XRF滤纸片法测定铁基样品中十种元素的方法研究

本法在Ｘ荧光光谱仪上采用滤纸片法测定样品，避免了基体效应的影响，因而可适用于多种基体的样品，扩大了分析方法的适应性。     

XRF谱仪新软件的研究与应用

针对ＰＷ１４０４型荧光谱仪，编写了读取数据缓冲区数据的程序，并与自编的Ｐｌｅｓｃｈ校正元素选择判据计算程序联接，建立了元素的质量衰减系数数据库。将该新软件用于地质样品分析表明，该新软件可根据试样的具体情况确定分析方法，并可随时补充新的研究成果，使仪器始终处于先进水平。     

XRF滤纸薄样法测定钛铁尾矿冶炼中的微量钪

采用滤纸片法制样，Ｘ射线荧光光谱法（ＸＲＦ）测定钛铁尾矿冶炼过程中的微量钪，并以元素Ｃｒ作为内标元素校正基体元素和试样表面的影响，本方法制样简单，分析速度快，分析范围为０．５～３０ｇ／ｔ，当浓度为５．１ｇ／ｔ时，方法的相对标准偏差为４．０％。     

XRF法在透明胶带检验中的应用

目的研究不同品牌透明胶带的检验区分方法。方法利用X射线荧光光谱法(XRF)对透明胶带带基中的微量元素进行定性分析。结果 30种不同品牌的透明胶带根据排列组合原理两两之间互相配对组成的435个样品组中有397组可以区分,区分率达到91.3%。结论 X射线荧光光谱法可以区分绝大多数不同品牌的透明胶带,此方法操作简单,分析速度快,灵敏度高,结果准确,可用于不同品牌透明胶带的检验区分。     

粉末压片X射线荧光光谱法测定长石中的主量元素

针对X荧光熔融制样需要采用铂黄金坩埚等贵金属器具,而在高温下多金属矿中的硫元素会对铂黄金坩埚有很大伤害,严重时将直接导致坩埚无法脱模,不仅影响融样速度,而且造成直接经济损失巨大.熔融成型玻璃片在室温下还容易出现破裂等现象,这是多金属矿样熔融制样的一大难题.粉末压片法制样不仅解决了样片破裂的问题,提高了制样速度,而且还大大降低了制样成本.通过粉末压片法制样,建立一套用波长色散X射线荧光光谱法测定长石中的硅铝钾钠等主量元素的分析方法.通过对样品粒度、压片机制样条件进行讨论,确立了称样2.5000 g与羟甲基纤维素1.0000 g混合研磨2 min,压片机压力为30 t、保压20 s的条件.实验结果表明,此条件下该方法精密度高、准确性好,并具有快速、高效、样品制备简单、成本低等优点,可用于批量测定长石实际样品.     

XRF法测定雪松松针及花粉中的无机元素

结合薄样技术,采用自制XRF分析仪,建立了雪松松针及花粉中多种无机元素进行同时测定的方法,并对本地雪松松针及花粉样品进行了分析.结果表明:雪松松针及花粉中均含有K、Ca、Ti、Mn、Fe、Co、Cu、Zn、Rb、Sr等多种无机元素,其中K、Ca含量相对较高;不同地点松针中无机元素含量存在差异;精密度(RSD)(n=6)在2.4%~6.3%之间,加标回收结果表明,同一元素3种不同加标水平的平均加标回收率在94%~104%之间.     

波长色散X射线荧光光谱法测定富钛料中主次元素含量

采用荧光专用混合熔剂（67%Li2B4O7：33%LiBO2）做熔剂,溴化锂作脱模剂制备玻璃熔片,X射线荧光光谱法测定富钛料中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、MnO、TiO2、TFe中7个主次含量组分。方法中使用了攀钢研究院新研制的3个高钛渣标准样品并在这些标准样品中加入光谱纯TiO2制备人工标样系列,作为校准样品建立了X荧光光谱法测量富钛料中主次元素的方法,经验证,本方法分析的准确度能够满足化学分析的要求。     

X射线荧光光谱法熔融制样测定硅酸盐样品中的主、次成分

以Li2B4O7和LiBO2(质量比67∶33)为混合熔剂,以LiNO3为氧化剂,以LiBr为脱模剂,熔融制作玻璃熔片,利用日本理学PrimusⅡ型X射线荧光光谱分析仪,对硅酸盐主要成分SiO2、Al2O3、TFe2O3、MgO、CaO、Na2O、K2O、MnO、TiO2、P2O5进行了同时测定,得到了较满意的分析结果.实验表明,利用日本理学PrimusⅡ型X射线荧光光谱分析仪,对硅酸盐主要成分含量进行同时分析是可行的.     

