删失数据情形置信下限的模型选择方法

本文就一般总体未知参数的置信下限的设置问题提出了一种模型选择方法,其中数据是定时截尾的,所提出的方法可推广到一般情形。     

定期检测数据情形下参数的置信限

设储存了某种产品的一批样品,每隔一段时间检查一次,看样品是否失效,所得到的数据就称为定期检测数据。我们的目的是根据这种数据对产品的寿命分布参数作置信限。本文给出了这种情况下的非随机置信限、随机置信限,并证明了所给置信限的优良性。本文给出的方法对所取得的数据没有任何要求。     

偏序空间下求置信下限的一种方法

考虑在偏序空间下求置信下限．首先对偏序进行定义,然后在此基础上得到求置信下限的一般公式．     

贮备系统可靠度置信限的评定

本文对由指数型部件组成的贮备系统提出了可靠度置信限评定的置信方法,推导了贮备系统可靠度置信限的表达式,讨论了转换开关对贮备系统可靠度评定的影响.     

关于定时截尾无失效数据情形下Weibull分布条件可靠度的置信下限

文章证明了两参数Weibull分布无替换定时截尾、无失效数据时条件可靠度的置信下限和分别截时、无失效数据时条件可靠度的置信下限的存在性并给出其置信下限的计算方法。     

删失情形下污染分布的近邻估计

本文研究了删失情形下污染分布中的污染系数和未知原分布的近邻估计，并且分别在删失分布已知和未知时证明了估计的一致弱相合性，最后给出了污染系数的模拟结果。     

指数分布区间型删失数据的可靠度最优置信下限

由于测量仪器的精度,测量方法等原因,往往不能得到产品精确的失效时间,得到的是区间型删失数据.本文讨论了指数分布区间型删失数据下的可靠度最优置信下限的估计问题.首先采用极大似然估计方法对指数分布区间型失效数据的失效率进行了估计,然后对每个区间型失效数据采用期望值对其失效时间进行估计,通过估计出的失效时间估计出了可靠度的最优置信下限,并给出了计算机模拟结果.     

带有可失效开关的冷贮备系统的可靠性置信限

基于组成系统的元件的定数截尾寿命试验数据和切换开关的成败型试验数据,讨论了冷贮备系统可靠性的近似置信下限．设切换开关的寿命为０－１型．在成功概率ｐ＝１时,给出了系统可靠性表达式的一种简单证明     

基于一次性检测数据的几何型元件串联系统可靠性的置信限

利用一次性检测数据讨论了几何型元件串联系统可靠性的置信限问题.根据可靠度极大似然估计的大小对成功数组样本点进行排序,在实验成功总次数已知的情况下,给出了串联系统可靠性的精确置信下限,证明了其经典精确性和最优性,进而给出串联系统可靠性的近似置信下限,并对近似置信下限的精度进行了讨论.     

Pareto分布的最优置信限

研究了Pareto分布的置信限.在无失效数据情形下分别得到了Pareto分布的可靠度、可靠寿命、平均寿命的最优置信下限.其结论可以应用于某种药理过程后病人的存活时间等模型中.     

一次性作用产品可靠度的Bayes置信下限

针对高价值一次性作用产品的小样本可靠性评估问题,选用带有k因子的先验分布,基于贝塔分布的双层先验分布,以及基于均匀分布的双层先验分布,研究了一次性作用产品的可靠度置信下限的估计方法.由模拟研究得出,在有历史数据时,基于k因子贝塔先验分布的估计方法比WCF方法精确;在有不完全历史信息时,基于贝塔双层先验分布的方法比基于均匀双层先验分布的方法精确.     

威布尔可靠度的置信下限

本文给出威布尔可靠度的一个近似置信下限公式,它可以方便地为工程师所采用。对■,如果■,■和■是α,β以及,v(t)=(t/a)~β的最大似然估计,则■的分布将与参数α、β无关,它的分位点可以从■的分位点求出。记l_γ,h_γ分别为u=■及■的分位点,则在R>e~(-1)时,■是R(t)的一个置信下限,γ是置信水平。一般它是不足估计,但如果采取合并估计去计算■的分位点表,则可很接近于精确的分位点。     

威布尔可靠度的置信下限

本文给出威布尔可靠度的一个近似置信下限公式,它可以方便地为工程师所采用。对R(t)=e~(-(t/a)~β),如果,■和■(t)=(t/■)是α,β以及v(t)=(t/α)~β的最大似然估计,则v(t)■/■(t)的分布将与参数α、β无关,它的分位点可以从■log/α的分位点求出。记l_r,h_r分别为u=■/β及v(t)~u/■(t)的分位点,则在R>e~(-1)时,R_L(t)=e~(-(h_1-r_(l2)■(t))~(■r/2))是R(t)的一个置信下限,γ是置信水平。一般它是不足估计,但如果采取合并估计去计算■/β的分位点表,则可很接近于精确的分位点。     

MLR分布族无失效时可靠度的置信下限

本文讨论了MLR分布族无失效数据时可靠度的经典置信下限问题和指数分布无失效数据时可靠度的Bayes置信下限问题.     

MLR分布族无失效时可靠度的置信下限

本文讨论了MLR分布族无失效数据时可靠度的经典置信下限问题和指数分布无失效致据时可靠度的Bayes置信下限问题。     

贮备系统可靠性的近似置信下限

基于元件的定数截尾寿命试验数据，在元件的失效率间满足某种关系时，给出了单个贮备系统、两贮备系统组成的串联系统的可靠性的置信下限，给出了数字例。     

关于结构可靠度的置信下限

针对实际工作中常见的一类试验数据,研究了产品的结构可靠度的置信下限。对于无失效数据及只含一个失效数据的重要情形给出了计算置信下限的有效方法。     

两部件温贮备系统可靠性的Fiducial置信限

基于元件的定数截尾寿命试验数据,切换开关的成败型试验数据,对指数寿命型元件温贮备系统可靠性的近似置信限进行了研究,并给出了近似计算公式.