石墨烯量子点对PVA偏光膜的改性

用刮膜机在镜面不锈钢钢板上铺出聚乙烯醇(PVA)原膜,再经过染色、拉伸、补正等工艺制备PVA偏光膜.通过水热法制备的石墨烯量子点(GQDs)尺寸主要分布在2~4 nm,且其水溶液在500~400 nm间的光透过率下降22%,将PVA粉体溶在制得的GQDs水溶液中,制备PVA/GQDs复合偏光膜.结果表明:与PVA偏光膜相比,单片透过率略有下降,但GQDs的加入使偏光膜的直交透过率降低且低于0.1%,从而提高偏光膜的偏振度,达到99.9%以上.     

用琼斯矢量研究椭园偏光仪的工作原理

(一)引言椭园偏光仪是一种测定透光介质膜厚度和折射率的精密仪器。它的特点是:(1)能同时测定介质膜的折射率和厚度;(2)能在镀膜的同时,实现连续监测、且不损伤样品,这样就能控制薄膜厚度达到设计要求,提高成品合格率;(3)厚度测定的准确度可达10A 数量级,相当于单分子层厚度;(4)折射率的测定可以准确到小数点后第三位。因此,广泛应     

Al／SiO2周期迭工微型偏光器的Al膜层

对周期性Ａｌ／ＳｉＯ２迭层膜式微型偏光器中的Ａｌ膜层进行了研究。高光光比的迭层膜式微型偏光器的性能主要决定于Ａｌ膜层的介电常数。     

PVA偏光膜的制备新工艺及性能

研究了一种新的偏光膜制备工艺，采用了乙烯醇为主体材料，内混有碘化钾，用过氧化氢氧化制备ＰＶＡ偏光膜，实验结果表明：ＰＶＡ基膜中含ＫＩ的量为１ｍｍｏｌ／ｇ，用ｗ（Ｈ２Ｏ２）为１０％的溶液氧化３０ｓ以上，经拉伸干燥后，可制备出有９９％，以上偏光度的ＰＶＡ偏光Ｅ     

Al/SiO_2 周期迭层膜式微型偏光器中的Al膜层

对周期性Ａｌ／ＳｉＯ２迭层膜式微型偏光器中的Ａｌ膜层进行了研究．高消光比的迭层膜式微型偏光器的性能主要决定于Ａｌ膜层的介电常数．从理论上分析了影响Ａｌ膜层介电常数的因素及Ａｌ膜层的介电常数偏离体金属Ａｌ相应值的原因．Ａｌ膜层溅射沉积条件实验研究结果表明,沉积速率、膜层厚度及基底形貌的控制和选择是非常重要的     

偏振光入射方位角与介质反射率关系研究

讨论了偏振光入射方位角与介质反射率的关系，从能量角度出发利用菲涅尔公式及相关电磁理论，得出了线偏光方位角与介质反射率的一般关系式，就特殊情况作了具体分析，给出反射率随方位角变化的大致范围，并用图示说明。     

椭偏谱法测量类金刚石薄膜的质量

应用椭偏光谱法研究了一系列不含氢DLC样品,讨论了样品制备与测量、模型的建立及多样品分析法和椭偏数据拟合,表明椭偏光谱法可以确定DLC膜的厚度,并可反映出sp3成份百分比变化与制备时偏置电压的关系.     

椭偏光谱测量匀质膜光学特性的计算分析

应用椭偏光谱法，测量透明膜和吸收膜的折射率、厚度及消光系数．利用Delphi语言编程对实验数据进行处理，其结果与已正式出版的椭偏测厚数据表进行对比，各测量点绝对误差为0．01nm，该程序适用于椭偏光谱仪对各种匀质膜测量的数据处理．     

多层介质膜透、反射因子的矩阵计算

众所周知,为了改进光学仪器的性能,往往需要在光学元件上镀介质膜以增加光在该元件上的透射或反射。本文由单层介质膜入手,主要阐明如何用矩阵的方法简洁地描述多层介质膜的光学性质,并由此对多层介质膜的透射因子和反射因子进行计算,最后用计算结果指明镀介质膜应注意的结构要求.     