X射线荧光光谱在检验铝土矿石主成分中的应用

本文在借鉴前人工作的基础上,采用国产高频熔样炉熔融制样,用ARL9900XP型X射线荧光光谱仪测定铝土矿中主成分Al2O3、SiO2、Fe2O3、TiO2。方法操作简单、快速,准确度和精密度均达到国家标准方法规定的要求。目前该法已用于实际生产,取得了良好的经济效益。     

几种贵州食用菌矿质成分分析

通过X射线荧光光谱法测定五种贵州食用菌的矿质元素,结果表明五种食用菌都含有多种矿物质元素,其中猴头菇对钾的富集能力最强,且对锰的吸收波稍高于其它菌;牛肝菌对铁、锌的富集能力最强;在猴头菇、茶树菇、竹荪中测出钡;在灰树菇、茶树菇中测出钌;在美味牛肝菌中测出钛;在五种测试菌中都含有铝。     

X射线荧光法测定海南多目标地调样品中多种元素

采用粉末样品压片制样,用PW2440X射线荧光光谱仪测定海南地球化学样品中的SiO2、Al2O3、Fe2O3、MgO、CaO、Na2O、K2O、Ba、Br、Ce、Cl、Ga、La、V、Mn、Zn、Y、Zr、Nb、Th、Rb、Sr、Ph、P、Cr和Ti等27个组分进行测定。针对海南样品的特点,加入高铝、高钙、高铁和高钛标样进行回归。使用经验系数法和散射线内标法校正基体效应,方法简便、快速,其精密度和准确度完全满足质量临控要求。     

利用XRF录井谱图分析判别岩性的方法

目的探究快速、高效判别录井岩屑岩性的方法。方法利用XRF录井谱图,分析XRF谱图与岩性的关系,并应用最小二乘法进行分析。结果通过对鄂尔多斯盆地近3 000个样品的分析结果表明,该方法岩性判别符合率达到70%以上。结论利用标准岩性谱图比对分析,便可判别出测量样品的岩性。     

X射线荧光光谱法测定硅酸盐岩石中的主次元素量

利用X射线荧光光谱先定性再熔融定量分析硅酸盐岩石中的主次量元素,通过对岩石的岩性、组分及异常元素的了解,为熔融定量分析选择合适的条件。实验表明,该法简便快速,精密度和准确度好。     

X射线荧光光谱压片法快速分析钼矿石中的钼含量

采用粉末压片——波长色散X射线荧光光谱法测量钼矿石中的钼含量。直接粉末压片制样,利用系列标样制作出标准曲线,采用经验系数法对基体效应进行校正。方法准确度、精密度能满足钼矿石(钼含量1%以下)中钼含量的测定。与化学法相比,本方法分析过程简单快速,精密度高,有更低的检出限。     

用X射线荧光光谱法测定玻璃基材上C TiO2薄膜的组分和厚度

在X射线荧光（XRF）分析中应用基于基本参数法的FP—Multi软件,采用C固定道和Ti、Al、Si扫描道,以99．999％石墨及纯Al、Ti、SiO2四个块样做标样,对玻璃基材上含有C元素的TiO2薄膜厚度及成分进行了测试分析。薄膜厚度的测定结果还与用nkd干涉仪、扫描电镜断面分析等方法的测试结果做对比。证明X射线荧光光谱法测定玻璃基材上C＋TiO2薄膜厚度及成分是可行的。     

热力学方法处理XRF数据的可行性研究

本文探讨了用热力学方法处理XRF数据的可行性,认为用亚正规溶液模型处理二元系是可行的。对三元或三元以上体系,本文提出了一个更为实用的热力学模式——TM-3来进行处理,得到了较好的效果。本文还讨论了TM-3模式与基本参数方程之间的关系。     

人发中Ca和Zn元素的测试分析

用源激发Ｘ射线荧光分析法（ＸＲＦ）测定了Ａ组学生（成绩优良者）和Ｂ组学生（成绩一般者）头发中Ｚｎ的含量，其结果表明，Ａ组学生Ｚｎ的含量显著高于Ｂ组，这说明Ｚｎ元素对神经系统的发育有一定影响。用同样的方法又测定了Ｃ组学生（男性学生）和Ｄ组学生（女性学生）头发中Ｃａ的含量，结果表明，Ｃ组学生Ｃａ的含量显著低于Ｄ组，这说明男性和女性对Ｃａ的需求明显不同。以上结果与现代医学理论相一致。     

X射线荧光光谱法测定氢氧化镁中杂质含量

为测定氢氧化镁中杂质元素含量,采用X射线荧光光谱(XRF)法进行重复性和准确性试验.结果表明,XRF法具有快速、无损、多元素同时测定、检测元素范围广等特点,重复性较好.XRF法测量结果与化学方法和电感耦合等离子体发射光谱(ICP)法的测量结果接近,准确性较好.     

X射线荧光光谱法测定化探样品中的主次痕量元素

采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末样品压片制样,用ZSX primus Ⅱ X射线荧光光谱仪测定化探样品中C、N、Na、Mg、A1、Si、P、S、C1、K、Ca、Sc、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Br 、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Mo、Sn、Ba、La、Ce、Hf、U、Th、Pb和Nd,共39个组分,C、N的分析采用RX45、RX61专用分析晶体.使用经验系数法和康普顿散射线作内标校正基体效应,经标准物质检验的分析结果与标样值吻合.用GBW07308国家一级标准物质作精密度试验的统计结果,除U的RSD(n=12)为23.8%,Cl、Sc、Mo、Sn的RSD＜13.0%以外,其余各组分均小于6.0%.     

微粒金的电子探针分析

电子探针是检测矿物中微粒金的重要分析手段，本文以７３３电子探针为例，给出了如何利用电子探针准确检测微粒金的实验方法和结果。