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相似文献
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1.
采用直流磁控溅射方法,在Si(100)单晶衬底上制备γ′-Fe4N纳米晶薄膜样品,并利用X射线衍射(XRD)和振动样品磁强计(VSM)对样品的结构和磁性进行测试分析,给出了比饱和磁化强度及矫顽力与温度的关系.结果表明,样品沿(111)晶面择优生长,具有单一的易磁化方向,且易磁化方向平行于(111)晶面.随着测量温度的降低,γ′-Fe4N纳米晶薄膜样品的比饱和磁化强度σs增加,矫顽力Hc增大,剩磁比σr/σs减小.通过理论拟合确定了比饱和磁化强度与矫顽力随温度的变化关系,矫顽力随温度的变化满足T1/2规律,比饱和磁化强度σs与温度不满足Bloch的T3/2规律,表明在80~350 K温度范围内自旋波之间存在较强的相互作用.  相似文献   

2.
采用直流磁控溅射方法,在Si(100)单晶衬底上制备γ'-Fe4N纳米晶薄膜样品,并利用X射线衍射(XRD)和振动样品磁强计(VSM)对样品的结构和磁性进行测试分析,给出了比饱和磁化强度及矫顽力与温度的关系. 结果表明,样品沿(111)晶面择优生长,具有单一的易磁化方向,且易磁化方向平行于(111)晶面. 随着测量温度的降低,γ'-Fe4N纳米晶薄膜样品的比饱和磁化强度σs增加,矫顽力Hc增大,剩磁比σr/σs减小. 通过理论拟合确定了比饱和磁化强度与矫顽力随温度的变化关系,矫顽力随温度的变化满足T1/2规律,比饱和磁化强度σs与温度不满足Bloch的T3/2规律,表明在80~350 K温度范围内自旋波之间存在较强的相互作用.  相似文献   

3.
采用直流磁控溅射方法, 在氮气分压为10%的条件下获得了单相纳米晶ε-Fe3N磁性薄膜, 先将薄膜样品在真空中分别于500,600,700,800 ℃退火, 再利用X射线衍射(XRD)和振动样品磁强计(VSM)表征不同退火温度样品的结构和磁学性能. 结果表明: ε-Fe3N样品在小于600 ℃可保持结构稳定; 在退火过程中, ε-Fe3N薄膜的比饱和磁化强度变化较小; 矫顽力先减小后增加; 经过500 ℃退火的ε-Fe3N样品软磁性能最佳.  相似文献   

4.
利用甘氨酸作为燃料和配合剂, 采用自蔓延燃烧法制备纳米晶钴铁氧体, 并通过X射线衍射、 扫描电子显微镜和振动样品磁强计表征样品的结构和磁性能. 结果表明, 平均晶粒尺寸对样品的磁性能影响较大, 晶粒尺寸随烧结温度的变化而变化, 并得到了矫顽力Hc和比饱和磁化强度σs随烧结温度的变化曲线.   相似文献   

5.
采用直流磁控溅射方法, 保持氩气流量不变, 控制氮气的体积分数为10%,125%,15%, 分别用Si(100)单晶和SrTiO3(100)单晶基片制备Fe N薄膜. 用X射线衍射(XRD)和振动样品磁强计(VSM)等方法对两种不同基片生长Fe N薄膜的结构及磁学性能进行表征. 结果表明: 在SrTiO3(100)单晶基片上得到了单相γ′-Fe4N薄膜, 与Si(100)基片上的样品相比, SrTiO3(100)更有利于诱导γ′-Fe4N薄膜的取向性生长; 当氮气的体积分数约为12.5%时, 制备单相γ′-Fe4N薄膜的晶粒结晶度较好, 且饱和磁化强度较高, 矫顽力比Si(100)为基片获得的Fe N薄膜样品低, 软磁性能较好.  相似文献   

6.
采用直流磁控溅射方法, 以Ar/N2(N2/(Ar+N2)=10%)为放电气体, 在Si(100)单晶衬底上获得了γ′-Fe4N薄膜样品. 利用X射线衍射(XRD)和振动样品磁强计(VSM)研究衬底偏压对γ′-Fe4N薄膜样品的影响. 结果表明, 随着衬底负偏压的增大, γ′-Fe4N薄膜样品的晶胞参数减小, Fe和N的化合效率与样品的致密度提高, 表面缺陷减少, 矫顽力降低.   相似文献   

