测定薄膜厚度的基片X射线衍射法

基于X射线衍射与吸收理论，建立了一种薄膜厚度测量方法，即基片多级衍射法．利用X射线衍射仪测量高速钢表面的TiN薄膜厚度，由于膜下基片的衍射强度较高及衍射峰形良好，可以确保薄膜厚度的测量精度．本法克服了非晶薄膜材料中薄膜衍射信息较差以及存在织构等不利因素所导致测量结果不可靠等问题．     

测量微球覆层厚度的X射线衍射法

对采用X射线衍射测量微球覆层厚度的方法进行了研究,首先在建立微球X射线衍射数学模型的基础上,利用一组已知厚度和X射线衍射线积分强度的标样,通过计算机模拟求解的方法,得到微球衍射线积分强度和覆层厚度的关系.然后,在相同条件下进行待测试样的X射线衍射实验,将其衍射线积分强度代入求解模型得到的结果中就能得到待测试样的覆层厚度.实验结果表明,X射线衍射法是可行的,具有快速、方便、非破坏、不接触等特点.     

测量微球覆层厚度的X射线衍射法

对采用X射线衍射测量微球覆层厚度的方法进行研究,首先在建立微球X射线衍射数学模型的基础上,利用1组已知厚度和X射线衍射线积分强度的标样,用计算机模拟求解的方法,得到微球衍射线积分强度和覆层厚度的关系.然后,在相同条件下进行待测试样的X射线衍射实验,将其衍射线积分强度代入求解模型得到的结果中就能得到待测试样的覆层厚度.实验结果表明,X射线衍射法是可行的,具有快速、方便、非破坏、不接触等特点.     

InGaAsP/InP异质界面的X射线双晶衍射测量

本文利用X射线双晶衍射测量LPE生长的InGaAsP/InP异质结的R-C曲线,得到了异质结的垂直失配和水平失配.在考虑存在失配位错的情况下,计算了驰豫晶格失配、曲率半径和失配位错密度.指出了影响外延层R-C曲线半峰宽的因素.     

生长模式控制对MOCVD生长GaN性能的影响

采用MOCVD以Al2O3为衬底对GaN生长进行了研究．用X射线双晶衍射、电化学CV技术对GaN的结晶性能和电学性能进行了表征．研究表明,GaN的生长模式对其电学性能和结晶性能影响很大．在高温GaN生长初期,适当延长GaN的三维生长时间,能明显改善GaN薄膜的结晶性能,降低薄膜的缺陷密度和本底载流子浓度,使GaN质量明显提高．     

硬脂酸LB膜的X射线衍射

用低角X射线衍射研究了硬脂酸的多层LB膜的周期结构,硬脂酸多层LB膜在0.8°～15°的范围内出现了几个布拉格衍射峰,由布拉格方程计算了它们的周期,并用模型计算了衍射峰的强度,给出了与实验相符合的结果。     

X射线衍射分析的实验方法及其应用

概要介绍了X射线衍射分析的原理及其相关理论，总结了X射线衍射的各种实验方法，对X射线衍射分析的应用分别进行了叙述，最后对X射线衍射分析的发展进行了展望。     

多晶粉末样品热膨胀的X射线衍射测量

利用X射线衍射方法精确测量了2：17型稀土化合物Nd2AlFe15Mn的晶胞参数及热膨胀系数并研究了其结构特征．结果表明，室温下，Nd2AlFe15Mn化合物具有单相的Th2Zn17型菱方结构（空间群为R3m）．对该化合物晶格常数的测量误差可以达到10^-4，基本上可满足对一般位移型相变测量要求的精度．     

人体胆结石的X射线衍射分析

本文用 X 射线衍射法对人体胆结石的成分进行了分析研究,并结合电感耦合等离子体(ICP)光谱分析数据及红外光谱进行了分类鉴定,为确定胆结石的成分及类型提供了快速、简便的方法.     

具有水平狭缝的X射线双晶衍射仪及其应用

本文介绍了我们设计并制造的Ｘ射线双晶衍射仪，在设计中注意了三个关键问题，并首先应用水平狭缝来调试水平零层，文中以测量抛光损伤，双晶貌相和双晶摆动曲线为例，介绍了本仪器的结构特点和如何应用水平狭缝，解决科研工作中在实验技术方面的关键问题。