精度更高, 更方便可靠.     

生物膜样品X射线小角衍射狭缝畸变效应的消除

小角衍射仪的狭缝效应造成衍射图象的强度畸变，从而使后续的结构计算更加困难。 为此，对小角衍射仪的狭缝系统作了改进，并采用位置灵敏探测技术，使得用一般功率的Ｘ光 机，即可对部分有序的生物膜长周期样品获得基本无狭缝效应的衍射图象。同时可比一般点状 聚焦照相技术的测量时间缩短。用这一技术获得了蟾蜍坐骨神经髓鞘膜、鼠肌腱等的衍射图。     

薄膜微结构分析的几种X射线散射技术

文章厄要介绍了X射线小角反射、X射线漫散射技术、X射线表面衍射和多晶薄膜的小角衍射实验原理和实验技术．特别针对各种实验技术中实验数据的采集要求做了细致描述;通过对自旋阀、异质结构中的应变、薄膜深度轮廓及应变规律等的研究,说明这些散射技术在薄膜研究中的应用．     

西藏胡黄连X射线衍射Fourier图谱鉴定

目的：建立中药材胡黄加的鉴定分析新方法．方法；采用粉末X射线衍射Fourier谱鉴定法．应用粉米X射线衍射Fourier谱鉴定法对1个西藏胡黄连药材对照品和4个西藏胡黄连中药材进行了分析鉴定．结果：获得了西藏胡黄连的标准X射线衍射Fourier指纹图谱及特征标记峰值．结论表明：粉末X射线衍射Fourier谱鉴定法可用于中药材胡黄连的鉴定．     

卤化碱晶体的快速分析方法

通过对KCl、KBr、NaCl的粉末X—射线衍射实验，指出它们的衍射规律，在理论上用几何结构因子的表达式解释了所得的衍射规律，在实验中所观察到的晶体颜色的变化用晶体缺陷做了初步的解释。     

多晶α—氧化铝粉末易烧结性能分析

用多晶X射线粉末衍射技术和物理、化学分析方法,对多晶α-氧化铝亚微米级粉末材料的易烧结性能进行了测量和分析.探讨α-氧化铝粉末材料的易烧结性能与α-氧化铝的纯度、粒径、粒度分布和粒子形状的关系,并分析了易烧结α-氧化铝陶瓷制品的成形及烧结工艺条件对材料易烧结性能的影响.     

测定薄膜厚度的基片X射线衍射法

基于X射线衍射与吸收理论，建立了一种薄膜厚度测量方法，即基片多级衍射法．利用X射线衍射仪测量高速钢表面的TiN薄膜厚度，由于膜下基片的衍射强度较高及衍射峰形良好，可以确保薄膜厚度的测量精度．本法克服了非晶薄膜材料中薄膜衍射信息较差以及存在织构等不利因素所导致测量结果不可靠等问题．