7.
对靶磁控溅射FeCoN薄膜的结构与磁性   总被引:1,自引:0,他引:1  
利用改进后的对靶磁控溅射系统,  以N2/Ar混合气体为溅射气体,  在未加热的Si(111)衬底上沉积FeCoN薄膜.  采用X射线衍射仪(XRD)、 透射电子显微镜(TEM)、 扫描电子显微镜(SEM)和超导量子干涉仪(SQUID)研究不同Co靶溅射功率对FeCoN薄膜样品的结构、 形貌和磁性性能的影响.  结果表明: 固定Fe靶功率为160 W(电流I=0.4 A),  当Co靶功率为2.4 W(I=0.04 A)时,  薄膜由Co溶入ε-Fe3N中形成的ε-(Fe,Co)3N化合物相构成; 当Co靶功率为58 W(I=0.2 A)时,  获得了Fe3N/Co3N化合物相,  薄膜的饱和磁化强度(Ms)为151.47 A·m2/kg,  矫顽力(Hc)为3.68 kA/m; 当Co靶功率为11.9 W(I=0.07 A)时,  制备出具有高饱和磁化强度的α″-(Fe,Co)16N2化合物相,  薄膜的Ms=265.08 A·m2/kg,  Hc=8.24 kA/m.    相似文献   

8.
采用直流磁控溅射方法, 以Ar/N2为放电气体(N2/(Ar+N2)=10%), 在玻璃和NaCl(100)单晶片上分别沉积获得Fe-N薄膜样品. 利用X射线衍射(XRD)、 原子力显微镜(AFM)和超导量子干涉仪(SQUID)对样品的结构、 形貌和磁性能进行分析, 研究基片和基片温度等条件对薄膜的影响. 结果表明, 以NaCl单晶为基片获得单相γ′-Fe4N薄膜, 与玻璃基片相比可降低其生成的基片温度并可扩大形成温度的范围, 且比饱和磁化强度略有增大.   相似文献   

9.
利用X射线衍射和磁性测量研究Co80+xZr20-x(x=0,1,2,3,4)合金、 快淬薄带的结构与磁性. 结果表明, 所有样品的比饱和磁化强度均较大, 且在实验范围内随退火温度的升高而增加; 经750℃热处理2 h后, Co81Zr19样品的比饱和磁化强度达到最大值128 (A·m2)/kg; Co82Zr18快淬样品在25 m/s速率下的矫顽力最大, 为60 kA/m, 根据该样品中Co5Zr相的含量较大可知, Co5Zr相为Co-Zr合金的硬磁相; 由初始磁化曲线可知, 所有样品的矫顽力机制为成核模型.   相似文献   

10.
用聚乙二醇(PEG)和乙醇溶剂反沉淀法制备颗粒直径9.1~860nm的锂铁氧体纳米晶.X射线衍射分析表明这些纳米晶是纯LiFe5O8.用振动样品磁强计测量不同温度下的磁化和退化曲线,得出其比饱和磁化强度和矫顽力随纳米晶颗粒直径和温度的变化.利用趋近饱和定律求出不同温度下,样品的有效各向异性常数KE,发现颗粒直径为9.1nm的LiFe5O8纳米晶的KE比其大块材料的磁晶各向异性常数K1几乎增大10倍.利用均匀转动反磁化和混合矫顽力模型计算纳米晶的不同温度下的矫顽力,得出与实验相符的结果  相似文献   

11.
采用溶胶-凝胶法制备(CoFe2O4x/(SiO21-x纳米复合材料. 利用X射线衍射(XRD)和振动样品磁强计(VSM)研究样品结构、 晶粒尺寸及磁性. 结果表明, 随SiO2含量增加, 样品的晶粒尺寸减小, 比饱和磁化强度和矫顽力降低.   相似文献   

12.
 室温条件下,利用含Fe3+和Fe2+盐为前体的化学共沉淀法,成功地在木材表面上附着纳米磁性γ-Fe2O3颗粒,并经过进一步化学改性后得到超疏水性材料。利用SEM、XRD、VSM及FT-IR等分析技术对样品进行了表征分析。结果显示,磁性粒子的形状类似颗粒状,并均匀地附在木材表面;γ-Fe2O3纳米粒子通过氢键作用与木材表面的羟基相互键合而成功附着在木材表面,并且具有良好的晶型,且磁性γ-Fe2O3纳米颗粒显示出良好的超顺磁性,经过改性的磁化材料具备很好的超疏水性。  相似文献   

13.
利用甘氨酸作为燃料和配合剂, 采用自蔓延燃烧法制备纳米晶钴铁氧体, 并通过X射线衍射、扫描电子显微镜和振动样品磁强计表征样品的结构和磁性能. 结果表明, 平均晶粒尺寸对样品的磁性能影响较大, 晶粒尺寸随烧结温度的变化而变化, 并得到了矫顽力Hc和比饱和磁化强度σs随烧结温度的变化曲线.  相似文献   

