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相似文献
 共查询到19条相似文献,搜索用时 78 毫秒
1.
利用L-B单分子功能膜的绝缘性制作MIS器件,通过对它的结构和电容-电压特性曲线的研究,发现LB膜可以改善MOS器件的性能和消除MOS器件的“异常”C-U特性现象,利用CU特性曲线可以检测L-B膜成膜质量,利用零偏压时的电容值可以计算各成膜材料的介电常数。  相似文献   

2.
用半导体理论讨论了金属-铁电薄膜-半导体(MFS)结构的电容-电压(C-V)特性,其结果表明:在n型Si基片上,理想MFS的C-V曲线为逆时针回滞,有载流子注入的MFS结构的C-V曲线为顺时针回滞,这与实验结果是一致的。  相似文献   

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5.
测定了多种具有金属/L-B膜绝缘层/半导体(Si)结构的纳米厚度有机功能膜的C-V特性.研究发现C-V特性受到L-B膜的分子组分和氧化膜厚度的影响.  相似文献   

6.
介绍以高能紫外激光为光源的、研究 MIS 结构电荷特性的光Ⅰ-Ⅴ法。简述了该法实验原理、实验装置和测试方法;给出了由传统热氧化的 SiO_2介质膜和新型快速热氮化的 SiOxNy 膜(缩写为 RTNF)组成的 MIS 结构的光Ⅰ-Ⅴ实验数据、体电荷密度和平均分布中心的实验结果。并就该法优缺点、应用前景及改进途径作了讨论.  相似文献   

7.
报道了利用PECVD技术在P-Si衬底抛光面上淀积含C60聚合物薄膜及在薄膜表面蒸金形成An/C60-Polymer/P-Si结构.通过常温及温偏处理后的不同C-V特性,推算了聚合物薄膜中的几种电荷密度和介电常数,并对经过温偏处理后C-V曲线的畸变做了讨论.  相似文献   

8.
溶胶—凝胶法制备(Ba0.5Sr0.5)TiO3铁电薄膜及电性能研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
了一种以水为溶剂的(Ba0.5Sr0.5)TiO3(BST)源溶液,用Sol-Cel技术制备出BST薄膜,并研究了薄膜的结构和电性能,结果表明,厚度为160nm,700度保温1h的(Ba0.5Sr0.5)iO3薄膜呈现纯钙钛矿结构,在室温下,介电常数为220,介电损耗为0.047,漏电流密度为8.0*10^-8A/cm2,进一步研究发现,随着烧结温度的升高,薄膜的介电常数增高,介电损耗降低。  相似文献   

9.
用熔融共混法制备了聚己内酯(PCL)/纳米CaCO3复合材料,考察了纳米CaCO3对PCL结晶性能和CaCO3含量对PCL/CaCO3复合材料力学及形状记忆性能的影响。DSC结果显示纳米CaCO3对PCL的成核结晶有一定的促进作用,辐照交联使PCL的结晶熔融温度和开始结晶温度提高5℃以上;DMA结果显示复合材料的模量随纳米CaCO3含量增加而增大,但高于40%后基本无变化。纳米CaCO3含量在5%~15%范围内能明显提高PCL的拉伸强度、弯曲强度和杨氏模量;辐照交联也起到增强各组分复合材料力学性能的作用,其变化的规律与交联前一致。复合材料经辐照交联后具有形状记忆特性,随着纳米CaCO3含量的增加,形变后的材料在熔融温度下开始回复所需时间缩短,回复速率加快,所有组成的样品在所测试的实验条件下最终回复率达97%以上。扫描电子显微镜观察表明纳米CaCO3粒子在PCL基质中无明显团聚现象。  相似文献   

10.
PU与PVAc互穿网络聚合物的研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
研究了蓖麻油聚氨酯(PU)与聚醋酸乙烯酯(PVAc)在室温下生成的互穿网络聚合物(IPN)。通过FT-IR和凝胶含量的测定,说明此种IPN是接枝型IPN。考察了该IPN的各种组成对带锈铁板的附着力、柔韧性、冲击强度以及搭接剪切强度的影响。结果表明,当PU/PVAc=50/50(w/w,质量比)时,IPN的剪切强度最大,在此条件下合成的IPN涂料是带锈铁板的良好涂料。  相似文献   

