一类高阶常微分方程特征值的上界估计

运用常微分方程特征值的基本理论，考虑一类高阶方程特征值的上界估计，此类方程包含了常见的梁横向震动方程，有着重要的实际背景，利用分部积分、Rayleigh定理和不等式估计等方法，获得了用前n个特征值来估计第n＋1个特征值的上界的不等式，其估计系数与区间的几何度量无关。其结果在物理学和力学等领域中应用广泛。     

四阶微分方程广义第二特征值的上界估计

考虑四阶微分方程广义第二特征值的上界估计，利用试验函数、Rayleigh定理、分部积分、Schwartz不等式和Young不等式等估计方法与技巧，获得了用第一特征值来估计第二特征值上界的不等式，其估计系数与区间的度量无关．     

六阶常微分方程广义第二特征值的上界估计

考虑六阶常微分方程广义第二特征值的上界估计。利用试验函数,Rayleigh定理,分部积分和Schwartz不等式等估计方法与技巧,获得了用第一特征值来估计第二特征值的上界的不等式,其估计系数与区间的度量无关。其结果在物理学和力学中有着广泛的应用,在常微分方程的研究中起着重要的作用。     

六阶某类微分方程第二特征值的上界

本文建立了问题（１．２）的用第一特征值来估计第二特征值的不等式,其估计系数与区间的几何度量无关,其结果在物理和力学中有着广泛的应用．     

微分方程带一般权的第二特征值的上界估计

考虑微分方程带一般权的第二特征值的上界估计、利用试验函数,Rayleigh定理,分部积分,Schwartz不等式和Young不等式等估计方法与技巧,获得了用第一特征值来估计第二特征值的上界的不等式,其估计系数与区间的度量无关其结果在物理学和力学中有着广泛的应用,在微分方程的研究中起着重要的作用     

高阶一致椭圆型算子带权第二特征值的上界估计(英文)

考虑高阶一致椭圆型算子带权第二特征值的上界估计.利用试验函数、Rayleigh定理、分部积分和Schwarz不等式等估计方法与技巧,获得了用第一特征值来估计第二特征值的上界的不等式,其估计系数与区间的度量无关.     

一类高阶椭圆算子特征值的上界

讨论了一类加权特征值问题的二相邻特征值之差λn 1-λn,n=1,2,…，的上界以及第n个特征值的上界，这些界依赖于前面的n-1个特征值及方程的系数，而与区域的几何量无关。     

某类高阶常微分方程组的特征值不等式

研究了一类高阶常微分方程组的特征值不等式问题,得到了用前n个特征值估计出第n+1个特征值的几个结果,其估计不依赖于区间的几何度量.     

随机微分方程特征值期望的上界估计

利用变分原理,从不同角度,讨论了随机微分方程特征问题特征值的性质,给出了其期望值的两个上界估计式。     

一类六阶微分系统特征值的上界估计

考虑六阶微分系统特征值的带权估计,利用矩阵运算、分部积分、Rayleigh定理和不等式估计等方法,获得了用前n个特征值来估计第n 1个特征值的上界的不等式,且其估计系数与区间的几何度量无关.     

任意阶微分系统带权第二特征值的上界

考虑任意阶微分系统带权第二特征值的上界估计。利用试验函数,Rayleigh定理,分部积分和Schwartz不等式等估计方法与技巧,获得了用第一特征值来估计第二特征值的上界的不等式,其估计系数与区间的度量无关。其结果在物理学和力学中有着广泛的应用,在常微分方程的研究中起着重要的作用。     

某类四阶微分方程带权特征值的算法

考虑计算某类四阶微分方程带权特征值的近似值的算法．主要结果的证明运用变分公式．首先证明了三个引理；其次采用Galerkin方法来构造适当的基函数。并利用Cauchy不等式给出了其特征值计算的误差估计式；最后得到计算某类四阶微分方程带权特征值的近似值的算法，而且可以用第n次近似值来估计第n—1次的近似值的精确度．随着n的增大。特征值λk的精确度逐步提高。只要适当选取n，就可以求得所要精确度的特征值的近似值。这个算法具有广泛的实用价值和理论价值．     

高阶线性微分方程第二离散谱的上界（英文）

考虑高阶线性微分方程在有限区间上广义离散谱的上界估计,此问题由钱椿林教授提出,是六阶微分方程离散谱问题的自然延伸,所用方法是Hile和Yen方法的改进和推广。笔者首先选择合适的试验函数,利用广义Rayleigh定理得到一基本不等式,其次利用算子谱理论、分部积分和Cauchy-Schwarz不等式等方法,证明了四个引理,最后获得了用第一个谱来估计第二个谱的显式上界不等式,其估计系数与区间的几何量无关,其结论是相关文献结论的进一步推广,在微分方程的谱理论研究中有一定的使用价值。     

混合微分系统带权第二特征值的上界

考虑混合微分系统带权第二特征值的上界估计.利用试验函数,Rayleigh定理,分部积分和Schwartz不等式等估计方法与技巧,获得了用第一特征值来估计第二特征值的上界的不等式,其估计系数与区间的度量无关。其结果在物理学和力学中有着广泛的应用,在常微分方程的研究中起着重要的作用。     

某类四阶微分系统特征值的带权估计

考虑四阶微分系统特征值的带权估计,利用矩阵运算、分部积分、Rayleigh定理和不等式估计等方法,获得了用前n个特征值来估计第n 1个特征值的上界的不等式,其估计系数与区间的几何度量无关,其结果是文献[1]的进一步推广.     

多项式微分算子带一般权第二特征值的上界估计

考虑多项式微分算子带一般权第二特征值的上界估计的问题.利用试验函数、分部积分、Rayleigh定理和Schwarz不等式等方法与技巧,得到了用多项式微分算子的第一个特征值来估计第二个特征值的不等式,其估计系数与区间的几何度量无关。其不等式在物理学和力学中应用广泛,在微分方程的理论研究中起着重要的作用。