14.
采用射频磁控溅射法在Si(111)基片上沉积了MnZn铁氧体薄膜,用X射线衍射仪(XRD)分析薄膜的物相结构,用振动样品磁强计(VSM)测量薄膜面内饱和磁化强度Ms和矫顽力Hc。结果表明:随着退火温度的升高,MnZn铁氧体薄膜的X射线衍射峰强度逐渐增强,且主峰逐渐由(311)峰变为(222)峰,沿(111)面取向生长明显。薄膜的饱和磁化强度和矫顽力均随着退火温度的升高而升高。  相似文献   

15.
采用直流磁控溅射方法, 在Si(100)单晶衬底上制备不同质量分数Ni掺杂的γ′-(Fe1-xNix)4N纳米晶薄膜样品,  并利用能谱分析、 X射线衍射(XRD)、 扫描电子显微镜(SEM)和振动样品磁强计(VSM)测试分析样品中Fe与Ni的原子比、 结构、 形貌及磁学性能. 结果表明, 在样品中掺杂Ni可提高材料的结构稳定性, 优化材料的软铁磁性能.  相似文献   

16.
采用直流磁控溅射方法,以Ar/N2作为放电气体(N2/(Ar N2)=10%),在玻璃衬底上于不同溅射时间获得了γ′-Fe4N单相薄膜。利用X射线衍射(XRD)和超导量子干涉仪(SQUID)研究了溅射时间对薄膜的生长及磁性性能的影响。结果表明薄膜样品明显沿γ′-Fe4N(111)晶面择优取向进行生长,其(111)晶面平行于样品的膜面。随溅射时间的增加,薄膜样品的晶粒尺寸没有明显的变化,薄膜厚度和矫顽力随溅射时间的增加而显著增大。  相似文献   

17.
采用一步电沉积在氧化铟锡(ITO)导电玻璃基底上制备纯相SnO2纳米晶薄膜材料,通过改变沉积条件,研究沉积电位、镀液温度和HNO3浓度对薄膜组成结构的影响。结果表明:当沉积电位为-0.9 V(vs.SCE),镀液温度为65℃,HNO3浓度为50 mmol/L时,所制备的SnO2纳米晶薄膜为纯相金红石型结构,且薄膜相对连续致密。光电性能测试表明,该薄膜具有优异的光电性能,在可见光区透光率大于90%,带隙为3.75 eV,且电阻率为2.2×10-3 Ω·cm,载流子浓度为1.9×1020 cm-3,载流子迁移率为14.8 cm2/(V·s)。故所制备的SnO2纳米晶薄膜是太阳能电池的理想窗口层材料。  相似文献   

18.
通过固相反应法制备不同掺杂浓度的La0.7Ca0.3Mn1-xCuxO3(x=0~0.15)样品, 在77~300 K温度范围内测量了铜掺杂后样品电阻随温度的变化关系. 结果表明, 在未引入铜杂质时, 低温铁磁相的电阻率满足T2.5关系, 顺磁相符合小极化子近邻跳跃模型; 在低掺杂下, 铁磁区可用T4.5关系解释; 随着掺杂浓度的增加, 在铁磁区和顺磁区, 任何单一模型均与实验不相符, 表明高掺杂样品的电输运性质存在未知模型.   相似文献   

19.
Fe54Pt46纳米薄膜的结构与磁性   总被引:1,自引:0,他引:1  
采用磁控溅射法在SiO2〈0001〉基片上制备Fe54Pt46薄膜, 并经过650 ℃原位真空退火1 h. 利用X射线衍射和振动样品磁强计对样品的结构和磁性进行研究. 结果表明, 经过原位真空退火后, 样品发生了无序\|有序相转变, 得到了面心四方结构的L10-FePt纳米薄膜. 样品的有序度为0.92, 晶粒尺寸约为10 nm, 样品平行膜面的矫顽力为0.8 MA/m. 当磁场与膜面的夹角为50°时, 矫顽力达到最大值, 这与(111)面为能量最低面相符.   相似文献   

20.
支文  宫杰 《长春大学学报》2007,17(8M):20-23
采用直流磁控溅射方法,以Ar/N2作为放电气体(N2/(Ar+N2)=10%),在玻璃衬底上于不同溅射时间获得了γ′-Fe4N单相薄膜。利用X射线衍射(XRD)和超导量子干涉仪(SQUID)研究了溅射时间对薄膜的生长及磁性性能的影响。结果表明薄膜样品明显沿γ′-Fe4N(111)晶面择优取向进行生长,其(111)晶面平行于样品的膜面。随溅射时间的增加,薄膜样品的晶粒尺寸没有明显的变化,薄膜厚度和矫顽力随溅射时间的增加而显著增大。  相似文献   

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