11.
聚氨酯/苯并(口恶)嗪互穿聚合物网络的合成及表征   总被引:3,自引:0,他引:3  
采用二步法 ,以部分交联的聚氨酯 (PU)为聚合物 ,以双酚 A型苯并嗪 (BA)为聚合物 合成了聚氨酯 /苯并嗪互穿聚合物网络 (PU/BA IPN) ,对产物的性能进行了研究 ,同时应用升温红外对 PU/BA IPN的聚合进行动态跟踪 .结果表明 ,材料的热力学性能受体系结构形态的影响较大 .而形态主要由聚合物 (即 PU)的交联密度控制 ,体系的组成对形态影响呈非线性 .体系中存在的活性官能团——氨基团对苯并嗪的开环聚合有催化作用 .  相似文献   

12.
对MIM(Metal-Insulator-Meta)及MIS(Metal-Insulator-Semiconductor)隧道结的结构特点作了简单介绍,着重分析了其发光效应及发光光谱特性,并由此对隧道结的发光机理进行了讨论。  相似文献   

13.
The pH /temperature dually responsive microgels of interpenetrating polymer network( IPN) structure composed of poly( N-isopropylacrylamide)( PNIPAM) network and poly( acrylic acid)( PAA) network( PNIPAM /PAA IPN microgels) were synthesized by seed emulsion polymerization. The results obtained by dynamic laser light scattering( DLLS) show that the microgels have good pH /temperature dual sensitivities. The temperature sensitive component and the pH sensitive component inside the microgels have little interference with each other. The rheological properties of the concentrated PNIPAM /PAA IPN microgel dispersions as a function of temperature at pH 4. 0 or 7. 0 were investigated by viscometer,and the results displayed that only at pH 7. 0 the dispersions presented thermoreversible thickening behavior. Then the PNIPAM /PAA fibers were prepared by self-assembly of the PNIPAM /PAA IPN microgels in the ice-crystal templates formed by unidirectional liquid nitrogen freezing method. Field emission scanning electron microscopy( FESEM) images indicate that the PNIPAM /PAA fibers are rounded,randomly orientated and interweaved.  相似文献   

14.
通过分步光聚合法制备聚2-乙烯基吡啶/聚苯乙烯(P(2-VP)/PS)IPN膜,采用苯环磺化和吡啶环季胺化分别引入正负双电荷,经过电镜、动态力学性能及交换容量的测试表明,所合成的双电荷IPN膜是双相连续并对Na~+及Cl~-有一定交换容量。  相似文献   

15.
采用乳液聚合合成的聚丙烯酸丁酯 (PBA) /聚甲基丙烯酸甲酯 (PMMA)乳胶型互穿网络聚合物 (LIPN) ,其乳胶粒子分布均匀属于核 /壳结构 ,其乳胶膜具有较好的强度和柔韧性 .运用IR、TEM对其结构进行了表征 .  相似文献   

16.
推导了双层介质微带传输线的电场积分方程,用电场积分方程法计算了单层、双层无耗或有耗介质以及MIS结构的微带线的复传输常数,并与其他方法、实验结果作了比较。  相似文献   

17.
在钽钪酸铅中加入钛酸铅,形成具有复合钙钛矿结构的钽钪酸铅 钛酸铅固溶体(1-x)Pb(Sc1/2Ta1/2)O3 xPbTiO3(简称PSTT(x)),可有效提高钽钪酸铅材料体系的居里点、降低其制备温度,从而扩大PST体系的应用范围.用常规氧化物合成电子陶瓷方法制备了钽钪酸铅 钛酸铅弛豫铁电陶瓷,采用XRD,SEM等分析技术,研究了PSTT(x)陶瓷的结晶特性和微观形貌,测试了PSTT(x)陶瓷的介电性能.实验结果表明,利用常规氧化物合成电子陶瓷方法可以合成钙钛矿结构的PSTT(x)陶瓷,其钙钛矿相的含量可达到90%以上,最高达100%.SEM分析表明,PSTT(x)陶瓷的晶粒饱满、晶界清晰.PSTT(x)陶瓷的热滞温度随x的不同,大致在6~12℃之间变化;PSTT(x)陶瓷的居里常数C 为3.7~8.3×106K2.  相似文献   

18.
从光学原理出发,分析了空间波法测介质板介电常数时的表面反射问题,指出它对测量结果的影响与介质材料的特点及不同的测量方法有关,并结合几种低耗介质材料的测量结果,对上述分析进行了实验验证,最后还对影响测量的准确度与重复性的几个具体问题进行了讨论。  相似文献   

19.
利用L-B单分子功能膜的绝缘性制作MIS器件.通过对它的结构和电容-电压(C-U)特性曲线的研究,发现L-B膜可以改善MOS器件的性能和消除MOS器件的“异常”C-U特性现象,利用C-U特性曲线可以检测L-B膜成膜质量,利用零偏压时的电容值可以计算各成膜材料的介电常数.  相似文献   

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