聚苯胺/聚苯乙烯共混膜的形态结构与导电性能研究

以苯胺为单体，过硫酸铵为氧化剂，三氯甲烷和水为反应介质，十二烷基苯磺酸为乳化剂和掺杂剂，进行乳液聚合，得到可溶性聚苯胺。将聚苯胺、聚苯乙烯共溶于二甲苯后制成共混膜，用广角X射线衍射、红外光谱、偏光显微镜分析了共混膜的相形态。结果表明：聚苯胺／聚苯乙烯为不相容体系，在聚苯胺含量低时，聚苯胺以多粒子分散相存在，此时共混膜电导率低，但随聚苯胺质量分数增加电导率迅速增大；在聚苯胺质量分数达到某一阀值(7．5％)后，聚苯胺开始形成连续相，此时共混膜电导率相对较大，但电导率随聚苯胺质量分数而增大的趋势减缓。     

旋转振动对格兰·泰勒棱镜透射光强扰动影响的研究

格兰·泰勒棱镜的透射光强随旋转角出现周期性扰动 .转动过程中棱镜振动引起入射角的微小振动 ,从而导致透射光强的扰动 .这种随机微扰的出现对出射光的质量影响很大 .分析了转动所致棱镜的振动对透射光强扰动大小的影响 .讨论了减小扰动的方法 .     

冕流的白光偏振

研究了日冕白光冕流的偏振特性,包含：典型冕流的偏振度随日心距增大的变化;冕流白光高度在同一日心距处沿日面位置角的分布;不同日面纬度处冕流的偏振器;冕流中偏振亮度分布的不均匀性。     

锥形镀膜光纤探针近场分布特性

采用三维时域有限差分法对锥形镀膜光纤探针的近场分布特性进行了研究，结果表明入射光照射到探针上出现了退极化现象，光纤探针的近场分布不具有圆周对称性，探针的纵向截面中，与入射偏振光垂直的截面和与入射偏振光平行的截面两者的近场分布差异较大．在其它光纤探针参量相同的情况下对不同锥角的光纤探针进行了计算和比较，结果表明锥角越大从探针尖端出射的光强越大，从光波波导的角度对这种现象进行了分析。     

透镜对线偏振光偏振状态影响的初步研究

根据琼斯矩阵理论,采用光线追迹的分析方法,推导得到线偏振光通过平凸透镜的偏振角改变量和出射面光强分布,主要讨论了光轴上点光源和平行光入射时,透镜出射面偏振状态的改变规律,理论与实验结果基本一致.     

晶体会聚偏光干涉图的探讨

依据光线在晶体中的传播规律和光波的干涉原理，通过定性和定量的分析，解释了会聚线偏光经过单轴晶体时所形成干涉图的原因。     

椭圆偏振光理论中一个问题的证明

本文从椭偏光合矢量旋转角速度Ω的表达式出发，对只有沿椭圆长、短轴方向的椭偏光合矢量间的相位差才为的难点给出了证明     

入射光束的几何形状及大小对单色光石英退偏器退偏效果的影响

测量了不同形状、不同大小的单色线偏振光束对单色光石英退偏器退偏度的影响。结果表明：入射光束截面越大，器件的平均退偏效果越好；通过调节光束的大小，可以使退偏器对某一单色线偏振光束实现最佳退偏效果。     

左旋和右旋偏振光判别方法研究

椭圆偏振光和圆偏振光分为左旋偏振和右旋偏振两类,通过公式推导我们给出了圆偏振光的合成条件,并且得到了平面偏振光合成椭圆偏振光时的长短轴公式,以及椭圆偏振光左旋和右旋在相位差上的判别方法。     

椭圆偏光测厚仪工作原理的探讨

本文采用振幅矢量法和复数法来研究椭圆偏光测厚仪的工作原理,并阐明使用该仪器时的数据处理根据和两次消光的条件。