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相似文献
 共查询到10条相似文献,搜索用时 77 毫秒
1.
超大规模集成电路(VLSI)的积木块布局布线是一个非常复杂的问题.本文介绍了我们自行研制的VLSI 积木块布局和总体布线系统BPGR.该系统包括积木划分、布局优化、通道划分、总体布线、交互式布局布线调整等过程.BPGR系统能最有效地利用芯片资源和最大限度地提高芯片性能·编程和实验证明,BPGR系统是VLSI 积木块布局布线设计的有效工具.  相似文献   

2.
超大规模集成电路(VLSI)布图规划是VLSI物理设计的关键环节之一,对集成电路的芯片面积、线长等性能指标有重大影响.基于B*-tree的结构表示,结合遗传算法的思想,提出一种用于解决VLSI不可二划分布图规划问题的混合遗传算法,并用MCNC标准测试例子对所设计的算法进行测试,证明该算法的有效性.  相似文献   

3.
超大规模专用集成芯片的设计是一项比较复杂的工作。常规的设计方法成功率较低 ,利用 EDA (电子设计自动化 )技术在在线可编程逻辑器件上进行大规模集成电路 ( VL SI)设计验证 ,是超大规模集成电路设计较成功的方法 ,本文对该方法的可行性进行了分析 ,并提出了验证方法。  相似文献   

4.
以单片机为中心开发的仪器采用大多数微型计算机系统中的VLSIFDC为中心器件组成的软磁盘控制芯片──UM8398为软磁盘驱动器控制接口,将采集的数据按磁盘操作系统(DOS)的文件格式存储在廉价的软磁盘片上,和上位机进行数据交换或给上位机提供原始数据,使软磁盘能在单片机系统中得到广泛的应用,这是十分可取的.  相似文献   

5.
为诊断大规模集成电路设计过程中电迁移可靠性及分析时钟信号完整性,开发一种用于集成电路片上时钟信号模拟软件Etsim3。该模拟软件考虑了集成电路自热效应,通过电热耦合模拟以及金属连线温度分布解析模型获得更准确的集成电路芯片表面以及各金属连线网络上的温度分布。模拟结果表明,考虑集成电路自热效应前后,电迁移诊断以及时钟信号完整性分析结果都有了较大程度上的改变,Etsim3可以得到更为精确的分析以及诊断结果。  相似文献   

6.
本文介绍一个在DOS环境下实现的VLSI芯片的功能仿真系统。它可以用于专用集成电路的设计,也可以作为仿真系统的一个组成部分,还可以作为计算机系统辅助教学软件。  相似文献   

7.
JTAG边界扫描测试方法是电路芯片和电子系统功能测试一种新方法,正在得到越来越广泛的应用,通过一个具体专用芯片的边界扫描测试的实现来介绍测试方法的基本原理,测试系统的硬件结构以及测试程序的编译方法。  相似文献   

8.
In order to develop the core chip supporting binocular stereo displays for head mounted display(HMD)and glasses-TV,a very large scale integrated(VLSI)design scheme is proposed by using a pipeline architecture for 3D display processing chip(HMD100).Some key techniques including stereo display processing and high precision video scaling based bicubic interpolation,and their hardware implementations which improve the image quality are presented.The proposed HMD100 chip is verified by the field-programmable gate array(FPGA).As one of innovative and high integration SoC chips,HMD100 is designed by a digital and analog mixed circuit.It can support binocular stereo display,has better scaling effect and integration.Hence it is applicable in virtual reality(VR),3D games and other microdisplay domains.  相似文献   

9.
提出了一种以连通孔和布线区域最小化为目标的三层不规则边界通道布线算法。算法将通道边界的凹陷区域看成固定障碍,利用填充和压缩方法,使线网绕过障碍,实现互连。算法已用PASCAL语言编程,并在XT/286机上实现。结果表明,该算法不仅使通孔数减少,而且由于利用了各凹陷区域之间的面积进行布线,通道宽度也相应减小。  相似文献   

10.
刘志国  戴澜 《科技信息》2012,(1):232-232,191
带隙基准源在各种芯片中应用广泛,很多电子系能的性能直接受基准源的影响。论文提出一种采用电阻修整的带隙基准源的设计方法,通过修整来调节基准源由于受工艺等因素影响而产生的偏差,仿真结果表明.在-50℃到130℃温度范围.基准源的电压偏差为2mV。  相似文献   

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